光照测试装置制造方法及图纸

一种光照测试装置，其用以测试数个光盘片，且包括一壳体及数个光源。其中，该壳体是由数个正多边形的壳面所构成，且形成一密闭空间；该等光源设置于密闭空间中，且分别设置于各壳面，并面向密闭空间的一侧面上，而光盘片放置于各壳面的侧面上，以便进行光盘片的光照测试。该实用新型专利技术能够避免环境光的干扰、以及增加各光盘片照光的均匀度的光照测试装置。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光照测试装置，特别涉及一种测试光盘片对光照的耐久性的光照测试装置。
技术介绍
近年来，使用光盘片来储存资料已经是越来越普及的资料储存方式，相对而言，光盘片的生产量也越来越大，由此，光盘片的品质便是大量生产的一个重要指标；光盘片必须经过多项严厉的环境测试，才能生产出品质优良的光盘片。光盘片的环境测试范围很广，例如耐冲击性、重复读写性等，而其中一个重要的环境测试便是光照测试，其测试光盘片对光照的耐久性(light durability)测试。在现有技术的光照测试中，通常仅利用简单的光照测试设备来进行光盘片的光照测试；请参照图1所示，现有技术的光照测试设备1包括一支撑架11、数个光源12以及一承载部13，其中光源12设置在支撑架11上，并且与承载部13相对而设。承上所述，当利用现有技术的光照测试设备1进行光盘片2的光照测试时，光盘片2设置于承载部13上，并以光源12发出的光来照射光盘片2。然而，由于支撑架11为一开放式的空间，因此在进行光照测试的同时会受到光源12以外的环境光的干扰，例如，放置光照测试设备1的测试房间的灯光、从测试房间外照射进来的灯光或阳光等，均会影响光照测试数据的准确性。另外，由于光源12与承载部13相对而设，亦即是光源12所发出的光仅自上方照射承载部13，因此会造成承载部13上的数个光盘片2接收光照的角度不同，结果使得各光盘片2光照的程度不均匀，进一步会影响光照测试的结果。因此，如何提供一种能够避免环境光的干扰、以及增加各光盘片照光的均匀度的光照测试装置，实为目前最需改进的课题之一。
技术实现思路
有鉴于上述课题，本技术的目的在于提供一种能够解决环境光干扰的光照测试装置。本技术的另一目的在于提供一种能够提高光盘片的受光均匀度的光照测试装置。由此，为达上述目的，本技术的光照测试装置包括一壳体以及数个光源。在本技术中，壳体是由数个正多边形的壳面所组成；光源设置于由壳面所构成的密闭空间中，且与待测试的数个光盘片分别设置于各壳面上，以用来进行光盘片的光照测试。承上所述，因依据本技术的光照测试设备具有一密闭空间，可阻挡环境光，进而提升光照测试的数据的准确性；另外，因依据本技术的光照测试设备为一正多而体，且于各壳面设置光源，所以各光盘片光照程度相同，因而能使光盘片受到均匀且相等的光照。附图说明图1为一示意图，显示现有技术的光照测试设备的示意图；图2为一示意图，显示依据本技术较佳实施例的光照测试设备剖面图的示意图；以及图3为一示意图，显示依据本技术较佳实施例的光照测试设备展开图的示意图。图中符号说明1 光照测试设备11支撑架12光源13承载部2 光盘片3 光照测试装置31壳面32光源33密闭空间具体实施方式以下将参照相关附图，说明依据本技术较佳实施例的光照测试装置，其中相同的组件将以相同的参照符号加以说明。请参照图2所示，依据本技术较佳实施例的光照测试装置3包括数个正方形壳面31以及数个光源32。在本实施例中，六个正方形壳面31组成一密闭空间33，且六个光源32分别设置于密闭空间33中的六个正方形壳面31上。需注意者，本实施例所示的光照测试装置3为一正立方体，除此之外，光照测试装置3亦可以是其它类型的正多面体，例如为正四面体(图中未显示)；另外，若光照测试装置3为正N面体，且N趋近于无限大，则光照测试装置3为一圆球体。本实施例的正方形壳面31可以为一反射面，使光盘片2不仅接收到光源32的光，更另外吸收到由壳面31所反射的光，以缩短光盘片2测试的时间。此外，正方形壳面31亦可以是吸光面，其能够吸收光源32所发出的光，以避免光在密闭空间33中反射，因此能够使测试更加稳定。本实施例的光源32可以是点光源，其能够缩小光照测试装置3的体积，或增加待测试光盘片2的数目。此外，光源32可为日光灯，可仿真日常的环境光对光盘片2的影响；光源32亦可为高能量的紫外光，以便加快光盘片2的测试时间。为使本技术的内容更容易理解，以下将参照图3说明依据本技术较佳实施例的光照测试设备3的展开图。如图3所示，光照测试设备3由六个正方形壳面31所组成，而各光源32对称地设置于各壳面31上，亦即是分别于壳面31中心点上装置光源32，在本实施例中其为相等亮度、相同大小的点光源，且将光盘片2分别放置于和光源32距离相等，且于正方形壳面31的对角线上(如图所示)的位置。由于光照测试设备3为一正立方体，故各光盘片2与各光源32的相对应位置与角度皆相同，请参照图2，因此各光盘片2所接收到来自各光源32的总光线照射量相同。综上所述，因依据本技术的光照测试设备为一密闭空间，可将环境光阻挡在壳面外，进而能够提高光照测试的数据的准确性；另外，因依据本技术的光照测试设备为一正多面体，且将等亮度的光源设置于各壳面的中心点上，所以能使光盘片受到均匀且相等的光照，以便改善光照测试的准确性。以上所述仅为举例性，而非为限制性者。任何未脱离本技术的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于所述的申请专利范围中。权利要求1.一种光照测试装置，其用以测试数个光盘片，其特征在于，包含一壳体，其由数个正多边形的壳面所构成，且具有一密闭空间；以及数个光源，其设置于该密闭空间中，且分别设置于该等壳面，并面向该密闭空间的一侧面上，而该等光盘片设置于该壳面的该侧面上以进行光照测试。2.如权利要求1所述的光照测试装置，其特征在于，该等光源分别对称地设置于该等壳面上。3.如权利要求1所述的光照测试装置，其特征在于，该等光源具有相等亮度。4.如权利要求1所述的光照测试装置，其特征在于，各光源为一点光源。5.如权利要求1所述的光照测试装置，其特征在于，各光源为一日光灯。6.如权利要求1所述的光照测试装置，其特征在于，各光源为一紫外光源。7.如权利要求1所述的光照测试装置，其特征在于，各壳面的该侧面为一反射面。8.如权利要求1所述的光照测试装置，其特征在于，各壳面的该侧面为一吸光面。9.如权利要求1所述的光照测试装置，其特征在于，该壳体为正多面体。10.如权利要求9所述的光照测试装置，其特征在于，该壳体为正立方体、或圆球体。专利摘要一种光照测试装置，其用以测试数个光盘片，且包括一壳体及数个光源。其中，该壳体是由数个正多边形的壳面所构成，且形成一密闭空间；该等光源设置于密闭空间中，且分别设置于各壳面，并面向密闭空间的一侧面上，而光盘片放置于各壳面的侧面上，以便进行光盘片的光照测试。该技术能够避免环境光的干扰、以及增加各光盘片照光的均匀度的光照测试装置，文档编号G01N17/00GK2639878SQ03204819公开日2004年9月8日 申请日期2003年7月28日 优先权日2003年7月28日专利技术者赖昭平 申请人:精碟科技股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光照测试装置，其用以测试数个光盘片，其特征在于，包含：一壳体，其由数个正多边形的壳面所构成，且具有一密闭空间；以及数个光源，其设置于该密闭空间中，且分别设置于该等壳面，并面向该密闭空间的一侧面上，而该等光盘片设置于该壳面 的该侧面上以进行光照测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赖昭平，
申请(专利权)人：精碟科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]