一种分光光度计用多联可变光程样品座制造技术

本发明专利技术一种分光光度计用多联可变光程样品座，其包括样品架本体，该样品架本体上设有多个样品槽，该样品架本体的两侧的平行竖板的外侧分别设有若干定位凸块，该若干定位凸块对应于光程小于5cm的比色皿的检测光程，且该若干定位凸块可用于定位挡光装置以用于切换不同光程的比色皿；每个样品槽的一侧内壁上均设置有一弹片，且该弹片与所述样品架本体塑料一体成型；本申请的分光光度计兼容1‑10cm光程的比色皿，适用范围广泛且结构简单。

【技术实现步骤摘要】
一种分光光度计用多联可变光程样品座
本专利技术涉及光学检测
，更具体地说，是一种分光光度计用多联可变光程样品座。
技术介绍
分光光度计，又称光谱仪(spectrometer)，是将成分复杂的光，分解为光谱线的科学仪器。分光光度计主要由光源、单色器、样品室、检测器、信号处理器和显示与存储系统组成。现有的分光光度计一般都是固定光程，只适用于一种尺寸的比色皿。而当比色皿尺寸与分光光度计的设定光程不匹配时，分光光度计就无法使用。此外，现有的样品架中均是采用金属弹片，金属弹片的增加需要在样品成型后再另外采用工艺固定到样品架中，安装费时，且易生锈、腐蚀。
技术实现思路
由于现有技术存在上述缺陷，本申请提出一种分光光度计用多联可变光程样品座，其目的在于解决现有样品座光程不可变，无法使用多种比色皿的问题。为达到上述技术目的，本申请采用下述技术方案：一种分光光度计用多联可变光程样品座，其特征在于，包括样品架本体；所述样品架本体包括底板和一体成型于所述底板上的若干平行竖板，若干所述平行竖板之间形成若干样品槽本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分光光度计用多联可变光程样品座，其特征在于，包括样品架本体；/n所述样品架本体包括底板和一体成型于所述底板上的若干平行竖板，若干所述平行竖板之间形成若干样品槽；且在所述样品架本体两侧的平行竖板外侧形成有若干竖向设置的定位凸块，所述定位凸块的设立对应于光程小于5cm的比色皿的检测光程；/n每个所述样品槽的一侧内壁上均设置有一弹片，且所述弹片与所述样品架本体一体塑料成型。/n

【技术特征摘要】
1.一种分光光度计用多联可变光程样品座，其特征在于，包括样品架本体；
所述样品架本体包括底板和一体成型于所述底板上的若干平行竖板，若干所述平行竖板之间形成若干样品槽；且在所述样品架本体两侧的平行竖板外侧形成有若干竖向设置的定位凸块，所述定位凸块的设立对应于光程小于5cm的比色皿的检测光程；
每个所述样品槽的一侧内壁上均设置有一弹片，且所述弹片与所述样品架本体一体塑料成型。


2.根据权利要求1所述的分光光度计用多联可变光程样品座，其特征在于，所述样品座还包括一挡光装置，所述挡光装置插设于所述样品架本体上；且所述挡光装置包括定位挡片和挡光片；
所述定位挡片的两端均设置有挡边，且所述挡边的内侧下部均设置有一与所述定位凸块相适配的定位槽，所述定位挡片通过所述定位槽插入所述样品架两侧的定位凸块内；
挡光片，其对称的设于所述定位挡片的两侧，且同一侧上相邻的挡光片分别对应一所述样品槽。


3.根据权利要求2所述的分光光度计用多联可变光程样品座，其特征在于，所述挡光片的外侧边缘上设有防擦边缘。


4.根据权利要求1所述的分光光度计用多联可变...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩明山，谢玉生，华兴，向秋波，刘凤梅，
申请(专利权)人：上海元析仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31