【技术实现步骤摘要】
一种基于数据与模型联合驱动的陶瓷材料晶粒分割算法
本专利技术属于图像处理
,具体涉及一种基于数据与模型联合驱动的陶瓷材料晶粒分割算法。
技术介绍
陶瓷是一种多晶材料,研究人员通常利用扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscope,SEM)对陶瓷样品扫描成像,通过分析图像中晶粒的尺寸分布来估计陶瓷材料样品的物理属性。扫描电子显微镜的工作原理是通过高压将电子束打在样品表面,电子与样品表面材料相互作用产生电信号,对电信号接收处理后显示成像结果。陶瓷材料的SEM图像由材料区域(即晶粒)和晶粒间的空隙(即晶界)组成,由于陶瓷是一种绝缘材料,不具备导电的性质,在成像时容易被高压电击穿。为了避免此类情况,需要控制晶粒尺寸尽可能小,即同样大小的面积内存在更多的晶界,使高压电从晶界导出,保护陶瓷样本不被击穿。然而晶粒尺寸直接决定了陶瓷材料的性能,因此需要统计SEM图像中晶粒尺寸大小的分布情况,便于得到实验条件与晶粒尺寸之间的分布关系,进而间接构建实验条件与材料性能之间的对应关系。当前,SEM图像中的晶粒分析主要依靠 ...
【技术保护点】
1.一种基于数据与模型联合驱动的陶瓷材料晶粒分割算法,其特征在于,包括以下步骤:/n1)输入扫描电镜图像f,利用RCF网络输出对应的梯度图像g
【技术特征摘要】
1.一种基于数据与模型联合驱动的陶瓷材料晶粒分割算法,其特征在于,包括以下步骤:
1)输入扫描电镜图像f,利用RCF网络输出对应的梯度图像grcf;
2)利用结构边缘算法获得扫描电镜图像f对应的梯度图像g;
3)利用鲁棒分水岭变换对梯度图像g进行预分割,得到预分割结果f0;
4)利用基于形态学的轮廓优化方法对预分割结果f0进行优化,得到优化后结果f1;
5)利用分水岭变换对梯度图像grcf进行分割,得到结果frcf,根据结果frcf对优化后结果f1进行优化,得到最终结果f2;
6)根据最终结果f2,统计晶粒面积分布,并计算晶粒尺寸。
2.根据权利要求1所述的一种基于数据与模型联合驱动的陶瓷材料晶粒分割算法,其特征在于,所述步骤2)中设定图像灰度方差阈值η,计算图像灰度值方差var,若图像灰度值方差var小于等于图像灰度方差阈值η,则利用结构边缘算法输出对应的梯度图像g;若图像灰度值方差var大于图像灰度方差阈值η,则先对扫描电镜图像f进行预处理使图像灰度值均匀化,再利用结构边缘算法输出对应的梯度图像g。
3.根据权利要求2所述的一种基于数据与模型联合驱动的陶瓷材料晶粒分割算法,其特征在于,所述图像灰度方差阈值η=1.5×103。
4.根据权利要求2所述的一种基于数据与模型联合驱动的陶瓷材料晶粒分割算法,其特征在于,所述步骤2)中预处理采用多尺度Retinex算法,模型为:
Rn(x,y)=logIn(x,y)-log[Fn(x,y)*In(x,y)]
其中,RMSR是多尺度Retinex算法输出的反射图像;N=3,n取1、2、3,分别表示低、中、高三个尺度;wn表示权重系数,w1=w2=w3=1/3;Rn(x,y)表示多尺度的反射图像,In(x,y)表示实验图像,其中,x表示横坐标,y表示纵坐标;Fn(x,y)是高斯环绕函数,其中,K的取值满足∫∫Fn(x,y)dxdy=1;cn表示高斯环绕空间常数,其中,c...
【专利技术属性】
技术研发人员:雷涛,李云彤,加小红,周文政,袁启斌,王成兵,
申请(专利权)人:陕西科技大学,
类型:发明
国别省市:陕西;61
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