用于高温(1000℃)测试条件下的样品支架制造技术

一种用与高温（１０００℃）测试条件下的样品支架，属于高温陶瓷测试装置领域。该样品支架的下横梁中央放有下电极片，上面放置被测样品，被测样品另一端面上有上电极片，电极片上有一截面相当的绝缘块，绝缘块上方有一人固定用耐热的螺丝，用以调节两电极片与被测样品的间距，上下横梁间的支架杆由耐热Ａｌ↓［２］Ｏ↓［３］陶瓷用螺丝连接，上、下电极片的形状和截面积应与被测样品相当。（*该技术在2010年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种高温(1000℃)测试条件下用的样品支架，属于高温陶瓷测试装置领域。随着现代信息技术的飞速发展，尤其是航空、航天、国防军工等尖端领域，作为电子信息材料类的铁电、压电陶瓷材料在高温(1000℃)下的使用已越来越迫切，这类材料在高温(1000℃)的物理性能，如电容(C)、损耗(D)、绝缘电阻(R)在高温(1000℃)时的绝对值以及它们随温度的变化，如电容与温度、损耗与温度、绝缘电阻与温度的变化规律均是设计者们迫切需要的数据。在这一系列性能测试中关键是要解决确保电极引线与样品在高温(1000℃)下的接触良好问题，而且要解决样品支架与被测试样热膨胀的匹配等问题。附图说明图1和图2分别是已有的第一代和第二代测试用样品支架示意图。图1中1-基座、2-引线丝、3-固定螺丝、4-弹性金属片、5-被测样品。从图1可见，被测样品放在二个弹性金属片4之间，依靠弹性金属片的弹性将被测样品夹住，靠引线丝2引出信号。显然因弹性金属片随温度升高，它与压电、铁电材料膨胀系数之差，在室温下具有良好的接触，一旦升温而使接触不良，所以图1所示的结构只能在300℃温度以下使用。图2的样品支架是在图1的基础上加以适当改进，图中6-下引线条，7-上引线条(丝)，其余同图1所示。被测样品放在基座1上面，在基座和被测样品之间安放一个下引线条6，用以引出一个电极信号，但被测样品的另一面与引线条(丝)7的接触仍是靠点接触，因此这二种样品支架结构均存在测试过程接触不良现象。本技术的目的在于提供一种新型的样品支架，它不仅可以使上、下电极与被测样品之间保持良好的接触，从而可靠地在高温(1000℃)条件下测试电容、电阻、损耗随温度变化曲线，而且试样厚度可在一定范围内自由调节。本技术的目的是这样实施的被测试样放在支架中央底座上，被测样品信号是靠上、下引线电极引出，为保证它们在高温条件下的良好接触，在上引线电极片的上方安放一块截面积相当的绝缘块，绝缘块上面设有一个能保证被测样品与上、下电极片间良好接触的螺丝，而且样品支架、二个立柱用耐高温陶瓷材料制作的支杆支撑，用以调节高低和保证样品与电极片间高温(1000℃)下良好接触。下面通过图3和实施例进一步阐明本技术提供的一种新型样品支架的结构上特点。图3为本技术提供的一种新型样品支架。5-被测样品，13-支架杆(立柱)，14-绝缘板，8-固定被测样品用的螺丝，9-上电极片，10-下电极片，11-固定螺母。与图1、图2相比较，图3的上、下电极引线不同之处在于形状不同，图1、图2的引线是丝状而图3是片状。12为样品支架的上、下横梁。被测样品5是放在整个样品支架中央的下横梁12上方，样品5与下横梁安放有下电极片10，而在样品另一端面放一上电极片9，在上电极片上安放一个形状和截面积与之相当的绝缘块14，绝缘块是由耐高温的材料如Al2O3制作，其两端面平整，保证与被测试样间平面接触。考虑到高温下的膨胀系数不同，在绝缘块上方再设置一个耐热螺丝8，保证绝缘块、上、下电极片与被测样品间在高温(1000℃)下的平面接触，从而保证测量的精度。而整个支架的二个支架杆(立柱)13改用耐高温材料，如Al2O3，并与支架上下二个横梁靠螺母11固定起支撑上、下横梁作用。保证被测样品5与上、下电极片9、10间良好接触用的螺丝8穿过上横梁中间，与被测样品呈垂直状态。因为Al2O3陶瓷膨胀系数与被测样品(功能陶瓷)的膨胀系数处在同一数量级，相对于金属杆其膨胀系数低一个数量级，而又耐高温，所以保证了被测样品在高温下与上、下电极间良好接触。上下电极片的截面形状及截面积与被测样品相当。例如，被测样品为正方形，则上、下电极片亦应呈正方形且截面积相等；如为长方形、三角形、菱形，则上、下电极片也应为长方形、三角形、菱形，且截面积相等。总之，电极片应全部恰好覆盖住被测试样。权利要求1.一种用与高温(1000℃)测试条件下的样品支架，其特性在于(1)被测样品安放在下横梁中央，它与下横梁之间有下电极引片；(2)被测样品另一端面上有上电极片，电极片上有一个截面相当的绝缘块；(3)在绝缘块上方，有一耐热螺丝，它穿过上横梁中央，与被测试样呈垂直状态；(4)支架杆与上、下横梁螺丝连接，起支撑上、下横梁作用。2.按权利要求1所述的样品支架，其特征在于所述的绝缘块是由耐高温材料，如Al2O3材料制作的。3.按权利要求1所述的样品支架，其特征在于，支撑上、下横梁的支架杆是由耐热Al2O3材料制作。4.按权利要求1所述的样品支架，其特征在于，上、下电极片的截面形状和截面积与被测样品相当。专利摘要一种用与高温(1000℃)测试条件下的样品支架,属于高温陶瓷测试装置领域。该样品支架的下横梁中央放有下电极片,上面放置被测样品,被测样品另一端面上有上电极片,电极片上有一截面相当的绝缘块,绝缘块上方有一人固定用耐热的螺丝,用以调节两电极片与被测样品的间距,上下横梁间的支架杆由耐热Al文档编号G01N27/00GK2408456SQ00216478公开日2000年11月29日 申请日期2000年2月16日 优先权日2000年2月16日专利技术者周家光, 王志超 申请人:中国科学院上海硅酸盐研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用与高温（１０００℃）测试条件下的样品支架，其特征在于（１）被测样品安放在下横梁中央，它与下横梁之间有下电极引片；（２）被测样品另一端面上有上电极片，电极片上有一个截面相当的绝缘块；（３）在绝缘块上方，有一耐热螺丝，它穿过上 横梁中央，与被测试样呈垂直状态；（４）支架杆与上、下横梁螺丝连接，起支撑上、下横梁作用。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周家光，王志超，
申请(专利权)人：中国科学院上海硅酸盐研究所，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]