【技术实现步骤摘要】
一种可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿光谱仪
本专利技术属于光谱仪设备
，尤其涉及一种可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿光谱仪。
技术介绍
激光诱导击穿光谱是一种激光烧蚀光谱分析技术，激光聚焦在测试位点，当激光脉冲的能量密度大于击穿阈值时，即可产生等离子体。基于这种特殊的等离子体剥蚀技术，通常在原子发射光谱技术中分别独立的取样、原子化、激发三个步骤均可由脉冲激光激发源一次实现。等离子体能量衰退过程中产生连续的轫致辐射以及内部元素的离子发射线，通过光纤光谱仪采集光谱发射信号，分析谱图中元素对应的特征峰强度即可以用于样品的定性以及定量分析，光腔衰荡光谱技术是近几年迅速发展起来的一种吸收光谱检测技术。但是现有的光谱检测技术还存在着使用的过程中不方便进行维护清理工作，不方便在使用的过程中进行安装以及不方便在工作中进行通风降温的问题。因此，专利技术一种可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿光谱仪显得非常必要。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿...
【技术保护点】
1.一种可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿光谱仪，其特征在于，该可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿光谱仪，包括光腔管(1)，抬动杆(2)，第一衰荡反射镜(3)，光线聚焦反射镜(4)，第一螺纹孔(5)，可拆卸维护盖结构(6)，可多层过滤通风箱结构(7)，可套接顶紧固定座结构(8)，激光器(9)，第一探测管(10)，第一探测器(11)，第二探测管(12)和第二探测器(13)，所述的抬动杆(2)分别螺栓连接在光腔管(1)的上端左右两侧中间位置；所述的第一衰荡反射镜(3)螺栓连接在光腔管(1)的右侧内壁中间位置；所述的光线聚焦反射镜(4)螺栓连接在光腔管(1)的内部底端中间位置；所...
【技术特征摘要】
1.一种可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿光谱仪，其特征在于，该可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿光谱仪，包括光腔管(1)，抬动杆(2)，第一衰荡反射镜(3)，光线聚焦反射镜(4)，第一螺纹孔(5)，可拆卸维护盖结构(6)，可多层过滤通风箱结构(7)，可套接顶紧固定座结构(8)，激光器(9)，第一探测管(10)，第一探测器(11)，第二探测管(12)和第二探测器(13)，所述的抬动杆(2)分别螺栓连接在光腔管(1)的上端左右两侧中间位置；所述的第一衰荡反射镜(3)螺栓连接在光腔管(1)的右侧内壁中间位置；所述的光线聚焦反射镜(4)螺栓连接在光腔管(1)的内部底端中间位置；所述的第一螺纹孔(5)开设在光腔管(1)的下端左侧内部中间位置；所述的可拆卸维护盖结构(6)安装在光腔管(1)的左侧外壁；所述的可多层过滤通风箱结构(7)安装在第一螺纹孔(5)的下侧内部中间位置；所述的可套接顶紧固定座结构(8)分别安装在光腔管(1)的外壁左右两侧；所述的激光器(9)安装在可拆卸维护盖结构(6)的左侧；所述的第一探测管(10)螺纹连接在光腔管(1)的上端中间位置；所述的第一探测器(11)螺纹连接在第一探测管(10)的上侧内部中间位置；所述的第二探测管(12)螺纹连接在光腔管(1)的右侧上部；所述的第二探测器(13)螺纹连接在第二探测管(12)的右侧内部中间位置；所述的可拆卸维护盖结构(6)包括固定盖(61)，第二衰荡反射镜(62)，第二螺纹孔(63)，连接管(64)和凸透镜(65)，所述的第二衰荡反射镜(62)螺栓连接在固定盖(61)的右侧中间位置；所述的第二螺纹孔(63)开设在固定盖(61)的下端内部中间位置；所述的连接管(64)的右侧螺纹连接在第二螺纹孔(63)的左侧内部中间位置；所述的凸透镜(65)镶嵌在连接管(64)的内壁右侧。
2.如权利要求1所述的可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿光谱仪，其特征在于，所述的可多层过滤通风箱结构(7)包括通风箱(71)，螺纹管(72)，第一过滤网(73)，固定板(74)，降温扇组件(75)和第二过滤网(76)，所述的螺纹管(72)的下端螺纹连接在通风箱(71)的上侧内部中间位置；所述的第一过滤网(73)分别螺钉连接在螺纹管(72)的内壁中间位置；所述的固定板(74)分别螺栓连接在通风箱(71)的左右两侧内部中间位置；所述的降温扇组件(75)螺栓连接在固定板(74)之间；所述的第二过滤网(76)分别螺钉连接在通风箱(71)的内壁下部。
3.如权利要求1所述的可分辨碳同位素的增强型激光诱导击穿光谱仪，其特征在于，所述的可...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙嵘，郭伟，
申请(专利权)人：苏州星帆华镭光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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