【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】存储器装置的健康特性
本专利技术一般来说涉及半导体存储器及方法，且更特定来说涉及与存储器装置的健康特性相关的设备及方法。
技术介绍
存储器装置通常经提供为计算系统中的内部半导体集成电路。存在许多不同类型的存储器，包含易失性存储器及非易失性存储器。易失性存储器可需要电力来维持其数据(例如，主机数据、错误数据等)且包含随机存取存储器(RAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、同步动态随机存取存储器(SDRAM)及闸流管随机存取存储器(TRAM)等等。非易失性存储器在不被供电时可通过存留所存储数据而提供永久数据，且可包含NAND快闪存储器、NOR快闪存储器及电阻可变存储器(例如相变随机存取存储器(PCRAM))、电阻式随机存取存储器(RRAM)及磁阻式随机存取存储器(MRAM)(例如自旋扭矩转移随机存取存储器(STTRAM))等等。计算系统通常包含可检索及执行指令且将所执行指令的结果存储到适合位置的若干个处理资源(例如，一或多个处理器)。处理资源可包括若干个功能单元，例如算术逻辑单元(ALU...
【技术保护点】
1.一种设备，其包括：/n第一存储器装置；/n第二存储器装置，其到所述第一存储器；及/n控制器，其耦合到所述第一存储器装置及所述第二存储器装置，其中所述控制器经配置以致使：/n通过在所述第一存储器装置上执行指令而将所述设备初始化，其中将所述设备初始化包括根据与由所述第二存储器装置使用的一组语义不同的一组语义来操作所述设备；及/n在所述设备被初始化之后做出关于所述第二存储器装置的至少一个健康特性的确定。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180319 US 62/644,925;20180613 US 16/007,1911.一种设备，其包括：
第一存储器装置；
第二存储器装置，其到所述第一存储器；及
控制器，其耦合到所述第一存储器装置及所述第二存储器装置，其中所述控制器经配置以致使：
通过在所述第一存储器装置上执行指令而将所述设备初始化，其中将所述设备初始化包括根据与由所述第二存储器装置使用的一组语义不同的一组语义来操作所述设备；及
在所述设备被初始化之后做出关于所述第二存储器装置的至少一个健康特性的确定。
2.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一存储器装置包括随机存取存储器装置且所述第二存储器装置包括嵌入式多媒体控制器eMMC。
3.根据权利要求1到2中任一权利要求所述的设备，其中所述控制器进一步经配置以致使响应于选择性地传送所述指令以使用所述第一存储器装置来将所述设备初始化以提供所述设备的操作而变更与所述第二存储器装置相关联的时序。
4.根据权利要求1到2中任一权利要求所述的设备，其中所述控制器进一步经配置以致使通过执行存储于嵌入式NOR装置、外部通用串行总线USB装置、操作系统图像或其组合上的指令而在所述第一存储器装置上将所述设备初始化。
5.根据权利要求1到2中任一权利要求所述的设备，其中所述第二存储器装置经配置以根据与由所述第一存储器装置使用的所述组语义不同的所述组语义来进行操作，且其中所述控制器经配置以停用所述第二存储器装置，使得使用在所述第一存储器装置上执行的第一组语义来将所述设备初始化。
6.根据权利要求1到2中任一权利要求所述的设备，其中所述第二存储器装置的所述至少一个健康特性包括以下各项中的至少一者：卡检查状态、卡寄存器状态、所述第二存储器装置的存储器装置故障块的数量、与所述第二存储器装置相关联的编程-擦除循环的数量、与所述第二存储器装置相关联的不可校正错误的数量，或其组合。
7.一种设备，其包括：
处理资源，其耦合到第一存储器部分、第二存储器部分及控制器，其中：
所述控制器经配置以致使：
对初始化操作的控制从所述第二存储器部分转移到所述第一存储器部分；
使用与所述第一存储器部分相关联的存储器资源来执行所述初始化操作；及
对所述第二存储器部分执行多个诊断测试。
8.根据权利要求7所述的设备，其中所述多个诊断测试包括用以确定所述第二存储器部分的多个健康特性的诊断测试。
9.根据权利要求7到8中任一权利要求所述的系统，其中所述控制器经配置以致使作为执行所述多个诊断测试的一部分而将经修改命令发送到与部署于所述第二存储器部分上的操作系统相关联的核心空间。
10.根据权利要求7到8中任一权利要求所述的系统，其中所述控制器进一步经配置以致使响应于对所述初始化操作的控制从所述第二存储器部分转移到所述第一存储器部分而变更与所述第二存储器部分的操作相关联的时序。
11.根据权利要求7...
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