确定用于关于实施立体PIV方法的自校准的投影方程的方法技术

本发明专利技术的内容是一种用来确定用于关于在可视化流动时实施立体ＰＩＶ方法的自校准的投影方程的方法，包括至少两台照相机和一个局部图像，其中照相机对光截面的大致相同的区域进行观察，但是从不同的方向观察，其中通过借助于光学互相关测量在照相机图像上相应询问区的移动量求出两台照相机之间的点对应，借助照相机已知的内部和外部参数根据近似法求出投影方程。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用来确定用于关于实施立体PIV方法的自校准的投影方程(Abbildungsgleichung)的方法。
技术介绍
首先应该说明一下，PIV方法应该理解成什么。PIV是粒子图像速度测量的缩写。借助于PIV可以表示气体或液体在空间内的流动情况(例如DE19928698A1)。为了实施这种PIV法首先需要激光或者其它合适的光源，光源在介质例如气体或液体流中产生所谓的光截面，其中通过至少一台照相机来观察此光截面。仅仅用垂直于光截面布置的一台照相机可以确定在光平面内的两个速度分量，而用至少两台从不同角度观察光截面的照相机(立体PIV)则确定所有三个分量。如已经说明过的那样，PIV方法的意义在于，测量二维和三维速度场；为了使在一个空间内的这种介质的速度可视化，在液体或气体内加入小的颗粒，它们直接跟随流动。为了实施这种立体PIV方法，首先需要进行校准，这意味着确定照相机相对于光截面平面的位置，这最终通过求解投影方程x1y1x2y2=M(x,y,z)]]>来实现，其中xi、yi表示一个空间点(x、y、z)在照相机1和2(见附图说明图1)图像内的图像坐标值。通常坐标系这样来本文档来自技高网...

【技术保护点】
用来确定用于关于在可视化流动时实施立体ＰＩＶ方法的自校准的投影方程的方法，包括至少两台照相机和一个局部图像，其特征在于：照相机对光截面的大致相同的区域进行观察，但是从不同的方向观察；通过借助于光学互相关测量照相机图像内相应询问区的移动求出两台照相机之间的点对应；借助于已知的内部和外部照相机参数根据近似法求出投影方程。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：B维内克，
申请(专利权)人：视野有限公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]