【技术实现步骤摘要】
一种用于判断像素打印缺陷的基板和方法
本专利技术涉及喷墨打印
，尤其涉及一种用于判断像素打印缺陷的基板和方法。
技术介绍
如图1-2所示，在现有的OLED或量子点喷墨打印工艺中，液滴通过压电喷头105喷射在用光刻胶定义的像素槽中。喷印工艺中，工艺参数，机械精度等因素会造成最终器件中出现像素亮度不均一，混色等缺陷，大部分缺陷可以在打印后通过CCD高速相机去观察得到结论。如图3所示，常见的的缺陷有散点，非浸润，和桥接三种类型的缺陷，其中非浸润缺陷是由于喷印墨水和像素槽底部表面润湿性不好造成的，散点缺陷是由于液滴落点偏移造成的，而然，桥接缺陷的原因比较难判断，喷印落点位置的便宜或者喷射到像素槽中的液滴体积过大都会导致相邻像素间产生桥接的缺陷如何快速准确的判断桥接缺陷产生的原因将具有重要意义。
技术实现思路
本专利技术的第一个目的在于提供一种用于判断像素打印缺陷的基板，能够快速准确地判断桥接缺陷产生的原因。为了实现上述目的，本专利技术提供的技术方案为：一种用于判断像素打印缺陷的基板，包括基板...
【技术保护点】
1.一种用于判断像素打印缺陷的基板，其特征在于，包括基板本体，所述基板本体上设有若干个区域，所述区域中设有多个像素槽，所述像素槽的开口大小相同；/n同一所述区域中的像素槽的高度相同，并且同一所述区域中的像素槽的间隔相同；/n不同所述区域中的像素槽的高度不同，或者不同所述区域中的像素槽的间隔不同，或者不同所述区域中的像素槽的高度不同且像素槽的间隔不同。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于判断像素打印缺陷的基板，其特征在于，包括基板本体，所述基板本体上设有若干个区域，所述区域中设有多个像素槽，所述像素槽的开口大小相同；
同一所述区域中的像素槽的高度相同，并且同一所述区域中的像素槽的间隔相同；
不同所述区域中的像素槽的高度不同，或者不同所述区域中的像素槽的间隔不同，或者不同所述区域中的像素槽的高度不同且像素槽的间隔不同。
2.根据权利要求1所述的一种用于判断像素打印缺陷的基板，其特征在于，所述基板本体具有第一区域、第二区域和第三区域，所述第一区域、第二区域和第三区域内分别具有多个像素槽；
所述第一区域的像素槽高度与所述第二区域的像素槽高度相同，所述第一区域的像素槽间隔距离大于所述第二区域的像素槽间隔距离；
所述第一区域的像素槽间隔距离与所述第三区域的像素槽间隔距离相同，所述第一区域的像素槽高度小于所述第三区域的像素槽高度。
3.根据权利要求2所述的一种用于判断像素打印缺陷的基板，其特征在于，所述第二区域划分为若干第二子区域，所述第二子区域之间具有预定距离，每个所述第二子区域的像素槽间隔不同，以远离所述第一区域的方向依次递减；
所述第三区域划分为若干第三子区域，所述第三子区域之间具有预定距离，每个所述第三子区域的像素槽高度不同，以远离所述第一区域的方向依次递增。
4.根据权利要求3所述的一种用于判断像素打印缺陷的基板，其特征在于，所述基板本体包括1800×1800个像素槽，所述第一区域包括400×1800个像素槽，所述第一区域的像素槽间隔为40um，高度为1um；
所述第二区域包括三个第二子区域，每个所述第二子区域包括400×800个像素槽，所述第二子区域的像素槽高度都为1um，三个所述第二子区域的像素槽间隔分别为30um，20um和15um；
所述第三区域包括三个第三子区域，每个所述第三子区域包括400×800个像素槽，所述第三子区域的像素槽间隔都为40um，三个所述第三子区域的像素槽高度分别为1....
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