一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针制造技术

本实用新型专利技术涉及医疗器械领域，具体涉及一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针。包括手柄、连接杆和探针段，探针段通过连接杆与手柄连接，在连接杆靠近手柄的一端设置有第一拐点，在连接杆靠近探针段的一端设置有第二拐点，探针段的末端表面设置有第一刻度线、第二刻度线和第三刻度线。本实用新型专利技术通过在探针的连接杆上设置两个拐点，提高上颌磨牙腭根探诊的精度和效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针
本技术涉及医疗器械领域，具体涉及一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针。
技术介绍
牙龈是指覆盖于牙槽突表面和牙颈部周围的口腔粘膜上皮及其下方的结缔组织，它由游离龈、附着龈和龈乳头三部分组成。游离龈与牙面之间形成的间隙，称龈沟。对于一个临床健康的龈沟，组织学平均深度为1.8mm。当牙龈出现炎症改变时，龈沟深度随之增加。临床上常用一个带有刻度的牙周探针来探查龈沟的深度，龈缘至袋底或龈沟底的距离即为探诊深度，正常健康的探诊深度一般不超过3mm，深度越深，一般而言代表牙龈或牙周组织的炎症越重，这是牙周疾病检查的最重要也是最常用的指标之一。但是，现有牙周探针主要是金属直型探针且形状固定，在前牙区探诊时，探诊的精确度尚可；对于后牙区，尤其是后牙舌腭侧，由于牙冠的突度较大，导致探针不能有效深入牙周袋底得到准确的深度，从而影响对疾病程度评估。中国专利文献CN106510884B中公开了一种用于牙周及根尖周手术的精准测量定位工具，包括手柄及连接在手柄上的第一探针段，还包括设置于第一探针段自由端上的档杆，第一探针段上还设置有沿着第一探针段轴线方向排列的多个第一刻度，相邻的两个第一刻度之间的间距小于等于0.5mm。该方案就是现有技术中的牙周探针，连接段与探针段只有两处折弯。使用该牙周探针在对上颌磨牙腭根探诊时，其牙齿凸度过大，探针段难以贴合牙齿表面，使得探针段尖端难以接触到牙周袋底。中国专利文献CN205866867U中公开了一种根分叉刮治工作头，包括连接头、连接杆和工作尖，连接杆一端与连接头固定连接，连接杆的另一端固定有工作尖，连接杆弯折形成第一弯折部、第二弯折部和第三弯折部，第一弯折部弯折方向与第二弯折部弯折方向相反且位于同一平面，第三弯折部位于另一平面。连接杆按照不同角度弯折形成三个弯折部，避免伸到牙根部位的连接杆弯折部与牙根清洁目的部位形成了切线；同时也避免了由于牙体龈上弧度部位。该方案对牙龈下有效清理牙结石或牙菌斑提供了帮助，但是在牙周探诊过程中作用不大。综上所述，现有技术在上颌磨牙腭根探诊过程中存在着一定的局限性。现有牙周探针尖端难以到达上颌磨牙腭根部，导致牙周探诊误差较大。因此，如何能够保证上颌磨牙腭根探诊的精度是本领域技术人员丞待解决的技术问题。
技术实现思路
技术问题：在上颌磨牙腭根探诊过程中，现有技术缺乏一种牙周探针来保证上颌磨牙腭根探诊的精度。技术方案：提出一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针，包括手柄、连接杆和探针段，手柄呈圆柱状，探针段通过连接杆与手柄连接，在连接杆靠近手柄的一端设置有第一拐点，在连接杆靠近探针段的一端设置有第二拐点，探针段的末端表面设置有第一刻度线、第二刻度线和第三刻度线，所述探针段的长度是10-15mm，优选为12mm。作为优选，在第一拐点和手柄之间的连接杆的中心线与手柄的轴线共线，在第一拐点和第二拐点之间的连接杆的中心线与手柄的轴线夹角为145o-155o，在第二拐点和探针段之间的连接杆的中心线与第一拐点和第二拐点之间的连接杆的中心线夹角为135o-145o，探针段的轴线与在第二拐点和探针段之间的连接杆的中心线夹角为95o-105o，探针段的末端指向手柄的轴线。作为优选，在第一拐点和手柄之间的连接杆的中心线与手柄的轴线共线，在第一拐点和第二拐点之间的连接杆的中心线与手柄的轴线夹角为150o，在第二拐点和探针段之间的连接杆的中心线与第一拐点和第二拐点之间的连接杆的中心线夹角为140o，探针段的轴线与在第二拐点和探针段之间的连接杆的中心线夹角为100o。作为优选，手柄选用空心圆柱结构。作为优选，探针段通过连接杆连接在手柄的任意一端，探针段的尖端直径为0.2mm。作为优选，探针段是弹性塑料探针段或不锈钢探针段，所述探针段具有圆锥凸台结构。作为优选，第一刻度线与探针段的尖端间距等于1mm，第一刻度线与探针段的尖端之间表面包覆有黄色涂层，第二刻度线位于第一刻度线远离探针段的尖端方向上，第二刻度线与第一刻度线的间距等于1mm，第二刻度线与第一刻度线之间表面包覆有绿色涂层，第三刻度线位于第二刻度线远离探针段的尖端方向上，第三刻度线与第二刻度线的间距等于1mm，第三刻度线与第二刻度线之间表面包覆有红色涂层。有益效果：本技术通过对结构的改进，相比于现有技术有如下实质性特点和进步：1.连接杆上设置两个拐点，有利于在上颌磨牙腭根探诊时，避开牙齿凸度过大的部分，使得探针段尖端接触到龈沟或牙周袋底部。2.一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针同时适用于凸度较大的种植体周围的探诊。3.探针段选用弹性塑料圆锥凸台结构，使得探针段可以尽可能的贴合牙齿表面，进而提高上颌磨牙腭根探诊的精度。4.在探针段的末端表面设置带有颜色的刻度线，可以让医师将探针刺入牙龈时，通过露在牙龈外的刻度线，对探诊情况快速做出判断，提高探诊效率。5.第一刻度线与探针段的尖端间距等于1mm，第一刻度线与探针段的尖端之间表面包覆有黄色涂层，若在使用时观察到黄色区域，考虑到健康的龈沟，组织学平均深度为1.8mm，表示探针可能刺到牙周上的结石；第二刻度线与探针尖端间距等于2mm，第二刻度线与第一刻度线之间表面包覆有绿色涂层，若在使用时观察到绿色区域，表示牙周状况良好；第三刻度线与探针尖端间距等于3mm，第三刻度线与第二刻度线之间表面包覆有红色涂层，若使用时观察到红色或者探针段表面原本颜色区域，表示牙周组织炎症较为严重。6.临床上对于患有牙周炎的患者，常规每次就诊均要进行全口牙齿的牙周探诊，每颗牙齿探查记录6个位点，需要花费临床医生大量的时间。本技术的设计比现有牙周探针更为方便且更为合理，使得操作更简单、有效、精准，无论是对于临床工作还是科研教学都能有很好的改进效果。附图说明图1是本技术实施例中用于上颌磨牙腭根探诊的探针的结构示意图；图2是图1的轴测图；图中：手柄1、连接杆2、探针段3、第一拐点4、第二拐点5、第一刻度线6、第二刻度线7、第三刻度线8。具体实施方式结合附图对本技术的具体实施方式进行详细描述。本实施例的用于上颌磨牙腭根探诊的探针如图1和图2所示，包括手柄1、连接杆2和探针段3，手柄1呈圆柱状，探针段3通过连接杆2与手柄1连接，在连接杆2靠近手柄1的一端设置有第一拐点4，在连接杆2靠近探针段3的一端设置有第二拐点5，探针段3的末端表面设置有第一刻度线6、第二刻度线7和第三刻度线8。其中，在第一拐点4和手柄1之间的连接杆2的中心线与手柄1的轴线共线，在第一拐点4和第二拐点5之间的连接杆2的中心线与手柄1的轴线夹角为150o。在第二拐点5和探针段3之间的连接杆2的中心线与第一拐点4和第二拐点5之间的连接杆2的中心线夹角为140o。探针段3的轴线与在第二拐点5和探针段3之间的连接杆2的中心线夹角为100o，探针段3的末端指向手柄1的轴线。本实施例用于上颌磨牙腭根探诊的探针中，手柄1选用空心圆柱结构。探针段3本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针，包括手柄、连接杆和探针段，其特征在于，所述手柄呈圆柱状，所述探针段通过连接杆与手柄连接，在所述连接杆靠近所述手柄的一端设置有第一拐点，在所述连接杆靠近所述探针段的一端设置有第二拐点，所述探针段的末端表面设置有第一刻度线、第二刻度线和第三刻度线，所述探针段的长度是10-15mm。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针，包括手柄、连接杆和探针段，其特征在于，所述手柄呈圆柱状，所述探针段通过连接杆与手柄连接，在所述连接杆靠近所述手柄的一端设置有第一拐点，在所述连接杆靠近所述探针段的一端设置有第二拐点，所述探针段的末端表面设置有第一刻度线、第二刻度线和第三刻度线，所述探针段的长度是10-15mm。


2.根据权利要求1所述的一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针，其特征在于，在所述第一拐点和所述手柄之间的连接杆的中心线与所述手柄的轴线共线，在所述第一拐点和所述第二拐点之间的连接杆的中心线与所述手柄的轴线夹角为145o-155o，在所述第二拐点和所述探针段之间的连接杆的中心线与所述第一拐点和所述第二拐点之间的连接杆的中心线夹角为135o-145o，所述探针段的轴线与在所述第二拐点和所述探针段之间的连接杆的中心线夹角为95o-105o，所述探针段的末端指向手柄的轴线。


3.根据权利要求1所述的一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针，其特征在于，在所述第一拐点和所述手柄之间的连接杆的中心线与所述手柄的轴线共线，在所述第一拐点和所述第二拐点之间的连接杆的中心线与所述手柄的轴线夹角为150o，在所述第二拐点和所述探针段之间的连接杆的中心线与所述第一拐点和所述第二拐点之间的连接杆的中心线夹角为140o，所述探针段的...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈斌，周伟，闫福华，刘娟，李丽丽，
申请(专利权)人：南京市口腔医院，
类型：新型
国别省市：江苏;32