【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子测试
，特别是一种芯片逻辑功能的验证的系统，以及验证环境的创建方法及验证方法。
技术介绍
随着芯片设计规模的扩大，逻辑功能验证的工作量越来越大，因此如何提高逻辑验证的效率并保证其质量成为一个比较重要的问题。传统的验证方法是针对芯片模块的功能，由工程师手工设计生成该模块的验证系统进行验证。这样的方法费时费力，由于工程师能力的差别，产生的验证系统质量参差不齐，验证质量难以保证。而且，随着芯片规模的扩大，功能的日趋复杂，导致验证系统本身的复杂度也越来越大，生成验证系统本身也需要占用大量的时间，影响实际的执行测试用例的时间，也同样会对验证的质量产生不好的影响。另一方面，一种芯片从模块级验证到整芯片级验证会产生多个验证环境，而模块级验证与整芯片级验证息息相关。为保证模块及验证的边界条件与整芯片级的环境一致，需要在最后的整芯片级验证中，整合进模块级验证的环境。芯片内部含有多种模块，各个模块功能各有不同，手工产生的模块级验证环境由于工程师的不同在结构上也会有一些差别，这样对于最后的系统整合也会产生一些困难，导致花费更多的时间跟人力在验证环境的维护上，...
【技术保护点】
一种验证系统，用于对包括总线集合和时钟复位管脚的ＤＵＴ进行逻辑验证，包括测试激励驱动模块，用于产生测试激励数据，其特征在于，还包括：对应于总线集合的总线功能模型模块，用于实现测试激励数据到对应总线集合时序的转换后发送给芯片管脚驱动单元；芯片管脚驱动单元，用于获取总线集合的总线监视信号和时钟复位管脚的管脚信息，并利用转换后的测试激励数据驱动ＤＵＴ；验证采样时钟及复位模块，用于根据时钟复位管脚的管脚信息产生时钟采样信号和验证复位信号；对应于总线集合的总线协议监视模块，用于根据总线监视信号完成交互协议的检查，同时获取总线数据和对应总线集合的事件信号；芯片行为级功能检查模块，用于根...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘昕，
申请(专利权)人：北京天碁科技有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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