光测距装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光测距装置(10)，具备：光源(20)，其向对象物照射第一脉冲宽度的光；受光单元(31)，其输出宽度为第一脉冲宽度以上的第二脉冲宽度的脉冲信号，该脉冲信号表示射入了从对象物反射的光这一情形；直方图生成部(50)，其按预先决定的每一时间间隔，记录与从受光单元输出的脉冲信号的数量对应的频数而生成直方图；峰值检测部(60)，其根据直方图来检测峰值形状的结束点；以及距离计算部(70)，其使用从与峰值形状的结束点对应的时刻减去相当于第二脉冲宽度的时间后的时刻来计算到对象物为止的距离。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光测距装置相关申请的交叉引用本申请主张于2018年4月4日申请的日本申请号2018－72108的优先权，并在此引用其全部内容。
本公开涉及光测距装置。
技术介绍
专利文献1所记载的光测距装置通过在加法器将根据从对象物的反射光的射入而从SPAD(单光子雪崩二极管)阵列输出的脉冲信号相加，并按预先决定的每一时间间隔记录该加法值来生成直方图。然后，根据该直方图检测频数的最大值亦即峰值，并使用该峰值的产生时刻来计算到对象物为止的距离。专利文献1：日本特开2016－176750号公报；专利文献2：日本专利第5644294号公报。本申请的专利技术人们为了提高光测距装置的测定精度而进行了鋭意研究，结果得到了在直方图上出现的峰值的产生时刻根据光的射入强度而变动这样的认识。基于该认识，本申请的专利技术人们发现了若使用峰值的产生时刻来计算到对象物为止的距离，则随着光的射入强度的变动，距离的计算结果也变动，会有测定精度降低这样的课题。
技术实现思路
本公开能够作为以下的方式实现。根据本公开的一方式，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光测距装置，其中，/n该光测距装置(10)具备：/n光源(20)，其向对象物照射第一脉冲宽度的光；/n受光单元(31)，其输出宽度为上述第一脉冲宽度以上的第二脉冲宽度的脉冲信号，其中，该第二脉冲宽度的脉冲信号是表示射入了从上述对象物反射的光这一情形的脉冲信号；/n直方图生成部(50)，其按预先决定的每一时间间隔，记录与从上述受光单元输出的脉冲信号的数量对应的频数而生成直方图；/n峰值检测部(60)，其根据上述直方图检测峰值形状的结束点；以及/n距离计算部(70)，其使用从与上述峰值形状的结束点对应的时刻减去相当于上述第二脉冲宽度的时间后的时刻，来计算到上述对象物为止的距离。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180404 JP 2018-0721081.一种光测距装置，其中，
该光测距装置(10)具备：
光源(20)，其向对象物照射第一脉冲宽度的光；
受光单元(31)，其输出宽度为上述第一脉冲宽度以上的第二脉冲宽度的脉冲信号，其中，该第二脉冲宽度的脉冲信号是表示射入了从上述对象物反射的光这一情形的脉冲信号；
直方图生成部(50)，其按预先决定的每一时间间隔，记录与从上述受光单元输出的脉冲信号的数量对应的频数而生成直方图；
峰值检测部(60)，其根据上述直方图检测峰值形状的结束点；以及
距离计算部(70)，其使用从与上述峰值形状的结束点对应的时刻减去相当于上述第二脉冲宽度的时间后的时刻，来计算到上述对象物为止的距离。


2.根据权利要求1所述的光测距装置，其中，
上述光测距装置具备多个上述受光单元，
上述光测距装置具备加法部(40)，上述加法部将从多个上述受光单元大致同时输出的上述脉冲信号的数量相加来求出加法值，
上述直方图生成部记录上述加法值作为上述频数并生成上述直方图。


3.根据权利要求1或者权利要求2所述的光测距装置，其中，
上述峰值检测部能够根据上述直方图检测出多个峰值形状，
上述距离计算部使用结...

【专利技术属性】
技术研发人员：立野善英，高井勇，
申请(专利权)人：株式会社电装，
类型：发明
国别省市：日本;JP