一种分立式分光计及其实验调节方法技术

技术编号:26344679 阅读:32 留言:0更新日期:2020-11-13 21:01
本发明专利技术公开了一种分立式分光计及其实验调节方法,它包括导轨、载物平台、平行光凸透镜、成像透镜和观察屏。载物平台一侧的导轨上设有平行光凸透镜,平行光凸透镜的前焦面上设有狭缝,平行光透镜和狭缝用于产生平行光。载物平台另一侧的导轨上设有成像凸透镜,成像透镜后焦面处设有观察屏,观察屏中心设有一通光小孔,通光孔上方和下方各刻有一个十字叉丝,以便于分光计的调节。成像透镜与观察屏用于平行光会聚,成清晰像。本发明专利技术采用观察屏成像,使实验结果清晰成像在观察屏中心,扩大了观察的视场,利于观察结果,减轻了用眼疲劳。分立式分光计利用导轨和可移动滑块代替了原有分光计的镜筒,利于更换原件。

A separate spectrometer and its experimental adjustment method

【技术实现步骤摘要】
一种分立式分光计及其实验调节方法
本专利技术属于光学实验领域,具体涉及一种分立式分光计及其实验方法。
技术介绍
分光计是一种重要的光学仪器,是精密的测角仪,最小分度值可达1′。分光计的基本光学结构又是许多光学仪器的基础(如棱镜光谱仪、光栅光谱仪、分光光度计、单色仪),在物理实验中既能培养学生的基本实验技能,又能培养学生应用理论知识解决实际问题的能力,因此它也是大学物理实验中必做的实验。例如测量三棱镜的顶角、最小偏向角、棱镜玻璃的折射率等一系列实验数据。在大学物理实验所涉及的众多实验仪器中,分光计的调节与使用是最不容易被学生掌握的。由于分光计装置结构较复杂,在使用前需要对分光计进行复杂的调整操作,其难点主要在于:使光线通过平行光管射出;望远镜调焦至无穷远,即平行;望远镜和平行光管共轴,且均与分光计中心轴垂直等。并且在观察有关现象和测量角度时,为获得正确的测量结果,须保证让分光计的光学系统(准直管和望远镜)要适合平行光。即要求望远镜光轴与分光计的主轴垂直,以保证观察面是一个平面。部分学生往往不能在有限的时间内完成调节与测量,因此分光计的调节与使用成为了大学物理实验课教学的难点。另外由于封闭的结构,使学生不能很快理解分光计工作原理,导致学生调节速度很慢,耽误实验进度,同时目镜的镜筒观察时视野很小,长时间观察会造成用眼疲劳。
技术实现思路
本专利技术的目的是改进现有分光计,使分光计的结构更简单,操作更容易,原理更明显易懂以及利用分光计进行更多光学实验。为了解决上述问题,本专利技术采取以下技术方案:本专利技术包括导轨、载物平台、平行光凸透镜、成像透镜和观察屏。载物平台一侧的导轨上设有平行光凸透镜,平行光凸透镜的前焦面上设有狭缝,平行光透镜和狭缝用于产生平行光。载物平台另一侧的导轨上设有成像凸透镜,成像透镜后焦面处设有观察屏,观察屏中心设有一通光小孔,通光孔上方和下方各刻有一个十字叉丝,其中下方的十字叉丝可透光,以便于分光计的调节。成像透镜与观察屏用于平行光会聚,成清晰像。进一步说,分立式分光计所使用的光源为谱线包括589.0nm、589.6nm的钠光灯或谱线包括365.0nm、404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm的汞灯光源。进一步说,载物平台一侧的导轨位置固定,载物平台另一侧的导轨以载物平台为中心可以自由转动。进一步说,所述观察屏的通光小孔设置于观察屏的中心位置,通光小孔设置为圆形结构,通光小孔直径范围为0.1mm-2mm。进一步说,所述狭缝所在的屏面规格尺度应与观察屏屏面规格尺度相对应,测量时,所述狭缝结构为竖直矩形,且位于所在屏面中心位置,狭缝中心与通光小孔中心对应,狭缝宽度范围为0.1mm-1mm。一种分立式分光计实验调节方法,具体是:开启电源,启动半导体激光器,在狭缝与载物平台之间放置平行光凸透镜,调节半导体激光器与平行光凸透镜中心到设定水平标高,使激光束穿过所述观察屏的通光孔后,垂直入射的平行光凸透镜中心,平行光凸透镜前后表面会将光束反射回通光孔周围,并在观察屏上形成两个光斑。随后调节平行光凸透镜高低与左右位置,使两光斑在观察屏上重合,并形成干涉图案,即同心圆环,调整平行光凸透镜的角度,使同心圆环中心与通光孔重合,实现平行光凸透镜光轴与观察屏小孔中心同轴等高。调节半导体激光器,使其照亮观察屏上可透光的十字叉丝,并在载物平台上放置平面镜,调节平面镜法线方向垂直成像透镜,并调节观察屏前后位置,使平面镜反射回观察屏上的十字叉丝像清晰。调节载物平台水平,使十字像与十字叉丝完全重合后,再将平面镜旋转180°,再次调节载物台水平,使十字像与十字叉丝完全重合,关闭半导体激光器,完成分立式分光计实验调节操作。开启光源,移动狭缝前后位置,并调节狭缝到合适宽度,使观察屏上干涉条纹清晰后,即可开始分光计测量实验。开启光源,移动狭缝前后位置,使观察屏上狭缝像清晰,并调节狭缝到合适宽度;随后调节狭缝高度,使狭缝像的中心与观察屏通光孔同轴等高;即可开始分光计测量实验。本专利技术的有益效果是:分立式分光计使用时可以直接观察光路,工作原理清晰,易于理解。另外原有分光计观察时需要通过目镜镜筒观察,视场狭小,长时间观察会造成用眼疲劳,分立式分光计采用观察屏成像,使实验结果清晰成像在观察屏中心,扩大了观察的视场,利于观察结果,减轻了用眼疲劳。分立式分光计利用导轨和可移动滑块代替了原有分光计的镜筒,利于更换原件,可以实现其他光学实验,例如将元件更换为激光光源,起偏器,检偏器,光电探测器,可以实现在分立式分光计上拓展光的偏振实验。另外本专利技术方法操作简洁,图像清晰,显著拓宽视野,易于观察,大大缩短分光计实验调整时间。该分立式分光计结构平台及方法可还用于凸透镜焦距测量、光强分布测量、光的偏振测量等实验开展,在物理教学实验中能够广泛应用。附图说明图1是分立式分光计光路系统;图2是分立式分光计主体平台;图3是狭缝结构;图4是观察屏结构。具体实施方式下面结合具体实施方式对本专利技术进行详细的说明。本专利技术将分光计的平行光管和目镜用导轨、可移动滑块支架以及透镜代替,并用观察屏进行成像观察。所述导轨分别位于载物平台两端,光源方向导轨固定,不能转动,像侧导轨可绕载物平台自由转动。按照光轴方向,狭缝位于平行光凸透镜前方,并处于平行光凸透镜的前焦点处,用于产生平行光,在载物平台正后方为成像凸透镜,用于平行光会聚,观察屏位于成像凸透镜后焦平面处,用于观察成像结果。实施例:如图1和图2所示,本专利技术包括光源、导轨、可移动滑块支架、狭缝、载物平台、平行光凸透镜、成像透镜和观察屏。分立式分光计使用前应调节各元件中心位于同一水平高度,导轨1物侧设有平行光凸透镜3,平行光凸透镜3的前焦面上设有狭缝2,见图3,平行光透镜和狭缝用于产生平行光。载物平台位于平行光透镜正后方,载物平台后方设有成像凸透镜5,成像透镜5后焦面处设有观察屏,观察屏中心设有一通光小孔,通光孔上方刻有一个十字叉丝,下方刻有一个可透光的十字叉丝,见图4,以便于分光计的调节。成像透镜与观察屏用于平行光会聚,成清晰像。本专利技术利用平行光透镜和狭缝产生平行光,用以代替传统分光计的平行光管。利用成像透镜和观察屏进行清晰成像和现象观察,用以代替传统分光计的目镜。本专利技术中的狭缝、平行光凸透镜、成像透镜和观察屏均通过可移动滑块支座上与导轨滑动连接,可移动滑块支座上的这些的元件可替换,用以实现其他实验,比如图3所示。分立式分光计所使用的光源为钠光灯,谱线包括589.0nm、589.6nm;汞灯光源,谱线包括365.0nm、404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm。本专利技术中的物方导轨位置固定,像方导轨以载物平台为中心可以自由转动。本专利技术实验调节方法包括以下步骤:开启电源,启动半导体激光器7,在狭缝与载物平台之间放置平行光凸透镜,调节半导体激光器与平行光凸透镜中心到设定水平标高,使激光束本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分立式分光计,其特征在于,包括导轨、载物平台、平行光凸透镜、成像透镜和观察屏;/n载物平台一侧的导轨上设有平行光凸透镜,平行光凸透镜的前焦面上设有狭缝,平行光透镜和狭缝用于产生平行光;/n载物平台另一侧的导轨上设有成像凸透镜,成像透镜后焦面处设有观察屏,观察屏中心设有一通光孔,通光孔上方和下方各刻有一个十字叉丝,其中下方的十字叉丝可透光,以便于分光计的调节;成像透镜与观察屏用于平行光会聚,成清晰像。/n

【技术特征摘要】
1.一种分立式分光计,其特征在于,包括导轨、载物平台、平行光凸透镜、成像透镜和观察屏;
载物平台一侧的导轨上设有平行光凸透镜,平行光凸透镜的前焦面上设有狭缝,平行光透镜和狭缝用于产生平行光;
载物平台另一侧的导轨上设有成像凸透镜,成像透镜后焦面处设有观察屏,观察屏中心设有一通光孔,通光孔上方和下方各刻有一个十字叉丝,其中下方的十字叉丝可透光,以便于分光计的调节;成像透镜与观察屏用于平行光会聚,成清晰像。


2.根据权利要求1所述的一种分立式分光计,其特征在于,分立式分光计所使用的光源为谱线包括589.0nm、589.6nm的钠光灯或谱线包括365.0nm、404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm的汞灯光源。


3.根据权利要求1所述的一种分立式分光计,其特征在于,载物平台一侧的导轨位置固定,载物平台另一侧的导轨以载物平台为中心可以自由转动。


4.根据权利要求1所述的一种分立式分光计,其特征在于,所述观察屏的通光小孔设置于观察屏的中心位置,通光小孔设置为圆形结构,通光小孔直径范围为0.1mm-2mm。


5.根据权利要求4所述的一种分立式分光计,其特征在于,所述狭缝所在的屏面规格尺度应与观察屏屏面规格尺度相对应,测量时,所述狭缝结构为竖直矩形,且位于所在屏面中心位置,狭缝中心与通光小孔中心...

【专利技术属性】
技术研发人员:王关晴崔凯科陈翔翔王路罗丹彭辉丽
申请(专利权)人:杭州电子科技大学
类型:发明
国别省市:浙江;33

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