【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学分析测量仪器领域，特别是一种用于多通道测量的光学分析设备。技术背景现有光学分析测量仪器的光路系统的设计比较传统，为了拍摄参考光和样品光的对比，基本都是用双光路结构。这种结构是采用精密的步进电机来转动透射孔和反射镜，以达到分别测量参考光和样品光光强的目的。但是由于步进电机自身存在的回程误差，所以无法将透射孔和反射镜转动到与光线相应的位置。为此很多厂家都不惜成本的提高步进马达的精度，减少回程差，这不仅大大的增加了仪器的制造成本，而且还无法完全克服这种误差的存在。目前所有的光学分析测量仪器，包括最先进得测量仪器，都只是单次测量，如日本岛津高精度分光光度计和美国EG&GPARC公司的OMA等设备。不能自动多次测量，更不能进行相应的误差分析，而对于科学试验或监测来说，多次测量是不可缺少的环节。由于试验或监测的环境条件不能够绝对的理想化，如电压绝对稳定、无干扰等等，所以测量的结果必然与真实值有一定的误差，甚至出现偏差很大的结果，所以为了减少误差，现有的很多先进设备对机器的制造和使用的要求非常高，导致了成本的提高。现有的光学分析测量仪器还...
【技术保护点】
一种多通道光学分析设备，包括光谱测量仪（１）和计算分析仪（２），其特征是光谱测量仪（１）包括光源（１１）、待测样品座（１２）、光栅（１３）和多通道光学探测器（１４），光谱测量仪（１）通过多通道光学探测器（１４）与计算分析仪（２）连接；所述光源（１１）、待测样品座（１２）和光栅（１３）依次放置于同一直线上，光线由光源（１１）经待测样品座（１２）后在光栅（１３）上衍射至多通道光学探测器（１４）形成光路，衍射后的光线由多通道光学探测器（１４）接收并转换成数字信号传送到计算分析仪（２）。
【技术特征摘要】
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