【技术实现步骤摘要】
一种薄壁长筒内部轴心直线度测量装置及其测量方法
本专利技术属于测量
，尤其是涉及一种薄壁长筒内部轴心直线度测量装置及其测量方法。
技术介绍
随着科技的发展，越来越多的薄壁长筒呈现出“大长径比、长度大(1200mm以上)、内径小(150mm以下)”和“薄壁(＜2mm)受力易变形的”的特点，给这类零部件的精确测量带来了很大的挑战。目前，对于中小型管状零件内孔的直线度误差测量有多种方法，主要有水平仪测量法、光隙法、量规检查法、拉丝检验法、测微仪法，采用上述方法成本低，适用性强，但是测量工作量大，测量精度低，尤其是在大量程测量上无法满足测量的精度要求，无法满足大长径比薄壁长筒的精确测量要求。三坐标测量机在测量长筒内部空间直线度是目前最常用的测量方法，但是三坐标测量机的量程有限，随着测杆长度的增加，测量的不确定度会随之升高，严重影响测量精度，不能对长度超过800mm的长筒内部轴线的直线度进行精确测量。激光准直法和激光干涉法是两种以激光光束为基准轴线，这两种方法均需要在被测筒内装入可轴向移动的机械工装，但是...
【技术保护点】
1.一种薄壁长筒内部轴心直线度测量装置，其特征在于：包括基台、支承限位机构、驱动控制机构和数据采集机构，所述支承限位机构与驱动控制机构安装在基台上，所述数据采集机构设置在支承限位机构上；/n所述支承限位机构包括安装在基台上的支撑座，一端与支撑座连接的支承臂，所述支承臂靠近支撑座的一端安装一限位机构以用于限位被测薄壁长筒，所述支承结构设置在所述支承臂上以用于支承套在支承臂上的被测薄壁长筒；/n所述驱动控制机构包括俯仰摆动以压紧被测薄壁长筒的压紧驱动臂；/n所述数据采集机构包括安装在支承臂上的传感器阵列，所述传感器阵列与被测薄壁长筒的内壁相接触以用于测量被测薄壁长筒内被测截面圆的几何中心数据。/n
【技术特征摘要】
1.一种薄壁长筒内部轴心直线度测量装置，其特征在于：包括基台、支承限位机构、驱动控制机构和数据采集机构，所述支承限位机构与驱动控制机构安装在基台上，所述数据采集机构设置在支承限位机构上；
所述支承限位机构包括安装在基台上的支撑座，一端与支撑座连接的支承臂，所述支承臂靠近支撑座的一端安装一限位机构以用于限位被测薄壁长筒，所述支承结构设置在所述支承臂上以用于支承套在支承臂上的被测薄壁长筒；
所述驱动控制机构包括俯仰摆动以压紧被测薄壁长筒的压紧驱动臂；
所述数据采集机构包括安装在支承臂上的传感器阵列，所述传感器阵列与被测薄壁长筒的内壁相接触以用于测量被测薄壁长筒内被测截面圆的几何中心数据。
2.根据权利要求1所述的薄壁长筒内部轴心直线度测量装置，其特征在于：所述限位装置包括安装在支承臂上的限位支架和竖直设置在限位支架上的限位轴承，所述限位轴承与被测薄壁长筒的一端滑动接触以避免被测薄壁长筒轴向窜动。
3.根据权利要求2所述的薄壁长筒内部轴心直线度测量装置，其特征在于：所述限位支架上还设有限位杆，所述限位杆与限位轴承相配合夹紧被测薄壁长筒的一端以用于对被测薄壁长筒限位。
4.根据权利要求1所述的薄壁长筒内部轴心直线度测量装置，其特征在于：所述支承结构包括V型轴承支架和两个支承轴承，所述V型轴承支架的底部安装在支承臂上，两个所述支承轴承通过轴杆对称安装在V型轴承支架上以形成V型支承结构，且该V型支承结构的顶端以用于支承被测薄壁长筒的内壁。
5.根据权利要求1所述的薄壁长筒内部轴心直线度测量装置，其特征在于：所述压紧驱动臂包括支撑架，受驱动相对所述的支撑架俯仰摆动的俯仰支架和设置在所述俯仰支架上的驱动部，所述驱动部在压紧被测薄壁长筒状态下驱动被测薄壁长筒转动。
6.根据权利要求5所述的薄壁长筒内部轴心直线度测量装置，其特征在于：所述驱动部包括用于压紧被测薄壁长筒的同步带和设置在同步带上的同步带轮，步进电机通过联轴器安装在支撑架上驱动同步带轮转动，以使同步带带动被测薄壁长筒转动。
7.根据权利要求6所述的薄壁长筒内部轴心直线度测量装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：王超，叶瑞夺，
申请(专利权)人：核工业理化工程研究院，
类型：发明
国别省市：天津;12
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