基于群时延谱的光谱分析方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于群时延谱的光谱分析方法，根据待测物的光谱信息对待测物进行分析；所述光谱信息包括群时延谱。本发明专利技术还公开了一种基于群时延谱的光谱分析装置。本发明专利技术首次提供了解析重叠光谱的直接方法，填补了光谱分析领域直接解析重叠光谱的空白；本发明专利技术无需从外部引入扰动或非线性，也无需对待测物进行多次测量和大量计算，一次测量即可直接获取重叠特征谱线的频率或波长，大幅度提高了测量效率和准确率，且能对待测物进行实时测量；另外，在群时延谱中，弱吸收峰不会被强吸收峰淹没，此特性可用于检测痕量元素；类似于广泛应用的幅度谱和相位谱，群时延谱可以从现有光谱方法可测量的任何样品中提取，并应用于现有的光谱分析技术中。

【技术实现步骤摘要】
基于群时延谱的光谱分析方法及装置
本专利技术涉及一种光谱分析方法，尤其涉及一种能够直接解析重叠光谱的光谱分析方法，属于光学测量

技术介绍
近半个世纪以来，光谱分析在物理、化学、生物、考古学、天文学等领域都得到了广泛的应用。不同种类的原子具有不同波长的特征谱线，这些特征谱线可用来鉴别物质的化学组成和物理结构。然而，在各种因素的影响下，特征谱线会被加宽。相邻的特征谱线在加宽后往往会连接成一条更宽的谱线，造成重叠光谱。重叠的光谱难以直接区分，为物质的鉴别带来了巨大的困难。特别是复杂分子和分子混合物，常常拥有大量相邻的特征谱线，重叠光谱的问题更加严重，甚至会形成带状光谱。因此，解析重叠光谱是光谱分析技术中的重大基础问题。在现有光谱分析技术中，幅度谱和相位谱作为基础的分析手段被广泛应用。然而这两种光谱信息都没有解析重叠光谱的能力。为了解析重叠光谱，人们提出了多维相干光谱分析技术和数据分析等间接方法，而直接解析重叠光谱的方法至今仍处空白。多维相干光谱分析技术[Lomsadze,B.,Cundiff,S.T.,Frequencycombse本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于群时延谱的光谱分析方法，根据待测物的光谱信息对待测物进行分析；其特征在于，所述光谱信息包括群时延谱。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于群时延谱的光谱分析方法，根据待测物的光谱信息对待测物进行分析；其特征在于，所述光谱信息包括群时延谱。


2.如权利要求1所述基于群时延谱的光谱分析方法，其特征在于，所述光谱信息还包括幅度谱和/或相位谱。


3.如权利要求1所述基于群时延谱的光谱分析方法，其特征在于，所述群时延谱由相位谱对频率求导得到。

【专利技术属性】
技术研发人员：潘时龙，卿婷，李树鹏，方奕杰，汤晓虎，王立晗，曹美会，李欣雨，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32