卫星电子产品的可靠性鉴定方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:26171874 阅读:31 留言:0更新日期:2020-10-31 13:46
本发明专利技术公开了一种卫星电子产品的可靠性鉴定方法、装置、设备及存储介质,其中一实施例包括:基于卫星电子产品的可靠性指标确定所述卫星电子产品的平均故障间隔时间MTBF以及所述MTBF的判断规则;获取卫星电子产品在轨运行时的环境应力数据,并根据所述环境应力数据确定加速试验应力模型以及所述加速试验应力模型的加速因子;基于所述判断规则和所述加速因子确定不同置信度和卫星电子产品的不同数量故障件下的加速试验时间,根据所述加速试验时间对卫星电子产品进行加速可靠性鉴定试验。该实施例能够在较短试验时间内,准确评估卫星电子产品的可靠性指标,节约了试验时间和费用,缩短了产品研制周期。

【技术实现步骤摘要】
卫星电子产品的可靠性鉴定方法、装置、设备及存储介质
本专利技术涉及可靠性鉴定领域。更具体地,涉及一种卫星电子产品可靠性的可靠性鉴定方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
2018年全球包含小卫星的发射达到44次,总数达到322颗,占全球卫星发射总数量的69%,但仅占总质量的4%。“欧洲咨询”(Euroconsult)公司预计小卫星5年增长率将在2024年达到48%的峰值,2019年至2028年,全球预计将发射几万多颗小卫星。小卫星相较传统的几吨级及以上的大卫星具有体积小、重量轻、制造成本低、可灵活发射、一次发射多颗、一颗或几颗卫星的损毁不会导致整个系统失效等优势。因此,美国、欧洲、日本、中国等航天强国都将小卫星作为未来卫星的重要发展方向,诸如“星链”、“虹云工程”等小卫星星座的建设正在紧锣密鼓的展开,这些星座的卫星规模从几百颗到上万颗不等。小卫星具有研制周期短、一次发射多颗、要求较短时间内完成组网的特点,但是对于小卫星的可靠性同样有较高要求,如果不在地面对卫星电子产品的可靠性指标进行鉴定,可能会造成小卫星在轨运行时造成批量可靠性指标无法本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种卫星电子产品的可靠性鉴定方法,其特征在于,包括:/n基于卫星电子产品的可靠性指标确定所述卫星电子产品的平均故障间隔时间MTBF以及所述MTBF的判断规则;/n获取卫星电子产品在轨运行时的环境应力数据,并根据所述环境应力数据确定加速试验应力模型以及所述加速试验应力模型的加速因子;/n基于所述判断规则和所述加速因子确定不同置信度和卫星电子产品的不同数量故障件下的加速试验时间,根据所述加速试验时间对卫星电子产品进行加速可靠性鉴定试验。/n

【技术特征摘要】
1.一种卫星电子产品的可靠性鉴定方法,其特征在于,包括:
基于卫星电子产品的可靠性指标确定所述卫星电子产品的平均故障间隔时间MTBF以及所述MTBF的判断规则;
获取卫星电子产品在轨运行时的环境应力数据,并根据所述环境应力数据确定加速试验应力模型以及所述加速试验应力模型的加速因子;
基于所述判断规则和所述加速因子确定不同置信度和卫星电子产品的不同数量故障件下的加速试验时间,根据所述加速试验时间对卫星电子产品进行加速可靠性鉴定试验。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述可靠性指标为可靠度R,所述可靠度R表示为:
R=e-λt=e-t/θ;
其中,t为卫星电子产品的工作时间或在轨运行时间,单位为(h),t=n×8760,n为卫星电子产品的工作时间,单位为(年);
λ为基本失效率,
θ为平均寿命,

Ln(R)为对可靠度R取自然对数。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述判断规则为:
工作n年的卫星电子产品的MTBF不低于


4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取卫星电子产品在轨运行时的环境应力数据,并根据所述环境应力数据确定加速试验应力模型以及所述加速试验应力模型的加速因子,进一步包括:
根据获取的环境应力数据建立与所述可靠性指标相关的加速试验应力模型;
根据加速因子的定义公式以及加速试验应力模型得到所述加速试验应力模型的加速因子。


5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述卫星电子产品的加速试验应力模型为阿伦尼斯模型,表示为:其中,

为在热力学温度T时的反应速率;
A为大于0的常数,且A>0;
k为玻尔兹曼常数,取8.617×10-5eV/K;

【专利技术属性】
技术研发人员:陈咏孟凡达
申请(专利权)人:航天科工空间工程发展有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1