【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试分析技术,尤其是涉及一种对机器的各个功能模块进行测试并集中显 示测试结果以快速定位^li器故障的系统及方法。
技术介绍
随着科技的进步,各种电子产品的功能越来越完善,电子产品所采用技术不断发展, 其中的各功能模块也不断更新换代。因此,产品开发人员需要根据市场需要和技术发展, 不断开发新的产品来满足市场需要。对开发人员来说,如果在产品的开发初期对故障快速的定位,则可以缩短产品的开发 周期,而在产品维护阶段如果能够快速定位和解决产品的故障问题,则可以大大提高维护 人员的工作效率。我们经常可以看到很多硬件工程师在产品的开发前期很难快速对产品的 故障进行定位,因为硬件工程师判断问题的根据来源于故障表现的现象,4艮难对可能由产品中各个局部的功能模块的硬件或软件的故障进行定位;而在售后服务阶段,当产品出现 局部硬件故障时,维修人员一般也很难快速对出现故障的模块进行定位,只能通过测试来 定位问题,这样的工作效率又太低。
技术实现思路
本专利技术的目的是提出一种对机器的各个功能模块进行测试并集中显示测试结果以快 速定位机器故障的系统及方法,以解决产品在开发初期和售 ...
【技术保护点】
一种定位机器故障的方法,其特征在于,包括步骤:于待检测机器开机后,调用测试程序控制对机器的各个硬件模块进行初始化;读取初始化过程中各个硬件模块的寄存器状态信息; 将读取的各个硬件模块的寄存器状态信息分别与相应的目标信息进行对比分析,找到发生故障的硬件模块。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:江润,
申请(专利权)人:深圳创维RGB电子有限公司,
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]
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