测试固态硬盘支持D3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种测试固态硬盘支持D3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括以下步骤：禁用待测试设备的自动电源切换功能，以使待测试设备的固态硬盘保持正常供电状态；发送电源状态切换命令到待测试设备，控制固态硬盘进入D3低功耗状态；获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态。本发明专利技术通过测试主机禁用待测试设备的自动电源切换功能，并发送电源状态切换命令到待测试设备，控制固态硬盘进入D3低功耗状态，最后获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态，整个测试过程无需接入专门的测试设备和仪表，提高测试效率，并降低测试时间。

【技术实现步骤摘要】
测试固态硬盘支持D3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质
本专利技术涉及固态硬盘测试领域，更具体地说是指一种测试固态硬盘支持D3特性的方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
SSD(SolidStateDisk或SolidStateDrive)，俗称固态硬盘，固态硬盘是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘。固态硬盘一般作为数据存储硬件应用于电脑设备/笔记本中。微软公司要求连接到PCIe总线的设备必须支持D3低功耗特性，旨在提升笔记本用户在使用固态硬盘过程中，提高笔记本设备的低能耗体验和快速响应能力。现有方案采用，低功耗状态PCIe总线分析法，具体包括以下步骤：把设备连接到总线分析仪；运用专用的软件进行trace抓取和分析；获取D3状态下的行为trace。该总线分析法需要专业的仪表设备，且分析过程较慢。公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本专利技术的总体
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试固态硬盘支持D3特性的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n禁用待测试设备的自动电源切换功能，以使待测试设备的固态硬盘保持正常供电状态；/n发送电源状态切换命令到待测试设备，控制固态硬盘进入D3低功耗状态；/n获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试固态硬盘支持D3特性的方法，其特征在于，包括以下步骤：
禁用待测试设备的自动电源切换功能，以使待测试设备的固态硬盘保持正常供电状态；
发送电源状态切换命令到待测试设备，控制固态硬盘进入D3低功耗状态；
获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态。


2.根据权利要求1所述的测试固态硬盘支持D3特性的方法，其特征在于，所述禁用待测试设备的自动电源切换功能，以使待测试设备的固态硬盘保持正常供电状态的步骤之前，包括；
将装有固态硬盘的待测试设备连接到支持D3低功耗状态切换的测试主机。


3.根据权利要求1所述的测试固态硬盘支持D3特性的方法，其特征在于，所述获取固态硬盘返回的电源状态值，并根据所述电源状态值确定固态硬盘当前的电源状态的步骤，包括；
获取固态硬盘输出的调试信息；
解析调试信息，以得到调试信息的电源状态值；
根据所述电源状态值判断固态硬盘是否进入D3低功耗状态；
若电源状态值为“D3–SkipnormalPS4”，则判定固态硬盘成功进入D3低功耗状态；
若电源状态值为“DxtoD0(ISR)”，则判定固态硬盘未成功进入D3低功耗状态。


4.根据权利要求3所述的测试固态硬盘支持D3特性的方法，其特征在于，所述判定固态硬盘成功进入D3低功耗状态的步骤之后，包括；
控制固态硬盘保持D3低功耗状态指定时间后，通过读数据命令唤醒固态硬盘进入正常工作状态。


5.一种测试固态硬盘支持D3特性的装置，其特征在于，包括：
功能禁用单元，用于禁用待测试设备的自动电源切换功能，以使待测试设备的固态硬盘保持正常供电状态；
状态切换单元，用于发送电源状态切换命令到待测试设备...

【专利技术属性】
技术研发人员：许刘锐，贾宗铭，石骁，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44