【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种分析稀流体试样中的颗粒的方法和系统,具体地,涉及一种可产生试样流体的薄流体的贯流分析器,可从薄流体得到其光学图象。
技术介绍
分析颗粒尤其是沉淀物的方法和系统在现有技术中已公知,如美国专利No.4,338,024和4,393,466所公开的,其内容本文参考引用。这种系统使用贯流分析器,使流体试样(试样流体)通过贯流分析器;和颗粒分析器,以获得通过贯流分析器的流体的静止画面图象。因此,贯流分析器定位和显示含有感兴趣的进行分析的颗粒试样流体。贯流分析器定位试样流体越精确,颗粒分析的效果越好。典型的贯流分析器可使得试样流体,和缓冲试样流体的外层流体一起,从较大的入口腔流入较小截面的检测区或部分。从入口或入口腔过渡到检测区形成了液力透镜,成比例地挤压试样流体和外层流体进入较小的空间。感兴趣的颗粒是微粒,所形成的试样流体占据的截面空间一定位于分析器,如光学系统或激光系统,的景深内,以得到最好的分析信息。为了得到最好的液力聚焦,大面积的外层流体必须没有涡流或旋涡地包围小面积的试样流体。因此,试样和外层流体均匀流过贯流分析器对于最佳操作颗粒分析器是很关键的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员:R·H·图尔纳,D·A·凯泽,
申请(专利权)人:国际遥距成象系统公司,
类型:发明
国别省市:
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