液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备制造方法及图纸

本申请属于显示屏检测的技术领域，提供了一种液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备，该方法包括：获取待检测显示屏的液晶面板图像；所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格；获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息，根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距；根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列；计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距；若任一所述行间距大于预设标准间距，则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。本申请实施例解决液晶显示屏的缺陷检测精度低的问题。

【技术实现步骤摘要】
液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备
本专利技术涉及显示屏检测的
，尤其涉及一种液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备。
技术介绍
在现在信息高度发达的社会中，液晶显示屏大量存在于我们生活中。对液晶显示屏进行缺陷检测通常为检测液晶显示屏内的液晶晶格是否有缺失或暗点。现有技术中通常采用人工肉眼观察的方式对液晶显示屏进行检测。然而液晶的晶格有大小区分，大的液晶晶格人眼是能直接看到，但是小的液晶晶格人眼是很难观察到，尤其是在一块小液晶屏上存在几千上万个液晶晶格，若存在几个液晶晶格缺失，则较难通过人眼检测出来。由此可见，通过人工检测的方式对液晶显示屏检测，存在检测精度低以及人力成本大等弊端。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种液晶显示屏的检测方法、装置及设备，以解决液晶显示屏的缺陷检测精度低的问题。本专利技术实施例的第一方面提供了一种液晶显示屏的检测方法，包括：获取待检测显示屏的液晶面板图像；所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格；获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息，根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距；根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列；计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距；若任一所述行间距大于预设标准间距，则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。在一个实施示例中，所述获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息，根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距，包括：从所述液晶面板图像中横向截取预设宽度的子图像；所述子图像的长度等于所述液晶面板图像的长度；确定所述子图像包含的所述液晶晶格，计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距；根据所有所述第一间距计算得到平均间距，确定所述平均间距为所述列间距。在一个实施示例中，所述确定所述子图像包含的所述液晶晶格，计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距，包括：通过局部阈值法对所述子图像进行二值化处理，得到二值化图像；确定所述二值化图像中等于预设位值的像素点为所述子图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点；根据所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的像素点在所述子图像的位置信息，得到所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的第一坐标位置；根据所述第一坐标位置计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距。在一个实施示例中，所述根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列，包括：根据所述列间距将所述液晶面板图像从竖向均分为若干液晶晶格列图像；每一所述液晶晶格列图像对应一列所述液晶晶格列。在一个实施示例中，所述计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距，包括：通过局部阈值法对各个所述液晶晶格列图像进行二值化处理；确定各个二值化后的所述液晶晶格列图像中等于所述预设位值的像素点为各个所述液晶晶格列图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点；根据各个所述液晶晶格列图像中包含的各个所述液晶晶格对应的像素点在所述液晶面板图像的位置信息，得到各个所述液晶晶格列图像中包含的各个所述液晶晶格对应的第二坐标位置；根据所述第二坐标位置计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距。在一个实施示例中，所述若任一所述行间距大于预设标准间距，则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果，包括：若任一所述行间距大于预设标准间距，则根据所述行间距对应的两个所述液晶晶格的所述第二坐标位置计算缺失晶格的坐标数据；根据所有所述坐标数据，在所述液晶面板图像中标识出异常像素点；所述异常像素点为所述缺失的晶格所在像素点或所述暗点所在的像素点；输出包含标识有异常像素点的所述液晶面板图像的所述检测结果。在一个实施示例中，在获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息，根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距之前，还包括：对所述液晶面板图像进行均值滤波处理，得到预处理图像；从所述预处理图像中任意位置处截取预设尺寸的样本图像，对所述样本图像进行膨胀处理；获取膨胀处理后的所述样本图像在竖直方向上的实际角度，根据液晶晶格的预设角度和所述实际角度计算角度偏差；根据所述角度偏差对所述液晶面板图像进行校正。本专利技术实施例的第二方面提供了一种液晶显示屏的检测装置，包括：液晶面板图像获取模块，用于获取待检测显示屏的液晶面板图像；所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格；列间距计算模块，用于获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息，根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距；均分模块，用于根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列；行间距计算模块，用于计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距；检测结果输出模块，用于若任一所述行间距大于预设标准间距，则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。本专利技术实施例的第三方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面所述方法的步骤。本专利技术实施例的第四方面提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面的所述液晶显示屏的检测方法的步骤。本专利技术实施例提供的一种液晶显示屏的检测方法、装置及终端设备，获取待检测显示屏的液晶面板图像；所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格；获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息，根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距；从而根据液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息计算得到液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距；根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列；计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距；若任一所述行间距大于预设标准间距，则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。将液晶面板图像中每列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距与液晶晶格的预设标准间距进行对比；若任一行间距大于预设标准间距，则说明该行间距对应的两个液晶晶格之间的有液晶晶格缺失，从而输出晶格缺失或具有暗点的检测结果，实现对待检测显示屏的缺陷进行检测，提高检测精度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种液晶显示屏的检测方法，其特征在于，包括：/n获取待检测显示屏的液晶面板图像；所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格；/n获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息，根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距；/n根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列；/n计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距；/n若任一所述行间距大于预设标准间距，则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示屏的检测方法，其特征在于，包括：
获取待检测显示屏的液晶面板图像；所述液晶面板图像包括矩阵排列的若干液晶晶格；
获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息，根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距；
根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列；
计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距；
若任一所述行间距大于预设标准间距，则输出晶格缺失或具有暗点的检测结果。


2.如权利要求1所述的液晶显示屏的检测方法，其特征在于，所述获取所述液晶面板图像中横向排列的各个所述液晶晶格的位置信息，根据所述位置信息得到所述液晶面板图像中纵向排列的各列液晶晶格列之间的列间距，包括：
从所述液晶面板图像中横向截取预设宽度的子图像；所述子图像的长度等于所述液晶面板图像的长度；
确定所述子图像包含的所述液晶晶格，计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距；
根据所有所述第一间距计算得到平均间距，确定所述平均间距为所述列间距。


3.如权利要求2所述的液晶显示屏的检测方法，其特征在于，所述确定所述子图像包含的所述液晶晶格，计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距，包括：
通过局部阈值法对所述子图像进行二值化处理，得到二值化图像；
确定所述二值化图像中等于预设位值的像素点为所述子图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点；
根据所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的像素点在所述子图像的位置信息，得到所述子图像中包含的各个所述液晶晶格对应的第一坐标位置；
根据所述第一坐标位置计算所述子图像中每横向相邻的两个所述液晶晶格之间的第一间距。


4.如权利要求1所述的液晶显示屏的检测方法，其特征在于，所述根据所述列间距将所述液晶面板图像中包含的所述若干液晶晶格均分为若干所述液晶晶格列，包括：
根据所述列间距将所述液晶面板图像从竖向均分为若干液晶晶格列图像；每一所述液晶晶格列图像对应一列所述液晶晶格列。


5.如权利要求4所述的液晶显示屏的检测方法，其特征在于，所述计算各列所述液晶晶格列中每相邻的两个所述液晶晶格之间的行间距，包括：
通过局部阈值法对各个所述液晶晶格列图像进行二值化处理；
确定各个二值化后的所述液晶晶格列图像中等于所述预设位值的像素点为各个所述液晶晶格列图像中包含的所述液晶晶格对应的像素点；
根据各个所述液晶晶格列图像中包含的各个所述液晶晶格对...

【专利技术属性】
技术研发人员：翟刚超，
申请(专利权)人：深圳市科视创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44