【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种石英晶体微量天平准确性验证试验系统，属于材料放 气污染测试
技术介绍
在航天器生产过程中，石英晶体微量天平污染测试是测定航天器研制 环境污染状况的主要手段。石英晶体微量天平已经应用到航天器研制的各 个阶段，在航天器部件研制试验阶段、航天器总装测试阶段、航天器热试 验和力学试验阶段都应用了石英晶体微量天平测量环境的污染状况，据此 提出了有效的污染控制措施，保证了航天器的研制符合污染控制的要求。但是目前国内缺乏石英晶体微量天平的检定和校准试验装置和检定 规范，石英晶体微量天平的测量准确程度无法追溯到国家的计量检定体 系，使得石英晶体微量天平的测量结果的可信度受到影响。已不能满足航 天器长寿命、高可靠的需求。目前国内还没有相关的厂家进行这方面的研究禾口研制。而在国夕卜，美国Lockheed Palo Alto Research Laboratories 研制了商用石英晶体微量天平的准确性分析试验装置，它是根据水的热力 学特性，采用水的饱和蒸汽压参数，获得水的在某个环境下的蒸发速率； 根据分子真空下散射和传输理论，获得到达石英晶体微量天平表...
【技术保护点】
石英晶体微量天平测量准确性试验系统，包括放气室原位实时称重系统（１）、放气物余弦定量散射系统（２）、角系数检验系统（３）；其中， 放气室原位实时称重系统（１）经过标定的电子天平（１１）、电子天平加卸载装置（１２）、放气室（１３）、放气室温度控制装置（１４）；所述电子天平（１１）直接实时对放气室（１３）进行称重，电子天平加载卸载装置（１２）实现所述电子天平（１１）的复零保证称重的准确性；所述放气室温度控制装置（１４）对放气室（１３）进行非接触的温度控制，所述放气室（１３）的质量值被传递到放气物（２１）的质量值，实现了质量值传递； 所述放气物余弦定量散射系统（２）包括放气物（２...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：臧卫国，易忠，孙伟，于钱，杨东升，
申请(专利权)人：北京卫星环境工程研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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