用于校准浅地层剖面仪垂直分辨力的地层剖面标准样品、声速即时测量系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于校准浅地层剖面仪垂直分辨力的地层剖面标准样品、声速即时测量系统及方法，该地层剖面标准样品主要包括水砂混合物样品、固体岩石样品和围栏，其中水砂混合物和固体岩石从上而下放置在围栏内，围栏材质为有机玻璃；本发明专利技术同时提供了一种配套地层剖面标准样品的声速即时测量系统，保证校准精度。本发明专利技术的有益效果为：通过对样品原料的选择、标准样品几何尺寸的溯源，为浅地层剖面仪纵向分辨能力的校准提供了稳定、精确的量化标准，可以为浅地层剖面探测技术的发展提供校准服务，提高相关技术的研究效率，促进行业发展，为我国海洋开发与海洋工程建设提供保障。

【技术实现步骤摘要】
用于校准浅地层剖面仪垂直分辨力的地层剖面标准样品、声速即时测量系统及方法
本专利技术涉及计量测试领域，具体属于声学(水声)领域，主要是一种用于校准浅地层剖面仪垂直分辨力的地层剖面标准样品、声速即时测量系统及方法。
技术介绍
本专利技术的申请是以浅地层剖面探测技术为背景。浅地层剖面探测是一种基于水声学原理的连续走航式探测水下浅部地层结构和构造的地球物理方法。浅地层剖面仪又称浅地层地震剖面仪，是在超宽频海底剖面仪基础上的改进，是利用声波探测浅地层剖面结构和构造的仪器设备。以声学剖面图形反映浅地层组织结构，具有很高的分辨率，能够经济高效地探测海底浅地层剖面结构和构造。浅地层剖面仪是在测深仪基础上发展起来的，只不过其发射频率更低，声波信号通过水体穿透床底后继续向底床更深层穿透，结合地质解释，可以探测到海底以下浅部地层的结构和构造情况。浅地层剖面探测在地层分辨率和地层穿透深度方面有较高的性能，并可以任意选择扫频信号组合，现场实时设计调整工作参量，可以在航道勘测中测量海底浮泥厚度，也可以勘测海上油田钻井平台固体岩石深度。目前浅地层剖本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于校准浅地层剖面仪垂直分辨力的地层剖面标准样品，其特征在于：该地层剖面标准样品主要包括水砂混合物样品(1)、固体岩石样品(2)和围栏(3)，其中水砂混合物(1)和固体岩石(2)从上而下放置在围栏(3)内，围栏(3)材质为有机玻璃，沙砾粒径范围要求为0.1mm～1mm。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于校准浅地层剖面仪垂直分辨力的地层剖面标准样品，其特征在于：该地层剖面标准样品主要包括水砂混合物样品(1)、固体岩石样品(2)和围栏(3)，其中水砂混合物(1)和固体岩石(2)从上而下放置在围栏(3)内，围栏(3)材质为有机玻璃，沙砾粒径范围要求为0.1mm～1mm。


2.根据权利要求1所述的用于校准浅地层剖面仪垂直分辨力的地层剖面标准样品，其特征在于：所述的地层剖面标准样品作为浅地层剖面仪垂直分辨力校准的量化标准，拥有完整的溯源路径。


3.一种配套地层剖面标准样品的声速即时测量系统，其特征在于：主要包括水砂混合物样品(1)、固体岩石样品(2)、水声换能器A(4)、示波器(5)、信号发生器(6)、水声换能器B(7)和功率放大器(8)，其中水砂混合物样品(1)放置在水槽中，两枚水声换能器A(4)放置于固体岩石样品(2)同一高度的两侧，水声换能器A(4)间距离为L；两枚水声换能器B(7)放置于水砂混合物样品(1)同一高度的两侧，水声换能器B(7)间距离为L；水声换能器A(4)和水声换能器B(7)一路分别连接功率放大器(8)、信号发生器(6)，另一路分别连接示波器(5)，信号发生器(6)产生的触发信号接入示波器(5)。


4.一种采用地层剖面标准样品的浅地层剖面仪垂直分辨力校准试验方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：
(1)、根据测试试验要...

【专利技术属性】
技术研发人员：佟昊阳，张军，赵涵，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七一五研究所，
类型：发明
国别省市：浙江;33