一种精准检测的锰矿X荧光仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种精准检测的锰矿X荧光仪，属于X荧光仪领域，包括安装架、盛放架、荧光检测结构、转动架、重锤、安装槽、盛放板、微型振动电机、重锤阻尼结构。通过安装架进行承载，利用盛放架配合转动架，进而实现两个方向的转动，利用重锤带动盛放架转动进而带动盛放板转动，进而使得盛放板保持水平状态，使得荧光检测结构上的被检测的锰矿的矿粉保持水平状态，然后利用微型振动电机工作，带动盛放板振动，进而带动盛放板上的荧光检测结构振动，进而将荧光检测结构上的矿粉振平，进而在压片压片时使得矿粉分布均匀，进而提升分析结果的精度，利用重锤阻尼结构对重锤进行粘滞阻尼，防止重锤受惯性不断摇摆，影响盛放板水平。

【技术实现步骤摘要】
一种精准检测的锰矿X荧光仪
本技术涉及X荧光仪领域，特别是一种精准检测的锰矿X荧光仪。
技术介绍
锰矿X荧光仪是用来对锰矿进行检测的一种仪器，现有的X荧光仪在使用时压力效果不好或压片时样品布入不均匀而产生了样品的堆积分布不均，会影响分析结果，进而导致X荧光仪分析结果出现偏差。如专利授权公告号为CN205175935U的专利公布的一种技术方案包括X光管、内套、滤光片、内套座、压片、探测器；所述X光管一端镶嵌在内套座上，内套座与探测器连接，内套镶嵌在内套座内部，滤光片固定在内套上，压片位于内套和探测器之间并固定在内套上。本技术能够降低传统反射式能量色散X荧光仪中的最低检出限；并且能实现实时快速测量。利用透射式的X荧光仪，可以实现实时测量、制样方便、检出限低的测量仪器，目前该仪器的最低检出限比目前反射式X荧光仪器低2个数量级。上述装置可以解决锰矿的检测，但是其仍存在在使用时压力效果不好或压片时样品布入不均匀而产生了样品的堆积分布不均，会影响分析结果的问题，因此需要一种解决上述问题的精准检测的锰矿X荧光仪。<br>
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种精准检测的锰矿X荧光仪，包括安装架(1)、盛放架(2)、荧光检测结构、转动架(3)、重锤(4)、安装槽(5)、盛放板(6)、微型振动电机(7)、重锤阻尼结构，所述荧光检测结构设于盛放架(2)上方，其特征在于，所述盛放架(2)可转动安装于转动架(3)中部，所述转动架(3)可转动安装于安装架(1)上，所述重锤(4)安装于盛放架(2)中部下方，所述安装槽(5)开于盛放架(2)上方，所述盛放板(6)滑动嵌装与安装槽(5)内，所述微型振动电机(7)安装于盛放板(6)下表面上，所述重锤阻尼结构安装于安装架(1)下方。/n

【技术特征摘要】
1.一种精准检测的锰矿X荧光仪，包括安装架(1)、盛放架(2)、荧光检测结构、转动架(3)、重锤(4)、安装槽(5)、盛放板(6)、微型振动电机(7)、重锤阻尼结构，所述荧光检测结构设于盛放架(2)上方，其特征在于，所述盛放架(2)可转动安装于转动架(3)中部，所述转动架(3)可转动安装于安装架(1)上，所述重锤(4)安装于盛放架(2)中部下方，所述安装槽(5)开于盛放架(2)上方，所述盛放板(6)滑动嵌装与安装槽(5)内，所述微型振动电机(7)安装于盛放板(6)下表面上，所述重锤阻尼结构安装于安装架(1)下方。


2.根据权利要求1所述的精准检测的锰矿X荧光仪，其特征在于，所述荧光检测结构包括内套座(8)、内套本体(9)、X光管(10)、滤光片(11)、压片(12)、探测器(13)，所述内套座(8)安装于盛放板(6)上方，所述内套本体(9)安装于内套座(8)上，所述X光管(10)安装于内套座(8)侧表面上，所述滤光片(11)安装于内套本体(9...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫朋，
申请(专利权)人：闫朋，
类型：新型
国别省市：天津;12