高温高压流体成份分析传感器制造技术

技术编号:2622509 阅读:127 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术的一种高温高压流体成分分析传感器,它涉及一种传感器,特别是一种能够监测流体成分的传感器。它包括主密封体,安装在主密封体内并相互平行设置的一对透光左玻璃片和右玻璃片、位于左玻璃片的外侧并能够将光照射到该左玻璃片上的发射光源、设置在右玻璃片的外侧的用于接收透过光的接收光纤;在一对玻璃片之间有盛装流体密闭空间,在主密封体上有与密闭空间相通的流体入口和流体出口。本发明专利技术可以通过光纤传导的光谱,来测量流体的成分。本发明专利技术具有结构简单,密封性良好,适合高温高压环境的优点。本发明专利技术的装置可以随时检测井下流体的成分,具有使用方便,快捷的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种传感器,特别是一种能够监测流体成份的传感器。
技术介绍
油田上,油井内流体的成份经常要发生变化,因此经常需要随时检测井下流体的成份。现有的检测方法是将流体取样,然后到地面上进行检测,这种检测方法操作起来比较麻烦,而且不能够随时掌握井下流体的变化情况。中国专利CN1376262A于2002年10月23日公开了一种“带监控蚀刻剂成份的高精度传感器的自动蚀刻剂再生系统”,其虽然具有成份监测的功能,但是它不适合在井下高温高压环境下使用。
技术实现思路
为解决现有技术存在的问题,本专利技术提供一种高温高压流体成份分析传感器,它解决了现有技术不能够随时检测井下流体成份的问题。本专利技术的一种高温高压流体成份分析传感器,它包括主密封体7,安装在主密封体7内并相互平行设置的一对透光左玻璃片3和右玻璃片8、位于右玻璃片8的外侧并能够将光照射到该右玻璃片8上的发射光源13、设置在左玻璃片3的外侧的用于接收透过光的接收光纤2;在一对玻璃片之间有盛装流体密闭空间14,在主密封体7上有与密闭空间14相通的流体入口15和流体出口16。本专利技术可以通过光纤传导的光谱,来测量流体的成份。本专利技术具有结构简单,密封性良好,适合高温高压环境的优点。本专利技术的装置可以随时检测井下流体的成份,具有使用方便,快捷的优点。附图说明图1是本专利技术的外观图;图2是本专利技术的内部结构示意图。具体实施例方式下面结合附图并用最佳的实施方式对本专利技术作详细的说明参阅图1和图2,一种高温高压流体成份分析传感器,它包括主密封体7,安装在主密封体7内并相互平行设置的一对透光左玻璃片3和右玻璃片8、位于右玻璃片8的外侧并能够将光照射到该右玻璃片8上的发射光源13、设置在左玻璃片3的外侧的用于接收透过光的接收光纤2;在一对玻璃片之间有盛装流体密闭空间14,在主密封体7上有与密闭空间14相通的流体入口15和流体出口16。流体出口16小于流体入口15。这样可以使密闭空间内保存一定的流体。它还包含有左密封盖4和右密封盖11,在主密封体7内表面有沿圆周方向的凸沿7-2,左玻璃片3和右玻璃片8分别贴在凸沿7-2的两侧,分别与主密封体7相连接的左密封盖4和右密封盖11分别顶在左玻璃片3和右玻璃片8的外侧。所述的接收光纤2的端部设置在左密封盖4内,接收光纤2的端头部位与左玻璃片3相贴近。它还包含有外盖1,在左密封盖4的外端部还螺纹连接有外盖1,外盖1端部内表面的端沿1-1将接收光纤2与左密封盖4卡紧。它还包含有用于固定发射光源13的固定环12,发射光源13安装在固定环12的中心处,固定环12与右密封盖11相连接。右密封盖11靠近右玻璃片8的一端有外小内大的锥形孔11-2,固定环12的内侧有凹面镜12-1,发射光源13位于凹面镜12-1的轴心处。在左密封盖4与主密封体7之间,左密封盖4与左玻璃片3之间,右密封盖11与右玻璃片8之间,右密封盖11与主密封体7之间分别设置有密封圈。它还包含有能够接收发射光源13发出光的辅助光纤17。在主密封体7和右密封盖11上开有放置辅助光纤17的辅助光纤通道辅助光纤通道7-1和辅助光纤通孔11-1。通过辅助光纤传导的光谱与接收光纤传导的光谱进行分析,可以分析流体的成份。权利要求1.一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于它包括主密封体7,安装在主密封体7内并相互平行设置的一对透光左玻璃片3和右玻璃片8、位于右玻璃片8的外侧并能够将光照射到该右玻璃片8上的发射光源13、设置在左玻璃片3的外侧的用于接收透过光的接收光纤2;在一对玻璃片之间有盛装流体密闭空间14,在主密封体7上有与密闭空间14相通的流体入口15和流体出口16。2.如权利要求1所述的一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于它还包含有左密封盖4和右密封盖11,在主密封体7内表面有沿圆周方向的凸沿7-2,左玻璃片3和右玻璃片8分别贴在凸沿7-2的两侧,分别与主密封体7相连接的左密封盖4和右密封盖11分别顶在左玻璃片3和右玻璃片8的外侧。3.如权利要求2所述的一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于所述的接收光纤2的端部设置在左密封盖4内,接收光纤2的端头部位与左玻璃片3相贴近。4.如权利要求3所述的一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于它还包含有外盖1,在左密封盖4的外端部还螺纹连接有外盖1,外盖1端部内表面的端沿1-1将接收光纤2与左密封盖4卡紧。5.如权利要求2所述的一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于它还包含有用于固定发射光源13的固定环12,发射光源13安装在固定环12的中心处,固定环12与右密封盖11相连接。6.如权利要求5所述的一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于右密封盖11靠近右玻璃片8的一端有外小内大的锥形孔11-2,固定环12的内侧有凹面镜12-1,发射光源13位于凹面镜12-1的轴心处。7.如权利要求2所述的一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于,在左密封盖4与主密封体7之间,左密封盖4与左玻璃片3之间,右密封盖11与右玻璃片8之间,右密封盖11与主密封体7之间分别设置有密封圈。8.如权利要求5所述的一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于它还包含有能够接收发射光源13发出光的辅助光纤17。9.如权利要求8所述的一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于在主密封体7和右密封盖11上开有放置辅助光纤17的辅助光纤通道辅助光纤通道7-1和辅助光纤通孔11-1。10.如权利要求1所述的一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于流体出口16小于流体入口15。全文摘要本专利技术的一种高温高压流体成分分析传感器,它涉及一种传感器,特别是一种能够监测流体成分的传感器。它包括主密封体,安装在主密封体内并相互平行设置的一对透光左玻璃片和右玻璃片、位于左玻璃片的外侧并能够将光照射到该左玻璃片上的发射光源、设置在右玻璃片的外侧的用于接收透过光的接收光纤;在一对玻璃片之间有盛装流体密闭空间,在主密封体上有与密闭空间相通的流体入口和流体出口。本专利技术可以通过光纤传导的光谱,来测量流体的成分。本专利技术具有结构简单,密封性良好,适合高温高压环境的优点。本专利技术的装置可以随时检测井下流体的成分,具有使用方便,快捷的优点。文档编号G01N21/03GK1740771SQ20051010349公开日2006年3月1日 申请日期2005年9月19日 优先权日2005年9月19日专利技术者刘书民, 冯永仁, 庞希顺, 宣海峰, 李军 申请人:中国海洋石油总公司, 中海油田服务股份有限公司 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高温高压流体成份分析传感器,其特征在于:它包括主密封体7,安装在主密封体7内并相互平行设置的一对透光左玻璃片3和右玻璃片8、位于右玻璃片8的外侧并能够将光照射到该右玻璃片8上的发射光源13、设置在左玻璃片3的外侧的用于接收透过光的接收光纤2;在一对玻璃片之间有盛装流体密闭空间14,在主密封体7上有与密闭空间14相通的流体入口15和流体出口16。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘书民冯永仁庞希顺宣海峰李军
申请(专利权)人:中国海洋石油总公司中海油田服务股份有限公司
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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