一种制备高纯钌靶EBSD样品的方法技术

技术编号:26167588 阅读:26 留言:0更新日期:2020-10-31 13:22
本发明专利技术涉及一种制备高纯钌靶EBSD样品的方法,属于EBSD试样制备技术领域。将高纯钌靶线切割成待测试样,进行机械磨抛,清洁干净后再用二氧化硅悬浮液抛光20‑30分钟,抛光速度逐渐减慢,最后用清水将试样抛光20‑30秒;用中性洗涤剂清洁试样表面,并在水龙头下冲洗试样表面,直至样品表面充分清洗干净,最后吹风机冷风吹干。本发明专利技术操作简便,能够去除高纯钌靶的表面机械应力,同时不给样品表面带来污染及组织改变,获得真实高质量的测试样品。

【技术实现步骤摘要】
一种制备高纯钌靶EBSD样品的方法
本专利技术涉及一种EBSD试样制备方法,特别涉及一种制备高纯钌靶EBSD样品的方法,属于EBSD试样制备

技术介绍
高纯钌靶主要应用于集成电路溅射靶材,是垂直磁记录多层膜结构中重要的材料之一,钌溅射薄膜主要作为中间膜层,起到减小上下层之间晶格失配盈利、增加稳定性与降低噪声等作用。作为溅射靶材,靶材的质量直接影响薄膜的质量及成品率,靶材的微观结构、组织均匀性、晶粒尺寸及取向分布对溅射靶材的性能有极大的影响。在一定的晶粒尺寸范围内,晶粒取向越趋于一致,靶材溅射性能越好,同时晶粒取向对靶材的寿命也有影响。因此,对高纯钌靶的晶粒尺寸及晶粒取向的微观分析就显得尤为重要。目前最常用的晶粒尺寸与取向的表征方法就是EBSD(电子背散射衍射)技术,这种分析技术是利用电子束在倾斜样品表面激发出背散射电子,形成衍射菊池花样,从而获取样品表面的微观组织信息。通过EBSD可以全面的分析靶材的微观组织特征,包含晶粒尺寸、晶界、微观取向织构等多种信息,在靶材的晶粒尺寸与取向表征中获得极大的应用。>EBSD分析测试要本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于制备高纯钌靶材EBSD样品的方法,包括以下步骤:/n(1)将热压烧结制得的高纯钌靶线切割成待测试样;/n(2)将所述的待测试样进行机械打磨,将试样依次在由粗到细的五道水砂纸上进行磨光处理,每道砂纸磨至样品表面划痕均匀且处于一个方向时用清水冲洗样品,将试样旋转90°,然后换下一道砂纸进行细磨;最后用清水冲洗干净;/n(3)将冲洗干净的试样放在装有抛光绒布的抛光机上抛光,依次进行粗抛光和细抛光,每次抛光均至上一道抛光的划痕消失;抛光好的试样在水龙头下冲洗干净,试样滴上酒精用吹风机冷风吹干;/n(4)将所述冷风吹干的试样放在装有抛光绒布的抛光机上进行抛光,滴入二氧化硅悬浮液,使抛光布保持...

【技术特征摘要】
1.一种用于制备高纯钌靶材EBSD样品的方法,包括以下步骤:
(1)将热压烧结制得的高纯钌靶线切割成待测试样;
(2)将所述的待测试样进行机械打磨,将试样依次在由粗到细的五道水砂纸上进行磨光处理,每道砂纸磨至样品表面划痕均匀且处于一个方向时用清水冲洗样品,将试样旋转90°,然后换下一道砂纸进行细磨;最后用清水冲洗干净;
(3)将冲洗干净的试样放在装有抛光绒布的抛光机上抛光,依次进行粗抛光和细抛光,每次抛光均至上一道抛光的划痕消失;抛光好的试样在水龙头下冲洗干净,试样滴上酒精用吹风机冷风吹干;
(4)将所述冷风吹干的试样放在装有抛光绒布的抛光机上进行抛光,滴入二氧化硅悬浮液,使抛光布保持润湿,抛光20-30分钟,转盘速度由300转/秒逐渐调至120转/秒;之后,停止滴入二氧化硅悬浮液,滴入清水将试样再抛光20-30秒;
(5)最后清洁表面,将中性洗涤剂滴在试样表面,用湿棉花轻轻擦拭,在水龙头下冲洗试样表面,直至样品表面的抛光液、洗涤剂充分清洗干净,最后试样表面滴上酒精清洗,吹风机冷风吹干,将样品表面空隙中残留的液滴充分吹干,防止污染测试表面。<...

【专利技术属性】
技术研发人员:左玉婷王书明张丽民李聪杜凤贞张智慧张恒磊
申请(专利权)人:国标北京检验认证有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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