【技术实现步骤摘要】
一种超声波探头自动校准装置
本技术涉及一种校准装置,尤其是自动测量超声波探头前沿长度和K值的仪器。
技术介绍
超声波探伤时,探头前沿长度(超声波声束入射点至探头前端面的距离)和K值(超声斜探头发出的超声波在材料中折射角的正切值)是探头的重要参数,是影响焊缝中缺陷定位的重要因素。因而每次进行超声波检测时,必须先对探头的前沿长度和K值进行准确测定(即校准)。手工进行探头校准时,首先要将选择的探头与超声波探伤仪(以下简称探伤仪)电连通,在试块上对探头的前沿长度和探头K值进行测定,接着将测定的参数以及被测工件的厚度数据输入到探伤仪中获得探伤曲线,然后才能进行超声波焊缝检测。由于每一个人操作习惯不同,熟练程度不同,因而测定的前沿长度和K值略有差异。超声波探伤在测定探头的前沿长度和K值后,还需要制作用于超声波探伤检测的探伤曲线,整个过程需要耗费较长时间,工作效率不高。如何设计一种设备,省去这些工作步骤,这是本方案需要解决的问题。
技术实现思路
本技术的目的是克服上述
技术介绍
的不足,提供一种超声波探头自动校 ...
【技术保护点】
1.一种超声波探头自动校准装置,包括校准超声波探头(4)用的试块(1);其特征在于所述试块右侧的圆弧面上安装有超声波晶片阵列,超声波晶片阵列外覆盖有电阻薄膜(2),该电阻薄膜通过导线与外部的超声波探伤仪(6)接通以输出测点位置信号;试块的上表面安装有用于测量探头前沿长度的前沿测量组件(3),该前沿测量组件也通过导线与外部的超声波探伤仪接通以输出距离测量数据。/n
【技术特征摘要】
1.一种超声波探头自动校准装置,包括校准超声波探头(4)用的试块(1);其特征在于所述试块右侧的圆弧面上安装有超声波晶片阵列,超声波晶片阵列外覆盖有电阻薄膜(2),该电阻薄膜通过导线与外部的超声波探伤仪(6)接通以输出测点位置信号;试块的上表面安装有用于测量探头前沿长度的前沿测量组件(3),该前沿测量组件也通过导线与外部的超声波探伤仪接通以输出距离测量数据。
2.根据权利要求1所述的超声波探头自动校准装置,其特征在于:所述试块为长方形,试块右侧圆弧面的圆心位于试块的上表面左侧。
3.根据权利要求2所述的超声波探头自动校准装置,其特征在于:所述超声波晶...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵立,钟丰平,
申请(专利权)人:浙江省特种设备科学研究院,
类型:新型
国别省市:浙江;33
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