一种光学信息检测系统技术方案

本申请适用于光学技术领域，提供了一种光学信息检测系统，包括投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；投影组件用于将投影图案投射至投影屏；第一成像模组用于采集投射至投影屏的第一图像，光学信息检测装置，用于对第一图像进行特征提取得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，计算第一特征信息和第二特征信息之间的第一映射关系；将第一图形信息映射至目标全场投影图案，得到目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据第二图形信息，计算目标光学信息。采用上述系统对光学信息进行检测，在投影组件投影的散斑图案中，无论零级散斑图案是否具有全局唯一性，都可以准确的对光学信息进行检测。

Optical information system

【技术实现步骤摘要】
一种光学信息检测系统
本申请属于光学
，尤其涉及一种光学信息检测系统。
技术介绍
基于结构光或飞行时间(Timeofflight,，TOF)技术的深度测量系统都包括发射端与接收端，在系统使用前需要对发射端与接收端的光学信息进行检测，例如，发射端中光学衍射元件与光源之间的相对旋转角度信息、发射端与接收端的光轴偏转角度信息等等。现有的光学信息的检测装置在进行光学信息检测时，利用灰度相似性进行图像特征计算，从而计算光学参数信息。在利用灰度相似性进行图像特征计算时，需要零级的投影图案具有全局唯一的特性。但是，当投影图案规则排列时，形成的零级的投影图案不具有唯一性，无法准确的在这种情况下计算光学信息。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种光学信息检测系统，可以解决当投影图案规则排列时，无法准确计算光学信息的问题。第一方面，本申请实施例提供了一种光学信息检测系统，包括：投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；所述投影组件用于将投影图案投射至所述投影屏；所述第一成像模组，用于采集投射至投影屏本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学信息检测系统，其特征在于，包括：投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；/n所述投影组件，用于将投影图案投射至所述投影屏；/n所述第一成像模组，用于采集投射至投影屏的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；/n所述光学信息检测装置，用于接收第一成像模组采集的所述第一图像并对所述第一图像进行特征提取以得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形...

【技术特征摘要】
1.一种光学信息检测系统，其特征在于，包括：投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置；
所述投影组件，用于将投影图案投射至所述投影屏；
所述第一成像模组，用于采集投射至投影屏的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；
所述光学信息检测装置，用于接收第一成像模组采集的所述第一图像并对所述第一图像进行特征提取以得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。


2.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述投影组件与所述第一成像模组分别设置于所述投影屏的两侧，或者所述投影组件与所述第一成像模组设置于所述投影屏的同侧。


3.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述第一成像模组的摄像头包括广角摄像头。


4.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述第一成像模组包括红外相机。


5.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述投影组件包括光源和衍射光学元件，所述衍射光学元件设于所述光源的出光路径上，所述衍射光学元件用于将所述光源产生的光投射至所述投影屏，以形成投影图案。


6.如权利要求5所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述光源包括边发射激光器、垂直腔面发射激光器VCSEL、VCSEL阵列或发光二极管。


7.如权利要求1所述的光学信息检测系统，其特征在于，所述光学信息检测系统，还包括：标定图案投影仪，第二成像模组；
所述标定图案投影仪，用于将标定图案投射至投影屏上；
所述第一成像模组，用于采集第一标定图案；
所述第二成像模组，还用于采集第二标...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨鹏，李文建，王兆民，
申请(专利权)人：深圳奥比中光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44