基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法，所述装置包括待测信号输入端、本振脉冲光源，待测信号输入端、本振脉冲光源均连接到3×3光耦合器，3×3光耦合器的输出分为三路，其中第一路输出经光电探测器一、模数转换器一连接到数字信号处理单元，第二路输出经光电探测器二、模数转换器二连接到数字信号处理单元，第三路输出经光电探测器三、模数转换器三连接到数字信号处理单元。本申请的基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法，具有高灵敏度、高保真度、高分辨率；简化了线性光采样的光学前端，降低了硬件开销；光电探测器不平衡度易补偿，简单可靠；可测量任意强度调制光信号，对本振脉冲光源的要求低。

【技术实现步骤摘要】
基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法
本专利技术涉及强度调制光信号眼图测量领域，特别是涉及基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法。
技术介绍
随着光纤通信系统的容量快速提升，高级调制格式应用受到广泛关注。多级幅度调制信号出现，特别是四电平脉冲幅度调制(PAM-4)信号有望成为未来超大容量光互连的优选调制格式。对于强度调制信号，精确测量眼图对分析光信号质量非常关键。传统电域上的信号眼图测量技术已经很成熟，但主要受限于硬件带宽。特别对于高速强度调制光信号，需要大带宽光电探测器(PD)和高速模数转换器(ADC)。例如使用实时采样示波器测量56GbaudPAM-4信号眼图时，需要一个40GHz以上带宽的光电探测器和相应的高速模数转换器，这对硬件产生了巨大的压力，测量成本很高。全光采样使用窄脉宽、低重复频率的光脉冲序列在光域上对待测光信号进行采样，只需窄带光电探测器和低速模数转换器即可实现高速信号准确采样，有效地突破了传统测量的电子瓶颈。测量强度调制信号眼图一般利用高非线性光纤和半导体放大器的非线性效应进行非线性光采样，但该技术由于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置，其特征在于，包括待测信号输入端(1)、本振脉冲光源(2)，所述待测信号输入端(1)、本振脉冲光源(2)均连接到3×3光耦合器(5)，所述3×3光耦合器(5)的输出分为三路，其中第一路输出经光电探测器一(6)、模数转换器一(9)连接到数字信号处理单元(100)，第二路输出经光电探测器二(7)、模数转换器二(10)连接到数字信号处理单元(100)，第三路输出经光电探测器三(8)、模数转换器三(11)连接到数字信号处理单元(100)。/n

【技术特征摘要】
1.基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置，其特征在于，包括待测信号输入端(1)、本振脉冲光源(2)，所述待测信号输入端(1)、本振脉冲光源(2)均连接到3×3光耦合器(5)，所述3×3光耦合器(5)的输出分为三路，其中第一路输出经光电探测器一(6)、模数转换器一(9)连接到数字信号处理单元(100)，第二路输出经光电探测器二(7)、模数转换器二(10)连接到数字信号处理单元(100)，第三路输出经光电探测器三(8)、模数转换器三(11)连接到数字信号处理单元(100)。


2.根据权利要求1所述的基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置，其特征在于，所述待测信号输入端(1)与3×3光耦合器(5)之间连接有偏振控制器一(3)，本振脉冲光源(2)与3×3光耦合器(5)之间连接有偏振控制器二(4)。


3.根据权利要求1-2任意一项所述的基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置，其特征在于，所述数字信号处理单元(100)包括依次连接设置的分量恢复子单元(101)、幅值补偿子单元(102)、峰值提取子单元(103)、眼图重建子单元(104)、眼图测量子单元(105)；
所述分量恢复子单元(101)用于恢复混合信号中同相分量和正交相分量；
所述幅值补偿子单元(102)用于消除本振脉冲光与待测待测强度调制光信号间的频偏和相偏的影响；
所述峰值提取子单元(103)用于提取与实际待测信号采样点相符的有效数值点。


4.根据权利要求1所述的基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置，其特征在于，所述3×3光耦合器(5)的功率分配比为1:1:1。


5.根据权利要求1所述的基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置，其特征在于，所述光电探测器一(6)、光电探测器二(7)、光电探测器三(8)均为单端光电探测器。


6.根据权利要求1所述的基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装...

【专利技术属性】
技术研发人员：付松年，何欢，黄秋元，马超，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42