新型单源多探测器康普顿背散射工业CT装置制造方法及图纸

技术编号:2617085 阅读:284 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种新型单源多探测器康普顿背散射工业CT装置,包括置于被检工件同一侧的放射源和探测器,所述探测器有2↑[x]个探头,探头分别布置在弧形钢条上的对准工件激活区的孔中,所述放射源和探测器固定在旋转平台上,旋转平台安装在移动支架上;该装置可以成百倍地提高扫描速度,同时还提高了图像的空间分辨率和密度分辨率,性能远远超过第一代康普顿背散射工业CT,具有广阔的开发前景。(*该技术在2008年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种射线成像装置。工业CT(Industrial Computed Tomography)可分为两种类型,一种是放射源与探测器分布于工件两侧的透射式,另一种是放射源与探测器分布于工件同一侧的康普顿背散射式。康普顿背散射式工业CT是近年来获得较快发展的射线成像系统,它被广泛地应用于工业和国防产品的无损检测。其独特优点包括放射源与探测器置于受检工件的同一侧,避免了透射检测有时无法安排探测器,或工件过大不能穿透的问题,可以得到被检工件内不同深度的信息,具有层析成像能力,并可重建三维图像,灵敏度高,理论上图像对比度可达100%。其原理是当放射源产生的一束射线I经前准直器准直后射入工件与其中的电子发生康普顿散射时,探测器接受到的散射线I’是体积元dV在散射角θ方向(θ>90°)发射的康普顿背散射线。通过测量康普顿散射I’,可以获得被检工件体积dV中的电子密度信息,而该密度又近似与dV区域的物质密度成正比。通过扫描系统可以采集被检工件某一断层上各体素的康普顿散射数据,从而成为重建图像的基础。康普顿背透射式工业CT的技术难度较透射式CT更大,文献检索表明,目前国内外仅仅出现了第一代本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型单源多探测器康普顿背散射工业CT装置,包括置于被检工件同一侧的放射源[1]和探测器[2],其特征在于:所述探测器[2]有2↑[x]个探头,探头分别布置在弧形钢条[3]上的对准工件激活区的孔[4]中,所述放射源[1]和探测器[2]固定在旋转平台[5]上,旋转平台[5]安装在移动支架[6]上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:肖建民
申请(专利权)人:苏州兰博高科技企业集团有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:32[中国|江苏]

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