一种检测平板平面度误差的方法技术

技术编号:26166923 阅读:51 留言:0更新日期:2020-10-31 13:18
本发明专利技术涉及一种检测平板平面度误差的方法,属于计量检测技术领域;包括:将待测平板水平放置;在所述待测平板上画“米”字线,标出左上点、上点、右上点、左点、中心点、右点、左下点、下点和右下点;使用水平度检测工具测量所述待测平板上八个点相对于所述中心点的高度;使用平面度误差评定方法计算所述待测平板的平面度误差。对比现有技术,本发明专利技术方法能够程序化地迅速得到平板的平面度误差,具有操作过程简单、操作步骤程序化、工作效率高的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种检测平板平面度误差的方法
本专利技术涉及一种检测平板平面度误差的方法,属于计量检测

技术介绍
平板平面度检测是计量检测
的重要内容,也是影响机械加工质量的重要因素。现有的检测平板平面度的方法是按“米”字或“网格”布点,测量出各个交叉点相对于平板四个角中某个角顶点的高度差。测量前,测量者需计算每个线段跨度,也就是可调桥板的长度。从平板的一个角开始按照“米”字或“网格”布点,计算出各个相邻点的高度差后再统一坐标,即计算出各点相对于平板四个角中某个角顶点的坐标,再按照最小二乘法、或对角线法、或最小区域法评定平板的平面度误差。已有的计量检测方法检测平板后数据处理十分复杂,数据处理时间是取得平板检测数据时间的许多倍。因此,迫切需要一种简便易行的平板平面度误差的检测方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服已有技术的缺陷,为了解决化简检测平板过程的问题,提出一种检测平板平面度误差的方法。本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的。一种检测平板平面度误差的方法,包括以下内容:r>将待测平板水平放本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测平板平面度误差的方法,其特征在于:包括以下内容:/n将待测平板水平放置;/n在所述待测平板上画“米”字线,标出左上点、上点、右上点、左点、中心点、右点、左下点、下点和右下点;/n使用水平度检测工具测量所述待测平板上八个点相对于所述中心点的高度;/n使用平面度误差评定方法计算所述待测平板的平面度误差。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测平板平面度误差的方法,其特征在于:包括以下内容:
将待测平板水平放置;
在所述待测平板上画“米”字线,标出左上点、上点、右上点、左点、中心点、右点、左下点、下点和右下点;
使用水平度检测工具测量所述待测平板上八个点相对于所述中心点的高度;
使用平面度误差评定方法计算所述待测平板的平面度误差。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述水平度检测工具为合像水平仪。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:所述将待测平板水平放置时,为了不超出所述合像水平仪的测量范围,将所述待测平板两条对角线两对顶点高度差调至不超过1毫米。


4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于:所述使用水平度检测工具测量所述待测平板上八个点相对于所述中心点的高度为使用所述合像水平仪放置在可调桥板上测量,具体为根据所述八个点位置,将可调桥板调整成三种跨距:平板长度的一半、平板宽度的一半和平板对角线一半之一,测量相应点高度格值。


5.根据权利要求1-4任一所述的方法,其特征在于:所述平面度误差评定方法为最小二乘法。


6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于:所述平面度误差计算过程如下;
1)输入平板的长度chang、宽度kuan,以及平板左上点11、上点12、右上点13、左点21、中点22、右点23、左下点31、下点32、右下点33的合像水平仪测量格值Ge11、Ge12、……Ge32、Ge33;其中22点为测量基准点,其余八点是比它高多少或低多少,22点本身...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈祖南刘红
申请(专利权)人:山西北方机械制造有限责任公司
类型:发明
国别省市:山西;14

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