近紫外发光二极管外延片及其制备方法技术

技术编号:26225136 阅读:55 留言:0更新日期:2020-11-04 11:00
本公开提供了一种近紫外发光二极管外延片及其制备方法,属于发光二极管技术领域。电子阻挡层中AlN子层、第一AlInGaN子层、第二AlInGaN子层中的Al的组分含量依次降低。第一AlInGaN子层中的Al的组分含量与第二AlInGaN子层中的Al的组分含量比值,与第一AlInGaN子层中的In的组分含量与第二AlInGaN子层中的In的组分含量比值相等。第二AlInGaN子层中的Mg的掺杂浓度与第一AlInGaN子层中的Mg的掺杂浓度比值,与第一AlInGaN子层中的Al的组分含量与第二AlInGaN子层中的Al的组分含量比值相等。大量增加进入发光层的空穴的数量,提高发光二极管的发光效率。

【技术实现步骤摘要】
近紫外发光二极管外延片及其制备方法
本公开涉及到了发光二极管
,特别涉及到一种近紫外发光二极管外延片及其制备方法。
技术介绍
近紫外发光二极管是一种用于光固化的发光产品,常用于食物封口材料固化、医用胶固化等,近紫外发光二极管外延片则是用于制备近紫外发光二极管基础结构。近紫外发光二极管外延片通常包括衬底及衬底上生长的外延层,外延层包括依次生长在衬底上的N型层、发光层、电子阻挡层及P型层。且电子阻挡层通常为Al的组分含量较高的AlGaN电子阻挡层,AlGaN电子阻挡层中常掺杂有Mg元素,AlGaN电子阻挡层起到阻挡电子作用的同时用以提供部分空穴。但常规的Al的组分含量较高的AlGaN电子阻挡层中掺杂较多的Al元素,会影响Mg元素在AlGaN电子阻挡层中的渗入与活化,造成AlGaN电子阻挡层能够提供的空穴浓度极低;且Al的组分含量较高的AlGaN电子阻挡层中同时也存在有较多的非辐射复合中心,使得空穴在AlGaN电子阻挡层中发生非辐射复合,最终导致可以正常进入发光层与电子进行辐射复合的空穴较少,近紫外发光二极管的发光效率较低。...

【技术保护点】
1.一种近紫外发光二极管外延片,所述近紫外发光二极管外延片包括衬底(1)及生长在所述衬底(1)上的外延层(2),所述外延层(2)包括在所述衬底(1)上依次层叠的n型层(21)、发光层(22)、电子阻挡层(23)及p型层(24),/n其特征在于,所述电子阻挡层(23)包括依次生长在所述发光层(22)上的AlN子层(231)、第一AlInGaN子层(232)与第二AlInGaN子层(233),所述AlN子层(231)中的Al的组分含量、所述第一AlInGaN子层(232)中的Al的组分含量、所述第二AlInGaN子层(233)中的Al的组分含量依次降低,/n所述第一AlInGaN子层(232)中的...

【技术特征摘要】
1.一种近紫外发光二极管外延片,所述近紫外发光二极管外延片包括衬底(1)及生长在所述衬底(1)上的外延层(2),所述外延层(2)包括在所述衬底(1)上依次层叠的n型层(21)、发光层(22)、电子阻挡层(23)及p型层(24),
其特征在于,所述电子阻挡层(23)包括依次生长在所述发光层(22)上的AlN子层(231)、第一AlInGaN子层(232)与第二AlInGaN子层(233),所述AlN子层(231)中的Al的组分含量、所述第一AlInGaN子层(232)中的Al的组分含量、所述第二AlInGaN子层(233)中的Al的组分含量依次降低,
所述第一AlInGaN子层(232)中的Al的组分含量与所述第二AlInGaN子层(233)中的Al的组分含量比值,与所述第二AlInGaN子层(232)中的In的组分含量与所述第一AlInGaN子层(233)中的In的组分含量比值相等,所述第一AlInGaN子层(232)与所述第二AlInGaN子层(233)中均掺有Mg元素,且第二AlInGaN子层(233)中的Mg的掺杂浓度与所述第一AlInGaN子层(232)中的Mg的掺杂浓度比值,与所述第一AlInGaN子层(232)中的Al的组分含量与所述第二AlInGaN子层(233)中的Al的组分含量比值相等。


2.根据权利要求1所述的近紫外发光二极管外延片,其特征在于,所述第一AlInGaN子层(232)中Al的组分含量为x1,所述第一AlInGaN子层(232)中In的组分含量为y1,所述第一AlInGaN子层(232)中Mg的掺杂浓度为z1,0.3<x1≤0.6,0<y1≤0.1,2×10-19cm-3<z1≤5×10-19cm-3。


3.根据权利要求2所述的近紫外发光二极管外延片,其特征在于,所述第一AlInGaN子层(232)中,x1:y1在10:1~60:1的范围内。


4.根据权利要求1~3任一项所述的近紫外发光二极管外延片,其特征在于,所述第二AlInGaN子层(233)中Al的组分含量为x2,所述第二AlInGaN子层(233)中In的组分含量为y2,所述第二AlInGaN子层(233)中Mg的掺杂浓度为z2,0.1<x2≤0.3,0<y2≤0.2,5×10-19cm-3<z1≤2×10-20cm-3。


5.根据权利要求1~3任一项所述的近紫外发...

【专利技术属性】
技术研发人员:洪威威王倩董彬忠胡加辉
申请(专利权)人:华灿光电浙江有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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