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离子源和质谱联用控制方法技术

技术编号:26261497 阅读:44 留言:0更新日期:2020-11-06 17:58
本发明专利技术提供了一种离子源和质谱联用控制方法,包括以下步骤:(A1)若待测样品已知,进步骤(A2);若未知,进步骤(A8);(A2)匹配待测样品的质量数;(A3)获得与限制条件匹配的数据条;(A4)处理数据条的参数,达到结束条件时的参数作为初步控制参数;(A5)按照初步控制参数工作,检测待测样品,输出实验结果;(A6)若实验结果符合结束条件,采用初步控制参数;若不符合,进入步骤(A7);(A7)调节初步控制参数,直到符合要求,此时的控制参数作为实际控制参数;(A8)获得与待测样品隶属的样品大类匹配的质量数范围检索数据条,得到待测样品的参考控制参数;(A9)离子源和质谱按照参考控制参数工作,输出待测样品的质量数,转到步骤(A2)。本发明专利技术具有精度高、耗时短等优点。

【技术实现步骤摘要】
离子源和质谱联用控制方法
本专利技术涉及离子化,特别涉及离子源和质谱联用控制方法。
技术介绍
若离子源以连续方式对样品进行离子化,由于质谱仪分析和测试数据相对有限,不仅无法充分利用离子化后的待测样品,而且会增大质谱仪的背景噪声和交叉污染,特别是对MSn分析性能影响较大。针对上述技术问题,现有技术给出的解决方法为:技术解决方法不足DC离子源样品离子化是连续的,样品利用率低质谱进样离子门控制控制时序仅受质谱仪内部控制,与离子源、控制参数未形成联动脉冲离子源离子化时间长度和间隔控可制性不佳
技术实现思路
为解决上述现有技术方案中的不足,本专利技术提供了一种耗时短、噪音小的离子源和质谱联用控制方法,适用于微量样品分析,提高了样品利用率。本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的:离子源和质谱联用控制方法,所述离子源和质谱联用控制方法包括以下步骤:(A1)判断待测样品是否已知:若已知,进入步骤(A2);若未知,进入步骤(A8);(A2)匹配待测样品的质量数,;(A3)根据分析的要求设定数据条限制条件,依据该限制条件检索数据条,所述数据条包括质谱和离子源的工作参数,获得与所述限制条件匹配的数据条;(A4)处理获得的数据条的参数,达到结束条件时的参数作为初步控制参数;(A5)离子源和质谱按照得到的初步控制参数工作,检测所述待测样品,输出实验结果;(A6)比对实验结果和所述结束条件:若实验结果符合结束条件,所述初步控制参数作为实际控制参数;若实验结果不符合结束条件,进入步骤(A7);(A7)调节初步控制参数,进入步骤(A5),直到实验结果和结束条件间的差别符合要求,此时的控制参数作为实际控制参数;(A8)获得与所述待测样品隶属的样品大类匹配的质量数范围,根据质量数范围检索数据条,处理得到的数据条的参数,得到待测样品的参考控制参数,;(A9)离子源和质谱按照所述参考控制参数工作,检测所述待测样品,输出待测样品的质量数;如果定性分析,结束;如果定量分析,则转到步骤(A2)。与现有技术相比,本专利技术具有的有益效果为:1.充分利用离子化后的待测样品,适用微量样品分析,提高样品利用率;2.降低质谱仪的背景噪声和交叉污染;3.利用原有的数据条获得与待测样品匹配的控制参数,显著地减少了实验中摸索条件的时间及人工成本;4.运行成本低;离子源和质谱均脉冲式工作,并自动化控制工作时序,降低了离子源和质谱的电力、气体消耗,降低了运行成本,也相应地延长了使用寿命;5.精度高;利用原有的数据条去获得匹配待测样品的控制参数,获得的控制参数丰富了原有的数据条库,随着分析次数增长而增长的数据条数量,不断地提高了控制参数与待测样品间匹配的精度,相应地提高了后续待测样品的分析精度。附图说明参照附图,本专利技术的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的是:这些附图仅仅用于举例说明本专利技术的技术方案,而并非意在对本专利技术的保护范围构成限制。图中:图1是根据本专利技术实施例的离子源和质谱联用控制方法的流程图;图2是根据本专利技术实施例的数据处理的示意图;图3是根据本专利技术实施例的质谱图。具体实施方式图1-3和以下说明描述了本专利技术的可选实施方式以教导本领域技术人员如何实施和再现本专利技术。为了教导本专利技术技术方案,已简化或省略了一些常规方面。本领域技术人员应该理解源自这些实施方式的变型或替换将在本专利技术的范围内。本领域技术人员应该理解下述特征能够以各种方式组合以形成本专利技术的多个变型。由此,本专利技术并不局限于下述可选实施方式,而仅由权利要求和它们的等同物限定。实施例1:图1示意性地给出了本专利技术实施例1的离子源和质谱联用控制方法的流程图,如图1所示,所述离子源和质谱联用控制方法包括以下步骤:(A1)判断待测样品是否已知:若已知,进入步骤(A2);若未知,进入步骤(A8);(A2)匹配待测样品的质量数,;(A3)根据分析的要求设定数据条限制条件,如数据的信噪比,依据该限制条件检索数据条,所述数据条包括质谱和离子源的工作参数,获得与所述限制条件匹配的数据条;(A4)处理获得的数据条的参数,达到结束条件(如数据统计规律)时的参数作为初步控制参数,包括离子源的工作电压,质谱仪的载气流速、温度等,离子源和质谱的工作时序控制等;(A5)离子源和质谱按照得到的初步控制参数工作,检测所述待测样品,输出实验结果;(A6)比对实验结果和所述结束条件:若实验结果符合结束条件,所述初步控制参数作为实际控制参数;若实验结果不符合结束条件,进入步骤(A7);(A7)调节初步控制参数,进入步骤(A5),直到实验结果和结束条件间的差别符合要求,此时的控制参数作为实际控制参数;(A8)获得与所述待测样品隶属的样品大类匹配的质量数范围,根据质量数范围检索数据条,处理得到的数据条的参数,得到待测样品的参考控制参数,;(A9)离子源和质谱按照所述参考控制参数工作,检测所述待测样品,输出待测样品的质量数,转到步骤(A2)。为了提高匹配的精度,进一步地,所述分析的要求为定量分析或定性分析,定量分析时的作为限制条件的信噪比小于定性分析时的作为限制条件的信噪比。为了更好地与待测样品匹配,提高后续分析精度,进一步地,所述结束条件为不小于所述获得的数据条信噪比以总体均方根值为界至最大信噪比的均方根值。为了更好地与待测样品匹配,提高后续分析精度,进一步地,在步骤(A3)和/或(A8)中,检索数据条中,质量数匹配的优先级高于信噪比匹配的优先级。为了提高处理效果,进一步地,在步骤(A4)和/或(A8)中,处理的处理方式为:去噪后平均化或加权处理。为了提高与待测样品间的匹配精度,进一步地,步骤(A7)中,所述要求为所述差别最小或稍有偏差。为了降低运行成本和提高样品分析效率,进一步地,所述离子源和质谱均为脉冲式工作,在一个工作周期T内,离子源的脉冲工作时长T1和质谱的脉冲工作时长T3间的关系为:T3>T1,0<Δt≤t0,T-Δt>2T3,Δt为质谱开始工作和离子源开始工作间的时间差,t0为离子源产生的离子从离子源运动到质谱的时间。为了不断提高样品分析精度,进一步地,所述参考控制参数和/或初步控制参数被存储,并作为数据条,不断丰富数据条库。实施例2:根据本专利技术实施例1的离子源和质谱联用控制方法的应用例。(A1)判断待测样品是否已知:若已知,进入步骤(A2);若未知,进入步骤(A8);(A2)匹配待测样品的质量数,;(A3)根据分析的要求本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.离子源和质谱联用控制方法,所述离子源和质谱联用控制方法包括以下步骤:/n(A1)判断待测样品是否已知:/n若已知,进入步骤(A2);/n若未知,进入步骤(A8);/n(A2)匹配待测样品的质量数,;/n(A3)根据分析的要求设定数据条限制条件,依据该限制条件检索数据条,所述数据条包括质谱和离子源的工作参数,获得与所述限制条件匹配的数据条;/n(A4)处理获得的数据条的参数,达到结束条件时的参数作为初步控制参数;/n(A5)离子源和质谱按照得到的初步控制参数工作,检测所述待测样品,输出实验结果;/n(A6)比对实验结果和所述结束条件:/n若实验结果符合结束条件,所述初步控制参数作为实际控制参数;/n若实验结果不符合结束条件,进入步骤(A7);/n(A7)调节初步控制参数,进入步骤(A5),直到实验结果和结束条件间的差别符合要求,此时的控制参数作为实际控制参数;/n(A8)获得与所述待测样品隶属的样品大类匹配的质量数范围,根据质量数范围检索数据条,处理得到的数据条的参数,得到待测样品的参考控制参数,;/n(A9)离子源和质谱按照所述参考控制参数工作,检测所述待测样品,输出待测样品的质量数;如果定性分析,结束;如果定量分析,则转到步骤(A2)。/n...

【技术特征摘要】
1.离子源和质谱联用控制方法,所述离子源和质谱联用控制方法包括以下步骤:
(A1)判断待测样品是否已知:
若已知,进入步骤(A2);
若未知,进入步骤(A8);
(A2)匹配待测样品的质量数,;
(A3)根据分析的要求设定数据条限制条件,依据该限制条件检索数据条,所述数据条包括质谱和离子源的工作参数,获得与所述限制条件匹配的数据条;
(A4)处理获得的数据条的参数,达到结束条件时的参数作为初步控制参数;
(A5)离子源和质谱按照得到的初步控制参数工作,检测所述待测样品,输出实验结果;
(A6)比对实验结果和所述结束条件:
若实验结果符合结束条件,所述初步控制参数作为实际控制参数;
若实验结果不符合结束条件,进入步骤(A7);
(A7)调节初步控制参数,进入步骤(A5),直到实验结果和结束条件间的差别符合要求,此时的控制参数作为实际控制参数;
(A8)获得与所述待测样品隶属的样品大类匹配的质量数范围,根据质量数范围检索数据条,处理得到的数据条的参数,得到待测样品的参考控制参数,;
(A9)离子源和质谱按照所述参考控制参数工作,检测所述待测样品,输出待测样品的质量数;如果定性分析,结束;如果定量分析,则转到步骤(A2)。


2.根据权利要求1所述的离子源和质谱联用控制方法,其特征在于:所述限制条件为信噪比。


3.根据权利要求2所述的离子源和质谱联用控制方法,其特征在于:所述分析的要求为定量分析或定性分析,定量分析时的作为限制条件的信噪比小于定性分析时的作为限制条件的信噪比。


4.根据权利要求1所述的离子源和质谱联用控制方法,其特征在于:所述结束条件为不小于所述获得的数据条信噪比以总体均方根值为界至最大信噪比的均方根值。

【专利技术属性】
技术研发人员:闻路红毕磊刘云洪欢欢陈安琪李刚强
申请(专利权)人:宁波大学宁波华仪宁创智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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