一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统，所述透射电镜系统包括：透射电子显微镜、激光引导系统以及样品承载器件，所述样品承载器件包括光纤和样品夹具，所述透射电子显微镜从第一方向聚焦至所述样品夹具上的样品，所述激光引导系统用于将激光从所述光纤的第一端引导进入所述光纤，并由所述光纤的第二端从第二方向对向所述样品。所述系统可以实现物质结构和性质的双重检测，具有重大的科研价值。并且本发明专利技术通过安装有光纤的样品杆将会聚光引入透射电镜，并具有对超快激光的脉宽压缩功能，大幅度减弱超快激光通过光纤后的脉宽展宽。

【技术实现步骤摘要】
一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统及方法
本专利技术涉及透射电子显微镜
，更具体地，涉及一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统。
技术介绍
探索材料原子结构、电子结构与其物理性质的对应关系是凝聚态物理研究的最重要任务之一，目前在实验技术上还是一个挑战。超快动力学过程反映微观物质结构的基本运动规律和材料本征特征，是自然科学研究中一直受到重视的方向，也孕育着重要的应用前景，如能量转换与电荷转移、传感器等。发展空间分辨的超快动力学表征技术，测量研究纳米体系激发态及其动力学过程的微观机理，对于开拓凝聚态物理研究新的研究方向和应用领域具有重要的意义。最近几年透射电子显微镜的发展将结构表征能力推进到了原子尺度，并可在原子尺度表征电子结构。同时，光谱学表征技术的发展，以及飞秒激光技术的出现和应用，使得探测超快的物理和化学过程，尤其是动态瞬时和中间过程成为可能。一些新学科，如飞秒动力学、飞秒光化学，也随之产生和发展起来。但商业的电镜仅仅具有结构表征能力，功能单一，无法与材料物性直接关联。另外，现有的电镜技术，在电镜本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统，其特征在于，所述透射电镜系统包括：透射电子显微镜、激光引导系统以及样品承载器件，所述样品承载器件包括光纤和样品夹具，所述透射电子显微镜从第一方向聚焦至所述样品夹具上的样品，所述激光引导系统用于将激光从所述光纤的第一端引导进入所述光纤，所述光纤的第二端从第二方向对向所述样品。/n

【技术特征摘要】
1.一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统，其特征在于，所述透射电镜系统包括：透射电子显微镜、激光引导系统以及样品承载器件，所述样品承载器件包括光纤和样品夹具，所述透射电子显微镜从第一方向聚焦至所述样品夹具上的样品，所述激光引导系统用于将激光从所述光纤的第一端引导进入所述光纤，所述光纤的第二端从第二方向对向所述样品。


2.根据权利要求1所述的透射电镜系统，其特征在于，所述激光引导系统包括：偏振激光发生装置、空间光调制器(10)、图像采集器件(18)以及系统控制器，所述偏振激光发生装置用于获取偏振激光，所述样品可发射双光子荧光，所述偏振激光经所述空间光调制器(10)后被聚焦至所述光纤的第一端，从所述光纤的第二端出射的激光对所述样品进行照射，所述图像采集器件(18)采集所述样品发出的荧光信号，所述系统控制器基于所述荧光信号分区域调节所述空间光调制器(10)的调制相位，以获得所述空间光调制器各区域所对应的最佳相位。


3.根据权利要求1所述的透射电镜系统，其特征在于，所述偏振激光发生装置包括激光器(1)、扩束准直器(2)以及第一偏振分光器件(7)，扩束准直器(2)用于对所述激光器(1)发出的激光进行准直扩束，所述第一偏振分光器件(7)用于对准直扩束后的激光进行起偏。


4.根据权利要求2所述的透射电镜系统，其特征在于，空间光调制器(10)被划分成若干子区域，对于每个子区域，所述系统控制器控制所述空间光调制器(10)的调制图案改变，并确定所述图像采集器件(18)所采集到的荧光信号最大时，该子区域所对应的最佳调制图案。


5.根据权利要求1所述的透射电镜系统，其特征在于，所述样品承载器件为样品杆(14)，所述光纤(21)穿过所述样品杆(14)，所述样品杆(14)包括：前端头和样品杆本体；其中，所述前端头为U形杆，U形杆所在平面与所述第一方向垂直，所述前端头的开口端与所述样品杆本体相接；所述前端头包括：用于将样品固定在U形杆内侧的样品固定件和用于调整所述光纤(21)位置的光纤定位装置。
...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘畅，马超杰，刘开辉，王恩哥，白雪冬，
申请(专利权)人：中国科学院物理研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11