一种超声成像检测显示方法技术

本发明专利技术公开了一种超声成像检测显示方法。这种超声成像检测显示方法通过将一维线阵相控阵探头虚拟为二维阵列相控阵探头进行三维成像的过程，突破了原先单一的平面投影显示模式，实现了超声成像检测图像显示的革新，当检测存在多个缺陷分布的情况时，能够同时对这些缺陷进行3D成像重构，避免某些缺陷被其他缺陷的阻挡而无法全部显示出来，避免漏检。

【技术实现步骤摘要】
一种超声成像检测显示方法
本专利技术涉及超声无损检测
，特别涉及一种超声成像检测显示方法。
技术介绍
目前，超声成像是用超声波获得物体可见图像的方法。由于超声波可以穿透很多不透光的物体，所以利用超声波可以获得这些物体内部结构声学特性的信息，超声成像技术将这些信息变成人眼可见的图像。物体的超声成像可提供直观大量的信息，直接显示物体内部情况，且可靠性、复现性高，可以对缺陷进行定量动态监控。目前，无损检测领域常用的超声成像检测显示方法包括B型投影显示、C型投影显示和D型投影显示。B型投影显示为工件端面投影图显示，即主视图，图像中横坐标表示扫描的宽度，纵坐标表示扫描的深度；C型投影显示为工件平面投影图显示，即俯视图，图像中横坐标表示平行线扫查移动的距离，纵坐标表示扫描的宽度；D型投影显示为工件侧面投影图显示，即侧视图，图像中横坐标表示平行线扫查移动的距离，纵坐标表示深度。然而，上述B型投影显示、C型投影显示与D型投影显示均为平面投影显示，当检测存在多个缺陷分布的情况时，同时对这些缺陷进行投影显示，容易造成某些缺陷被其他缺陷的阻挡而无法全部显示出来本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种超声成像检测显示方法，其特征在于包括下述步骤：/n（1）采用一维线阵相控阵探头在工件上进行扫查，一维线阵相控阵探头包括沿X方向线性排列的n个阵元，n≥2，各个阵元的有效激发宽度沿Y方向延伸；/n（2）将每个阵元的振动虚拟为m个小阵元的振动的合成，m≥2，每个阵元虚拟为由m个沿Y方向排列的小阵元构成，步骤（1）中的一维线阵相控阵探头虚拟为n*m个小阵元构成的二维阵列相控阵探头；/n（3）数据采集：在一维线阵相控阵探头的n个阵元中，任一阵元激发实际超声波，所有n个阵元均接收回波信号，获得n条A扫波形数据，依次历遍n个阵元的发射，获得n*n条A扫波形数据；/n（4）数据扩展：按照步骤（2）的...

【技术特征摘要】
1.一种超声成像检测显示方法，其特征在于包括下述步骤：
（1）采用一维线阵相控阵探头在工件上进行扫查，一维线阵相控阵探头包括沿X方向线性排列的n个阵元，n≥2，各个阵元的有效激发宽度沿Y方向延伸；
（2）将每个阵元的振动虚拟为m个小阵元的振动的合成，m≥2，每个阵元虚拟为由m个沿Y方向排列的小阵元构成，步骤（1）中的一维线阵相控阵探头虚拟为n*m个小阵元构成的二维阵列相控阵探头；
（3）数据采集：在一维线阵相控阵探头的n个阵元中，任一阵元激发实际超声波，所有n个阵元均接收回波信号，获得n条A扫波形数据，依次历遍n个阵元的发射，获得n*n条A扫波形数据；
（4）数据扩展：按照步骤（2）的虚拟，在步骤（3）的数据采集中，任一阵元激发实际超声波是由m个小阵元发出的m个虚拟超声波合成，而接收回波的共有m*n个小阵元，则获得m*m*n条A扫波形数据；依次历遍n个阵元的发射，则获得m*m*n*n条A扫波形数据；
（5）图像重构显示：将步骤（4）中的m*m*n*n条A扫波形数据利用全聚焦成像算法进行3D成像重构并进行显示。


2.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：付汝龙，詹红庆，杨贵德，杜南开，林齐梅，林丹源，陈建华，陈振光，曾庆勋，
申请(专利权)人：广东汕头超声电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44