一种测量装置和测量系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种测量装置和测量系统，涉及测量技术领域，以解决闸片中摩擦体厚度测量精度低的问题。所述测量装置，应用于厚度测量。该测量装置包括：支撑结构、移动结构和测量结构。测量装置处于组装状态时，移动结构设置在支撑结构上；测量结构设置在移动结构上。测量装置处在测量状态时，移动结构带动所述测量结构在第一方向和第二方向移动，测量结构在第三方向移动。所述测量系统包括上述技术方案所提的测量装置。本实用新型专利技术提供的测量装置用于厚度测量。

【技术实现步骤摘要】
一种测量装置和测量系统
本技术涉及测量
，尤其涉及一种测量装置和测量系统。
技术介绍
随着高速列车的不断发展，目前闸片对高速列车越来越重要。在闸片制作完成后，需要对闸片的磨耗进行测量，计算闸片磨耗情况。例如：需要定期测量闸片中摩擦体的厚度，计算摩擦体的磨耗，以便于测量出摩擦体的磨损状况以及使用寿命。目前通常是人工手持游标卡尺对摩擦体进行测量，人工测量得到的数据偏差较大，精度低，并且采用人工测量费时费力，测量成本较高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测量装置和测量系统，用于提高测量闸片中摩擦体厚度的精度。为了实现上述目的，本技术提供一种测量装置，应用于厚度测量。该测量装置包括：支撑结构、移动结构和测量结构；测量装置处于组装状态时，移动结构设置在支撑结构上；测量结构设置在移动结构上；测量装置处在测量状态时，移动结构带动测量结构在第一方向和第二方向移动，测量结构在第三方向移动。与现有技术相比，本技术提供的测量装置中，移动结构设置在支撑结构上，测量结构设置在移动结构上。由于移动结构可以带动测量结构在第一方向和第二方向上移动，并且测量结构自身可以在第三方向上移动，此时可以形成一个三方向的测量装置，便于对待测量工件(摩擦体)任意一处的测量。所以在上述结构的共同作用下，可以利用机器自动控制(或者通过人工控制)该测量装置，实现对待测量工件(摩擦体)厚度的测量。相比于现有技术中，直接通过人工手持游标卡尺，对待测量工件(摩擦体)进行测量，获得的测量数据更加准确，精确度更高。同时还提高了测量的速度，降低了人工成本和时间成本。可选的，支撑结构包括：基座，基座具有测量基准面，待测量工件承载于测量基准面上；至少一个支架，至少一个支架设置在基座上；至少一个支架包括一个支架时，测量基准面位于支架一侧；至少一个支架包括多个支架时，测量基准面位于相邻两个支架之间；测量装置处于组装状态时，移动结构设置在支架上。进一步地，基座上开设凹槽，凹槽的槽口所在的平面为测量基准面；或，基座上具有间隔设置的至少两个支撑座，至少两个支撑座远离基座的表面与基座的表面平行；至少两个支撑座远离基座的表面为测量基准面。可选的，移动结构包括第一移动结构和第二移动结构；测量装置处在组装状态时，第一移动结构设置在支撑结构上，第二移动结构设置在第一移动结构上；测量装置处在测量状态时，第一移动结构带动测量结构在第二方向移动，第二移动结构带动测量结构在第一方向移动。进一步地，第一移动结构包括至少一个第一导轨和至少一个第一滑块，至少一个第一滑块与至少一个第一导轨匹配；测量装置处在组装状态时，至少一个第一导轨设置在支撑结构上，第一滑块设置在第一导轨上；第一滑块带动测量结构在第二方向移动，第二移动结构设置在第一滑块上。进一步地，第一移动结构还包括限位块，限位块设置在第一导轨的末端，用于限制第一滑块在第二方向移动。进一步地，第二移动结构包括至少一个第二导轨和至少一个第二滑块，至少一个第二滑块与至少一个第二导轨匹配；测量装置处在组装状态时，至少一个第二导轨设置在第一移动结构上；第二滑块设置在第二导轨上；第二滑块带动测量结构在第一方向移动。可选的，测量结构包括测量件，显示件和测量基座；测量装置处于组装状态时，测量件贯穿显示件，测量基座分别与显示件和移动结构紧固连接。可选的，第一方向为X方向，第二方向为Y方向，第三方向为Z方向。本技术还提供一种测量系统，包括上述技术方案所述的测量装置。与现有技术相比，本技术提供的测量系统的有益效果与上述技术方案所述测量装置的有益效果相同，此处不做赘述。附图说明此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：图1为本技术实施例中一种测量装置的结构示意图；图2为本技术实施例中一种测量装置的测量示意图；图3为本技术实施例中一种测量装置的主视图；图4为本技术实施例中另一种测量装置的结构示意图；图5为本技术实施例中一种测量装置的左视图；图6为本技术实施例中一种测量装置的俯视图；图7为本技术实施例中图3中的I处放大示意图；图8为本技术实施例中一种测量装置的调零示意图。附图标记：1为闸片，2为摩擦体，3为支撑结构，31为基座，311为测量基准面，312为凹槽，313为支撑座，32为支架，321为侧板，322为顶板，323为支撑板；4为移动结构，41为第一移动结构，411为第一导轨，412为第一滑块，413为限位块，414为滑块侧板，42为第二移动结构，421为第二导轨，422为第二滑块；5为测量结构，51为测量件，52为显示件，53为测量基座；6为内六角螺栓，7为六角螺栓。具体实施方式为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。在现有技术中，通常采用游标卡尺对闸片中摩擦体的厚度进行测量。上述测量方法为：人工手持游标卡尺，将其放置在摩擦体的边缘，并使游标卡尺基座的端面与摩擦体的上表面重合紧贴，此时尺身端面至基座端面之间的距本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量装置，其特征在于，应用于厚度测量，所述测量装置包括：支撑结构、移动结构和测量结构；/n所述测量装置处于组装状态时，所述移动结构设置在所述支撑结构上；所述测量结构设置在所述移动结构上；/n所述测量装置处在测量状态时，所述移动结构带动所述测量结构在第一方向和第二方向移动，所述测量结构在第三方向移动。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量装置，其特征在于，应用于厚度测量，所述测量装置包括：支撑结构、移动结构和测量结构；
所述测量装置处于组装状态时，所述移动结构设置在所述支撑结构上；所述测量结构设置在所述移动结构上；
所述测量装置处在测量状态时，所述移动结构带动所述测量结构在第一方向和第二方向移动，所述测量结构在第三方向移动。


2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述支撑结构包括：
基座，所述基座具有测量基准面，待测量工件承载于所述测量基准面上；
至少一个支架，至少一个所述支架设置在所述基座上；
所述至少一个支架包括一个支架时，所述测量基准面位于所述支架一侧；所述至少一个支架包括多个所述支架时，所述测量基准面位于相邻两个所述支架之间；
所述测量装置处于组装状态时，所述移动结构设置在所述支架上。


3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述基座上开设凹槽，所述凹槽的槽口所在的平面为所述测量基准面；或，
所述基座上具有间隔设置的至少两个支撑座，至少两个所述支撑座远离所述基座的表面与所述基座的表面平行；至少两个所述支撑座远离所述基座的表面为所述测量基准面。


4.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述移动结构包括第一移动结构和第二移动结构；
所述测量装置处在组装状态时，所述第一移动结构设置在所述支撑结构上，所述第二移动结构设置在所述第一移动结构上；
所述测量装置处在测量状态时，所述第一移动结构带动所述测量结构在第二方向移动，所述第二移...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟梓云，付冉，聂广远，胡绍磊，于敬洋，
申请(专利权)人：北京浦然轨道交通科技股份有限公司，山东菏泽德通新材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11