【技术实现步骤摘要】
成像装置和电子设备相关申请的交叉参考本申请是中国专利申请第201880040564.4号的分案申请，第201880040564.4号的专利申请其申请日是2018年7月25日，专利技术名称是“成像装置和电子设备”。
本公开涉及成像装置(例如，固态成像装置)和电子设备，特别地，涉及可以设置更合适的相位差像素的成像装置和电子设备。
技术介绍
近年来，设有相位差检测用的像素(以下称为相位差像素)的固态成像装置被用于提高自动聚焦的速度。这种类型的相位差像素的结构的示例包括专利文献1中公开的已知技术。此外，在像素阵列单元中二维排列的多个像素的排列模式的示例包括共享像素规则地排列的已知的排列模式，其中相邻的同色的像素(同色的四个(2×2)像素)共享像素电路。[引用文献列表][专利文献]专利文献1：JP2016-15430A
技术实现思路
[技术问题]顺便提及地，在采用包括具有相邻的同色的像素的共享像素规则地排列的排列模式的情况下，在将相位差像素设置到共享像素的像素...
【技术保护点】
1.一种成像装置，包括：/n包括多个像素组的像素阵列单元，所述多个像素组中的每个像素组是i)仅包括普通像素的普通像素组或ii)包括至少一个普通像素和至少一个相位差检测像素的混合像素组中的一种，其中/n对于每个普通像素组，所述普通像素接收透过同色的滤色器的光，和/n对于每个混合像素组，所述至少一个相位差检测像素与至少一个其他相位差检测像素共享片上透镜，并接收透过与所述至少一个其他相位差检测像素同色的滤色器的光。/n
【技术特征摘要】
20170803 JP 2017-150744;20180201 JP 2018-0160771.一种成像装置，包括：
包括多个像素组的像素阵列单元，所述多个像素组中的每个像素组是i)仅包括普通像素的普通像素组或ii)包括至少一个普通像素和至少一个相位差检测像素的混合像素组中的一种，其中
对于每个普通像素组，所述普通像素接收透过同色的滤色器的光，和
对于每个混合像素组，所述至少一个相位差检测像素与至少一个其他相位差检测像素共享片上透镜，并接收透过与所述至少一个其他相位差检测像素同色的滤色器的光。
2.根据权利要求1所述的成像装置，其中
所述多个像素组中的每个像素组均包括2×2阵列的四个像素，和
对于所述混合像素组，所述四个像素包括所述至少一个相位差检测像素。
3.根据权利要求2所述的成像装置，其中
所述至少一个相位差检测像素包括第一相位差检测像素，所述至少一个其他相位差检测像素包括第二相位差检测像素，并且第一相位差检测像素与第二相位差检测像素彼此相邻且属于不同的混合像素组。
4.根据权利要求3所述的成像装置，其中
第一相位差检测像素的触头和第二相位差检测像素的触头与同一驱动线电气连接。
5.根据权利要求4所述的成像装置，其中
所述多个像素组中的每个像素组内的普通像素的触头与相应的驱动线电气连接，以针对每个普通像素控制曝光时间，和
第一相位差检测像素的触头和第二相位差检测像素的触头与同一驱动线电气连接，使得第一相位差检测像素和第二相位差检测像素具有相同的曝光时间。
6.根据权利要求1所述的成像装置，还包括：
多个浮动扩散区域，每个浮动扩散区域用于相应的像素组；和
多个像素电路，每个像素电路用于相应的像素组。
7.根据权利要求5所述的成像装置，其中
所述多个像素组以矩阵状排列，和
所述混合像素组在行方向和列方向上以预定间隔配置。
8.根据权利要求1所述的成像装置，其中
所述多个像素组中的每个像素组均包括以2×2阵列配置的四个像素，
所述至少一个相位差检测像素包括第一相位差检测像素，
所述至少一个其他相位差检测像素包括第二相位差检测像素，和
第一和第二相位差检测像素具有相同的曝光时间。
9.根据权利要求5所述的成像装置，其中
所述四个像素包括具有第一曝光时间的第一普通像素和具有比第一曝光时间短的第二曝光时间的第二普通像素，和
第一相位差检测像素和第二相位差检测像素的相同的曝光时间在第一曝光时间和第二曝光时间之间。
10.根据权利要求8所述的成像装置，其中
所述四个像素包括具有第一曝光时间的第一普通像素和具有比第一曝光时间短的第二曝光时间的第二普通像素，和
第一相位差检测像素和第二相位差检测像素的相同的曝光时间是第一曝光时间。
11.根据权利要求6所述的成像装置，其中
第一相位差检测像素和第二相位差检测像素与不同的浮动扩散区域联接。
12.根据权利要求1所述的成像装置，...
【专利技术属性】
技术研发人员：高桥圭一郎，小林一仁，锦织克美，田中翔悠，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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