动态高速高灵敏度成像装置及成像方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种动态高速高灵敏度成像装置及成像方法。具体而言，使用具有结构化的照明模式的光学系统或具有光特性不同的多个区域的结构化的检测系统中的任一者或双方。并且，在改变观测对象与光学系统或检测系统中任一者的相对位置的同时，用一个或少量像素检测元件检测来自观测对象的光信号，从而得到光信号的时间序列信号信息，从时间序列信号信息重建与观测对象相关的图像。

【技术实现步骤摘要】
动态高速高灵敏度成像装置及成像方法本申请是申请日为2016年2月24日、申请号为201680011390.X、名称为“动态高速高灵敏度成像装置及成像方法”的专利技术专利申请的分案申请。
本专利技术涉及观测对象物和投射结构照明的光学系统或具有结构的检测系统相对位移的动态高速高灵敏度成像技术。本申请基于2015年2月24日在日本申请的日本特愿2015-033520号要求优先权，其内容援用于本文。
技术介绍
日本特开2014-175819号公报(专利文献1)公开了包括排列成二维阵列状的电磁波检测元件的成像系统。使用了阵列型检测元件的成像装置存在如下问题：因使元件动作的电性限制而造成拍摄速度有限，且价格昂贵，尺寸也大。日本特表2006-520893号公报(专利文献2)公开了单一像素检测装置。另外，日本专利3444509号公报(专利文献3)公开了具有一个像素检测单元的图像读取装置。进行一个像素检测的成像装置需要在时间空间上使照明光结构化以拍摄图像。因此，进行一个像素检测的成像装置随着在时间空间上改变照明光而产生机械/电性限制，从而本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种成像方法，其使用具有结构化的照明模式的光学系统或具有光特性不同的多个区域的结构化的检测系统中的任一者或双方，/n在改变观测对象与所述光学系统或所述检测系统中任一者的相对位置的同时，用一个或少量像素检测元件检测来自所述观测对象的光信号，从而得到所述光信号的时间序列信号信息，从所述时间序列信号信息重建与观测对象相关的图像。/n

【技术特征摘要】
20150224 JP 2015-0335201.一种成像方法，其使用具有结构化的照明模式的光学系统或具有光特性不同的多个区域的结构化的检测系统中的任一者或双方，
在改变观测对象与所述光学系统或所述检测系统中任一者的相对位置的同时，用一个或少量像素检测元件检测来自所述观测对象的光信号，从而得到所述光信号的时间序列信号信息，从所述时间序列信号信息重建与观测对象相关的图像。


2.一种成像装置，具有：
光学系统(11)，具有有着光特性不同的多个区域的结构化的照明模式；
一个或少量像素检测元件(15)，检测观测对象物(13)接受从所述光学系统(11)放出的光而发出的光信号；
相对位置控制机构(17)，使所述光学系统(11)与观测对象物(13)的相对位置发生变动；以及
像重建部(19)，使用所述一个或少量像素检测元件(15)检测到的光信号来重建所述观测对象物的像。


3.如权利要求2所述的成像装置，其中，
所述光信号为荧光、发光、透射光或反射光。


4.如权利要求2所述的成像装置，其中，
所述光特性为光强度、光波长和偏振中的任意一个以上。


5.如权利要求2所述的成像装置，其中，
所述相对位置控制机构(17)是使所述观测对象物(13)的位置发生变动的机构。


6.如权利要求2所述的成像装置，其中，
所述相对位置控制机构(17)是使所述光学系统(11)的位置发生变动的机构。


7.如权利要求2所述的成像装置，其中，
所述像重建部(19)是使用所述一个或少量像素检...

【专利技术属性】
技术研发人员：太田祯生，堀崎辽一，桥本和树，
申请(专利权)人：国立大学法人东京大学，国立大学法人大阪大学，
类型：发明
国别省市：日本;JP