一种多视角垂直底照X射线安检机制造技术

本发明专利技术提供了一种多视角垂直底照X射线安检机。采用中部底照宽扇形角X射线源和倒U形透射探测器阵列，中部底照宽扇形角X射线源安装于底座的中间和安检通道的下方部位，X射线源发出的X射线锥束经准直器形成扇形束，然后透过行李，被倒U形透射探测器阵列接收。其中，倒U形透射探测器阵列呈倒U形分布于左侧壁、右侧壁和顶板上，且位于中部底照扇形角X射线源的正上方；每个透射探测器的接受面均与所述中部底照宽扇形角X射线源和所述透射探测器组成的连线垂直，以使所述中部底照宽扇形角X射线源发出的射线垂直入射进入所述透射探测器。本发明专利技术采用三面传感探测，安检精度显著提高，解决射线接收面不能与射线完全垂直的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种多视角垂直底照X射线安检机
本专利技术属于安全检测
，尤其涉及一种多视角垂直底照X射线安检机。
技术介绍
在现有安全检查技术中，基于X射线透射成像技术的无损检测方法，以其同时具备检查结果准确性高、对容器材质敏感性低、操作便捷等特点，受到越来越多安检厂商的重视。其方法可简述为：由X射线源发出的X射线透射被检查物品，利用探测器接收透射过被检查物品的射线束，通过系统控制及信号处理得到数以百计的多角度投影数据，以辨别是否有危险物。其中，X射线投射方法是由于物质对X射线的吸收作用，当X射线穿过被检物后会有一部分能量被吸收，不同种类的材料对X射线的吸收能力不同，穿过不同材料的X射线束到达探测器时的能量也是不同的。经过处理，探测器接收的能量大小以灰度级图像显示，这种方法能检查出金属武器、刀具等。双能X射线透射方法识别材料的精度用分辨有效原子序数的精度来衡量。该类设备能同时得到被检物的低能和高能信息，并根据这两种信息计算出被检物品组成物质的有效原子序数Zeff信息，从而实现对被检物品的分类和识别，可以将无机物从有机物中分离出来，如将行李中常见的玻璃等无机物分离出来。现有技术中，为了克服单方向检测物体的视图数量不足以正确判定待检测物体是否危险，产生了从双向甚至多向检测物体，为安检员提供更多的图像信息来判断检测物体是否存在危险物品。因此安检机内会设有多个射线探测器，有时射线探测器之间的距离会很小，这样的话会导致相邻的射线探测器检测的一部分射线会发生散射，进而产生相互干扰，导致图像效果差。此外，探测器作为射线成像设备的重要组成部分，为获得高性能的探测器，除了探测器阵列和探测器单元的尺寸大小需要合理的设计外，还需要对射线的传播和接收进行控制，尽可能使大部分的光能够传到探测器上，减小统计噪声，从而能够对信号取得较强的能量甄别和时间甄别，最终可以获得更高的空间分辨率。
技术实现思路
针对上述现有技术存在的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种多视角垂直底照X射线安检机，采用倒U形透射探测器阵列实现三面传感探测，每个透射探测单元的接受面均与所述中部底照宽扇形角X射线源和所述透射探测器组成的连线垂直，以使中部底照宽扇形角X射线源发出的射线垂直入射进入透射探测器，解决射线接收面不能与射线完全垂直及图像比例失真严重的问题。为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案实现：一种多视角垂直底照X射线安检机，包括机架、左侧壁、右侧壁、顶板、底座、安检通道和传送带，采用中部底照宽扇形角X射线源，安装于所述底座的中间和安检通道的下方部位，所述中部底照扇形角X射线源配有准直器和倒U形透射探测器阵列；所述倒U形透射探测器阵列呈倒U形分布于所述左侧壁、右侧壁和顶板上，且位于所述中部底照扇形角X射线源的正上方；所述中部底照扇形角X射线源发出的X射线锥束经所述准直器形成扇形束，然后透过所述安检通道中的行李，被所述倒U形透射探测器阵列接收，以实现X射线对称穿透所述行李的四个面，提高安检精确度。进一步的，所述安检机还包括系统控制及信号处理电路单元及与其进行数据传输的综合处理工控机。进一步的，所述倒U形透射探测器阵列包括若干个分布于所述左侧壁、右侧壁和顶板上的左侧壁的透射探测单元、右侧壁的透射探测单元和顶板的透射探测单元。进一步的，每个所述透射探测单元包括探测器盒体和设置于探测器盒体内的透射探测器，所述探测盒体上开设有供射线通过的射线区域，每个所述射线区域位于所述中部底照扇形角X射线源与透射探测器的连线之间，且所述射线区域一侧朝向所述中部底照宽扇形角X射线源。进一步的，每个所述左侧壁的透射探测单元、右侧壁的透射探测单元和顶板的透射探测单元的接受面均与所述中部底照宽扇形角X射线源和所述透射探测器组成的连线垂直，以使所述中部底照宽扇形角X射线源发出的射线垂直入射进入所述透射探测器。进一步的，相邻所述透射探测器与所述中部底照宽扇形角X射线源组成的连线之间的夹角小于15°。进一步的，相邻所述透射探测单元之间安装有屏蔽板。进一步的，所述射线区域的宽度为1～30mm。进一步的，所述倒U形透射探测器阵列是采用微型硅光电二极管和碘化铯闪烁晶体制成的具有国际标准接口的探测器组件。进一步的，所述倒U形透射探测器阵列中采用的微型硅光电二极管象数尺寸为1.6×2.0mm2。有益效果与现有技术相比，本专利技术提供的一种多视角垂直底照X射线安检机具有如下有益效果：(1)本专利技术提供的多视角垂直底照X射线安检机，采用中部底照宽扇形角X射线源和倒U形透射探测器阵列，中部底照宽扇形角X射线源发出的X射线锥束经所述准直器形成扇形束，然后透过所述安检通道中的行李，被所述倒U形透射探测器阵列接收。如此设置，能够照射物体的底部、上部、左部、右部，共4个面的信息，检查能力强，图像比例不失真不失调，能够对不同大小、材质、形状的危险物品进行有效检测。(2)本专利技术提供的多视角垂直底照X射线安检机，采用倒U形透射探测器阵列实现三面传感探测，每个透射探测单元的接受面均与所述中部底照宽扇形角X射线源和所述透射探测器组成的连线垂直，以使中部底照宽扇形角X射线源发出的射线垂直入射进入透射探测器，从而提高射线接收率和检测精度，解决射线接收面不能与射线完全垂直及图像比例失真严重的问题。(3)本专利技术提供的多视角垂直底照X射线安检机，相邻所述透射探测器与所述中部底照宽扇形角X射线源组成的连线之间的夹角小于15°，从而尽可能增加透射探测单元的数量，使得各个角度的射线均能被接收，实现全面覆盖性检测，从而提高检测精度。(4)本专利技术通过对倒U形透射探测器阵列在安检机的顶板和侧壁上的分布进行合理设计，使得相邻两个透射探测单元的射线区域既不被遮挡，又能近似垂直的接收射线，从而最大限度的获取射线信号，并能防止相邻两个透射探测单元由于交叉检测，导致检测难度增大和结果误判的问题。附图说明图1为本专利技术一种多视角垂直底照X射线安检机的立体结构示意图；图2为本专利技术一种多视角垂直底照X射线安检机的主视图；图3为本专利技术一种多视角垂直底照X射线安检机的左视图；图4为本专利技术一种多视角垂直底照X射线安检机的探测单元的主视图；图5为透射探测单元的结构示意图。图中，10-中部底照宽扇形角X射线源，20-左侧壁，30-右侧壁，40-顶板，50-行李，60-底座，70-传送带，11-准直器，12-左侧壁的倒U形透射探测器阵列，13右侧壁的倒U形透射探测器阵列，14-顶板的倒U形透射探测器阵列，121-左侧壁的透射探测单元，131-右侧壁的透射探测单元，141-顶板的透射探测单元，1411-探测器盒体，1412-透射探测器，1413-射线区域。具体实施方式以下将对本专利技术各实施例的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施例，都属于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多视角垂直底照X射线安检机，包括机架、左侧壁(20)、右侧壁(30)、顶板(40)、底座(60)、安检通道和传送带(70)，其特征在于，采用中部底照宽扇形角X射线源(10)，安装于所述底座(60)的中间和安检通道的下方部位，所述中部底照扇形角X射线源配有准直器(11)和倒U形透射探测器阵列；所述倒U形透射探测器阵列呈倒U形分布于所述左侧壁(20)、右侧壁(30)和顶板(40)上，且位于所述中部底照扇形角X射线源的正上方；所述中部底照扇形角X射线源发出的X射线锥束经所述准直器(11)形成扇形束，然后透过所述安检通道中的行李(50)，被所述倒U形透射探测器阵列接收，以实现X射线对称穿透所述行李(50)的四个面，提高安检精确度。/n

【技术特征摘要】
1.一种多视角垂直底照X射线安检机，包括机架、左侧壁(20)、右侧壁(30)、顶板(40)、底座(60)、安检通道和传送带(70)，其特征在于，采用中部底照宽扇形角X射线源(10)，安装于所述底座(60)的中间和安检通道的下方部位，所述中部底照扇形角X射线源配有准直器(11)和倒U形透射探测器阵列；所述倒U形透射探测器阵列呈倒U形分布于所述左侧壁(20)、右侧壁(30)和顶板(40)上，且位于所述中部底照扇形角X射线源的正上方；所述中部底照扇形角X射线源发出的X射线锥束经所述准直器(11)形成扇形束，然后透过所述安检通道中的行李(50)，被所述倒U形透射探测器阵列接收，以实现X射线对称穿透所述行李(50)的四个面，提高安检精确度。


2.根据权利要求1所述的一种多视角垂直底照X射线安检机，其特征在于，所述安检机还包括系统控制及信号处理电路单元及与其进行数据传输的综合处理工控机。


3.根据权利要求1所述的一种多视角垂直底照X射线安检机，其特征在于，所述倒U形透射探测器阵列包括若干个分布于所述左侧壁(20)、右侧壁(30)和顶板(40)上的左侧壁的透射探测单元(121)、右侧壁的透射探测单元(131)和顶板的透射探测单元(141)。


4.根据权利要求3所述的一种多视角垂直底照X射线安检机，其特征在于，每个所述透射探测单元包括探测器盒体(1411)和设置于探测器盒体(1411)内的透射探测器(1412)，所述探测盒体上开设有供射线通过的射线区域(1413)，每个所述射线...

【专利技术属性】
技术研发人员：李国军，
申请(专利权)人：李国军，
类型：发明
国别省市：广东;44