具有多个测试扇区的测试处理机制造技术

本发明专利技术提供一种测试处理机，其包括：一级回转式塔架，其包括用于运输电子元件的拾取头；以及二级回转式塔架，其布置和构造成从一级回转式塔架接收电子元件，该二级回转式塔架包括多个分离的测试扇区，该测试扇区具有用于承载从一级回转式塔架的拾取头接收的电子元件的元件载架，其中，该多个测试扇区相对于彼此可旋转地移动。该测试处理机还包括至少一个沿着二级回转式塔架的外围定位的测试装置，其中，该测试装置能操作以从元件载架接收电子元件来进行测试。

Test processor with multiple test sectors

【技术实现步骤摘要】
具有多个测试扇区的测试处理机
本专利技术涉及一种用于测试电子元件的测试处理机，特别涉及一种具有高吞吐量的用于测试电子元件的测试处理机。
技术介绍
在切割和组装后，通常使用测试处理机对电子元件进行测试，以确保符合客户的要求。一种类型的测试处理机为传统的塔架式测试处理机100，其布局在图1中示出。通过输入模块104，诸如振动料斗，将待测试的电子元件送入回转式塔架102。这些待测试的电子元件由固定在回转式塔架102的圆周上的拾取头106单独拾取，然后运输至围绕回转式塔架102的圆周的固定位置处的各个测试站108和加工站110，以便对电子元件执行一项或多项测试和加工。由于是顺序处理（其中电子元件在测试期间需要较长的测试时间），塔架式测试处理机100通常并非首选，因为完成一个测试周期所花费的总时间将会过长，并且会形成瓶颈。一般而言，塔架式测试处理机100的测试周期包括转移电子元件所花费的时间和对其进行测试所花费的时间。在传统的塔架式测试处理机100中，在完成特定测试站108处的测试之前，回转式塔架102将必须在其位置保持闲置。此后，回转式塔架10本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试处理机，包括：/n一级回转式塔架，其包括用于运输电子元件的拾取头；/n二级回转式塔架，其布置和构造成从所述一级回转式塔架接收所述电子元件，所述二级回转式塔架包括多个分离的测试扇区，所述多个分离的测试扇区具有元件载架，所述元件载架用于承载从所述一级回转式塔架的所述拾取头接收的所述电子元件，其中，所述多个测试扇区相对于彼此可旋转地移动；以及/n至少一个测试装置，其沿着所述二级回转式塔架的外围定位，其中，所述测试装置能操作以从所述元件载架接收所述电子元件来进行测试。/n

【技术特征摘要】
20190429 US 16/396,996;20190906 US 16/562,6281.一种测试处理机，包括：
一级回转式塔架，其包括用于运输电子元件的拾取头；
二级回转式塔架，其布置和构造成从所述一级回转式塔架接收所述电子元件，所述二级回转式塔架包括多个分离的测试扇区，所述多个分离的测试扇区具有元件载架，所述元件载架用于承载从所述一级回转式塔架的所述拾取头接收的所述电子元件，其中，所述多个测试扇区相对于彼此可旋转地移动；以及
至少一个测试装置，其沿着所述二级回转式塔架的外围定位，其中，所述测试装置能操作以从所述元件载架接收所述电子元件来进行测试。


2.根据权利要求1所述的测试处理机，其中，所述二级回转式塔架包括三个可以相对于彼此移动的测试扇区。


3.根据权利要求1所述的测试处理机，其中，每个测试扇区能在一个平面上旋转，并且所述多个测试扇区能在同一个平面上旋转。


4.根据权利要求1所述的测试处理机，其中，每个测试扇区能在一个平面上旋转，并且所述多个测试扇区能在不同的平面上旋转。


5.根据权利要求1所述的测试处理机，其中，所述多个测试扇区能围绕公共轴线旋转。


6.根据权利要求1所述的测试处理机，其中，每个测试扇区包括位于所述二级回转式塔架上的拱形部分。


7.根据权利要求6所述的测试处理机，其中，所述元件载架位于与所述拱形部分的周边相邻的位置。


8.根据权利要求6所述的测试处理机，其中，每个所述拱形部分能定位在与所述一级回转式塔架的圆周相邻的第一位置、以及与所述至少一个测试装置相邻的第二位置。


9.根据权利要求1所述的测试处理机，进一步包括用于驱动每个测试扇区的相应的伺服电动机。

【专利技术属性】
技术研发人员：郑志华，刘启峰，张雨时，
申请(专利权)人：先进科技新加坡有限公司，
类型：发明
国别省市：新加坡;SG