【技术实现步骤摘要】
自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法与装置
本专利技术涉及自适应光学高分辨率成像领域，特别涉及一种自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法与装置。
技术介绍
为了更加清楚地观察眼底视网膜，自适应光学技术被引入视网膜光学成像领域，利用自适应光学测量眼睛光学系统像差并加以校正，可以实现对眼底视网膜的高分辨率成像，能够清楚地分辨出微米级的毛细血管、视细胞等组织。然而，自适应光学技术的像差测量与校正只能对视场中心附近一个角度范围内有效，该角度范围被定义为自适应光学校正范围受限的“等晕区”，等晕区内的像差可以经自适应光学完全校正，超过等晕区的非等晕像差只能被自适应光学部分校正。当自适应光学应用于眼底视网膜成像时，眼睛的等晕区通常认为不超过2°视场角，目前几乎所有自适应光学视网膜高分辨率成像系统的成像视场都小于2°，这仅相当于视网膜上很小的区域。事实上，视网膜约100°范围内都分布着与视觉功能密切相关的各种微细组织，要完成对更大范围或整个视网膜高分辨率成像，目前广泛采用多次成像通过图像拼接获取大视场图像，但是依赖受试...
【技术保护点】
1.一种自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法，其特征在于，该方法包括：在自适应光学线光束扫描成像系统中，对线光束扫描方向上的非等晕区像差进行分时校正以及对线光束方向上的非等晕区像差进行分区域校正。/n
【技术特征摘要】
1.一种自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法，其特征在于，该方法包括：在自适应光学线光束扫描成像系统中，对线光束扫描方向上的非等晕区像差进行分时校正以及对线光束方向上的非等晕区像差进行分区域校正。
2.根据权利要求1所述的自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法，其特征在于，对线光束扫描方向上的非等晕区像差进行分时校正的方法具体包括以下步骤：
步骤S1：根据扫描时间，在扫描方向上将非等晕区成像区域依次分为多个子成像区域，包括子成像区域1、子成像区域2、……、子成像区域N，子成像区域在扫描方向上的视场大小不超过2°；
步骤S2：每个子成像区域的像差依次经波前传感器测量，并依次反馈控制波前校正器，依次完成对每个子成像区域像差的闭环校正；
其中，每个子成像区域中，在线光束方向的±1°内的中心区域在扫描方向和线光束方向均满足等晕区原则，该中心区域像差得到了完全校正。
3.根据权利要求2所述的自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法，其特征在于，多个子成像区域可以是均匀等分，也可以是非均匀分割；N为正整数。
4.根据权利要求3所述的自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法，其特征在于，每个子成像区域在扫描方向上的视场为2°。
5.根据权利要求2所述的自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法，其特征在于，对线光束方向上的非等晕区像差进行分区域校正的方法具体包括以下步骤：
步骤T1：将每个子成像区域沿线光束方向上在所述中心区域的两侧分成2个图像校正区域：第一像校正区域、第二图像校正区域；
第一图像校正区域在线光束方向上的区域范围为-1°至-M°，第二图像校正区域在线光束方向的区域范围为1°至M°；
步骤T2：由波前传感器测量的每个子成像区域的波前像差换算得到每个子成像区域的点扩散函数：PSF，将每个子成像区域的PSF作为每个子成像区域对应的两个图像校正区域的PSF初始值与约束条件，然后通过维纳滤波分别完成两个图像校正区域的非等晕区像差解卷积校正；
步骤T3：当完成所有图像校正区域的非等晕区像差解卷积校正后，通过图像拼接，即可得到整个视场非等晕像差完全校正后的成像图像。
6.根据权利要求5所述的自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法，其特征在于，其中，M为正正整数，且M不超过3。
7.根据权利要求5所述的自适应光学线光束扫描成像的非等晕像差校正方法，其特征在于，所述步骤T2具体为：
T2-1：由波前传感器测量的每个子成像区域波前像差为Wi,j(ξ,η),≤1i≤M≤,j1≤N，计算得到每个子成像区域的点扩散函数PSF：hi,j(x,y),1≤i≤M,1≤j≤N，其中，
式中Pi,j(ξ,η)为波前传感器的子透镜光瞳函数，f为子透镜焦距，k为波数常数；
T2-2：将每个子成像区域的...
【专利技术属性】
技术研发人员：何益，陈一巍，陈浩，高峰，邢利娜，孔文，史国华，
申请(专利权)人：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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