用于化学价态研究的X射线吸收谱探测器及其方法技术

本发明专利技术涉及Ｘ射线应用技术领域，用于化学价态研究的Ｘ射线吸收谱探测器及其方法。探测器由样品支架，样品Ｓ１，样品Ｓ２，Ｘ射线光电二极管，滤波片，狭缝，大面积Ｘ射线光电二极管组成。其中样品支架，与样品Ｓ１、Ｘ射线光电二极管组成透射探测器部分；样品支架又与样品Ｓ２，滤波片，狭缝，大面积Ｘ射线光电二极管组成荧光探测器部分。它们共同利用同一个透射式电离室作为前电离室。两探测器部分组成一体，相互呈一定角度。方法是：两个探测器并列设置，分别用于待测样品及标准比较样品，每个探测器接收一部分同步辐射束线，当单色器进行光子能量扫描时，两探测器同时采谱，则两样品的谱在能量标定上完全一制。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及X射线应用
，特别是一种用于化学价态研究的X射线吸收谱探测器及其方法。
技术介绍
X射线吸收谱(XAFS)实验方法是一种物质结构分析方法，随着同步辐射光源的发展XAFS已发展成物质结构分析的一种有力工具，被广泛应用于物理、化学、材料、催化、生物、环保等多种科研领域。元素吸收边的位移与其化学环境有关，因而理论上从XAFS谱可开展样品化学价态的研究，但实际受同步辐射束线单色器的机械精度及误差所限，很难在几个电子伏的范围内给出精确的绝对能量标定。常规同步辐射XAFS谱测量方法是将待测样品及一已知价态的同种欲测元素的比较样品前后串列置于光路中，两样品前后及中间各置一个透过式电离室探测器，用于测试X射线的强度，输出相应电流信号。单色器对同步辐射广谱X射线单色化并进行能量扫描，每个样品前后透过式电离室输出信号相除并取对数，则分别得到两个样品的XAFS谱。由于两谱同步采集(串列)则能量标定是完全一致的。通过两谱中吸收边位置比较，则可确定待测样品元素吸收边的位移。这种方法有两个缺点1)由于透过式电离室之间存在非线性响应，所以前样品对后样品的XAFS数据有干扰；2)上述透射实验本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种化学价态研究的Ｘ射线吸收谱探测器，其特征在于，由样品支架（２），样品Ｓ１（３），样品Ｓ２（４），Ｘ射线光电二极管（５），滤波片（６），狭缝（７），大面积Ｘ射线光电二极管（８）组成，其中样品支架（２），与样品Ｓ１（３）、Ｘ射线光电二极管（５）组成透射探测器部分；样品支架（２）又与样品Ｓ２（４），滤波片（６），狭缝（７），大面积Ｘ射线光电二极管（８）组成荧光探测器部分，两探测器部分组成一体，相互呈一定角度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谢亚宁，张静，胡天斗，刘涛，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]