具有辅助光源的物件检测机制造技术

本实用新型专利技术为一种具有辅助光源的物件检测机，其主要在于摄影机与检测盘间增设有一光源装置，该光源装置包括有一位于该检测盘旁位置的支架，一可于该支架上升降滑移且盖合于该检测盘上的罩体，以及一设于该罩体内的发光组；其中，该罩体上形成有一通孔，且该通孔周壁上开设有一凹槽，而该凹槽可供发光组设置，同时该发光组受到周壁挡掣，以使该发光组的光线免于照射于该检测盘上，达到直接照射于该物件效果，故针对该摄影机所撷取的影像范围，确实能营造出检测盘与物件不同明暗层次，以避免过度强烈的光线照明而影响后续影像的判别。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是有关于一种检测机设计，特别是一种具辅助光源的 物件检测机。
技术介绍
参阅图1、图2，习知第1254471号『具可动式光源的组件检测 机构』专利案，其包含有一检测平台1, 一设置于该检测平台1的一 侧的固定轨13, —设于该检测平台1上方的可动式光源模块14，以 及一设于该固定轨13上且位于该可动式光源模块14上方的摄影机 15;其中，该检测平台1设有一输送螺丝2的输送轨道11,以及一 受该驱动机构驱动的转盘12，该转盘12可转动且承载该螺丝2;另， 该可动式光源模块14设有一内部空间141、 一环型光源142、 一上开 口 143及一下开口 144,而前述该可动式光源模块14可沿该固定轨 13相对该检测平台1进行纵向往复式移动，同时该环型光源142并 环设于该内部空间141内，以提供一可动式光源投射至该检测平台1 的螺丝2，并且该螺丝2表面反射的光线经由该摄影机15撷取，以 进行螺丝2检测。参阅图2,实际使用时，该螺丝2藉由输送轨道11输送，以及 该转盘12转动而将每一螺丝2依序转至该可动式光源;漠块14下方， 此时该可动式光源模块14向下移动，以将该螺丝2完全盖覆，并藉 由该环型光源142以提供一可动式光源投射至该螺丝2，并且该螺丝 2表面反射的光线经由该摄影机15撷取，以利后续的分选集收作业。然，实际使用后发现，该可动式光源模块14的内部空间141系 呈弧形设计，因此该环型复数光源142所照射的光线，完全集中聚焦 于该螺丝2与转盘12上，将使该该螺丝2与转盘12易产生同一明暗 层次，造成该摄影机15所撷取的影像无法清楚判断该螺丝2范围， 如此易影响该后续的影像判别作业进行，实有待改善。
技术实现思路
因此，本技术的目的是提供一种具有辅助光源的物件检测 机，针对该摄影机所撷取的影像范围，使检测盘与物件具有不同的明 暗层次，有利于后续影像的判别，提升物件检测的正确性。为达上迷目的，本技术采如下方案一种具有辅助光源的物件检测机，其包含有一将物件整列输出的 整列装置， 一承接该输出物件的检测盘， 一设于该检测盘旁且撷取该 物件影像的摄影机， 一与该摄影机连结且将撷取的影像进行分析的运 算装置，以及一将该运算装置分析的物件进行分选集收的退料装置； 该摄影机与检测盘间增设有一光源装置，该光源装置包括有一位于该 检测盘旁位置的支架， 一可于该支架上升降滑移且盖合于该物件的罩 体，以及一设于该罩体内的发光组，其中，该罩体具有相反的第一、 第二端面， 一由该第一端面延伸至第二端面且界定出该通孔的周壁， 以及一于该周壁上开设有一凹槽，而前述该凹槽可供该发光组设置， 且该发光组受到该周壁挡掣，以使该发光组的光线免于照射于该;险测 盘上，达到直接照射于该物件效果。该罩体与摄影机间设有一辅助装置，该辅助装置具有一固设于该支架上的本体，以及复数设于该本体上的照明光源，其中，该本体上 且邻近该摄影机处形成有一开孔，而该本体上且邻近该物件处有一锥 形孑L，同时该锥形孔与开孔相互连通，另外该锥形孔的壁面恰可供复 数照明光源设置，以使该等照明光源可直接照射于该物件表面。该发光组向外连设于有一控制器，以调整该发光组的发光亮度。该发光组可为复数的发光二极管串联而成。该照明光源可为复数的发光二极管串联而成。采用上述方案，本技术于检测盘缘增设有一光源装置，同时 再适时配合辅助装置照射，提供充足、均匀的光线照射物件所需检测 的部位，使检测盘与物件体现不同的明暗层次，以完整区隔出物件与 检测盘的影像，使物件的整体影像轮廓更完整呈现，有利摄影机能正 确、快速撷取影像，以利后续分析作业的进行，有效的提升物件检测 的正确性。附图说明图l是习知物件检测机的立体示意图； 图2是习知物件检测机的剖面示意图； 图3是本技术一较佳实施例的物件检测机立体示意图； 图4是本技术该较佳实施例的剖面示意图； 图5是本技术另一较佳实施例的立体示意图；及 图6是本技术另一较佳实施例的剖面示意图。 主要元件符号说明3具有辅助光源的物件检测机 4物件31整列装置 32检测盘 33摄影机524周壁 61本体612锥形孔34运算装置 51支架 521、 522 第35退料装置 52罩体 第二端面 525凹槽 62照明光源 613壁面5光源装置 53发光组 523通孔 6辅助装置 611开孔 54控制器具体实施方式有关本技术的前述及其它
技术实现思路
、特点与功效，以下配合 附图与较佳实施例作详细说明。在本技术被详细描述前，要注意的是，在以下的说明中，类 似的组件是以相同的编号来表示。参阅图3，本技术具有辅助光源的物件检测机3的一较佳实 施例，该物件检测机3包含有一将物件4(如螺丝等，图中以螺丝表 示)整列输出的整列装置31， 一承接该输出物件4的4企测盘32， 一设 于该检测盘32旁且擷取该物件4影像的摄影机33, —与该摄影机33 连结且将摄影机33撷取的影像进行分析的运算装置34，以及一将该 运算装置34分析的物件4进行分选集收的退料装置35。配合参阅图4，特别是，本实施例在于该摄影机33与检测盘32 间增设有一光源装置5,该光源装置5包括有一位于该检测盘32旁 位置的支架51， 一可于该支架51上升降滑移且盖合于该物件4的罩 体52,以及一设于该罩体52内的发光组53;其中，该罩体52具有 相反的第一、第二端面521、 522, —由该第一端面521延伸至第二 端面522且界定出该通孔523的周壁524,以及一于该周壁524上开 设有一凹槽525，而前述通孔523恰与该摄影机33相对应。仍续前述，该凹槽525可供该发光组53设置，且该发光组53受 到该周壁524挡掣，以使发光组53的光线免于照射于该检测盘32上， 达到直接照射于物件4周缘的效果；另，前述发光组53可为复数的 发光二极管(即LED)串联而成，且该发光组53并以线路55向外连设 于有一控制器54,以控制该发光组53的发光亮度并调整。参阅图3、图4，当进行检测时，该检测盘32将物件4转送至光 源装置5下方，此时该罩体52向下移动(即图中假想线移至实线位置 处)且将物件4完全盖覆后，此时该发光组53在该控制器54调控下 发射出光线，且光线直接、均匀地照射于该物件4外周缘，再加上该 发光组53的光线受到周壁524挡掣下，故该检测盘32与物件4得以 呈现出不同明暗层次现象，而使该物件4整体影像轮廓更完整呈现， 俾利该摄影机33可以撷取更清晰的影像，且该撷取后的影像供该运5算装置34进行比对、分析时，其能正确、快速地区别出该物件4范 围，且针对判断的该物件4范围进行判别，故有效提升物件4才佥测的 正确性，最后再藉由该退料装置35分选集收，即完成4企测作业，确 保检测后的物件品质符合规定。参阅图5、图6,本技术的另一较佳实施例，本实施例具有 辅助光源的物件;险测才几3与前一实施例相同，仍具有整列装置31、 检测盘32、光源装置5、摄影机33、运算装置34及退料装置35等 构件；特别是，本实施例在于该罩体52与摄影机33间设有一辅助装 置6，该辅助装置6具有一固设于该支架51上的本体61，以及复数 设于该本体61上的照明光源62，其中，该本体61上且邻近该摄影本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有辅助光源的物件检测机，其包含有一将物件整列输出的整列装置，一承接该输出物件的检测盘，一设于该检测盘旁且撷取该物件影像的摄影机，一与该摄影机连结且将撷取的影像进行分析的运算装置，以及一将该运算装置分析的物件进行分选集收的退料装置；其特征在于：该摄影机与检测盘间增设有一光源装置，该光源装置包括有一位于该检测盘旁位置的支架，一可于该支架上升降滑移且盖合于该物件的罩体，以及一设于该罩体内的发光组，其中，该罩体具有相反的第一、第二端面，一由该第一端面延伸至第二端面且界定出该通孔的周壁，以及于该周壁上开设有一可供该发光组设置的凹槽。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王冠仁，
申请(专利权)人：贝达科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[]