电极电位智能测量仪制造技术

本实用新型专利技术电极电位智能测量仪涉及测量技术，尤其是涉及到电化学测量技术。它由８０Ｃ３１芯片，只读存储器ＲＯＭ，数据存储器ＲＡＭ，运算放大器，Ａ／Ｄ转换，显示模块；继电器Ｊ，接线柱１～４和控制开关Ｋ１、Ｋ２组合而成。以单片机为核心，自动切断研究电极极化电流。采用曲线拟合方法，直接推算出消除ＩＲ降的电极电位值。本实用新型专利技术能基本上完全消除ＩＲ降对电极电位测量的影响，无需使用复杂仪器设备，操作简单，使用方便，适用范围广，测量结果准确可靠。（*该技术在2009年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量技术，尤其是涉及到电化学测量技术。在电化学研究及测量工作中，电极电位是最重要的基础数据之一，其准确的测量除了取决于选择稳定、可靠的参比电极和相应的测量仪器外，研究介质中IR降的影响也必须引起足够的重视。对于大多数研究介质，介质中IR降可以通过鲁金毛细管(Luggin Capi11ary Tube)来消除；但是，对于某些介质或在某些实验条件下，鲁金毛细管的应用受到了限制，介质中IR降对电极电位的影响十分严重，直接影响电极电位测量结果的可靠性。目前，国内外对此进行了广泛的研究，从研究结果来看，普遍采用的方法大致可分为两类1．仪器法此方法需要多种仪器设备，采用叠加干扰信号、断电等技术，通过电极电位-时间曲线，人工判断读出消除IR降电极电位值。此方法需要专业人员操作，且操作复杂，需要仪器设备多，只适用于实验室内的研究与测试工作，难以应用于现场的测试工作(如J．R．Scully等在1985年24期的Material Performance的第18页至24页所述)。2．极化探头法此方法是把参比电极置于极化试片的内侧，使测量回路最大限度地避开介质中IR降的影响。该方法所用测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电极电位智能测量仪，其特征在于，该测量仪由单片ＭＰＵ芯片（８０Ｃ３１）、只读存储器（ＲＯＭ）、数据存储器（ＲＡＭ）、运算放大器、Ａ／Ｄ转换器、显示模块、继电器（Ｊ）、接线柱（１－－４）和控制开关（Ｋ↓［１］、Ｋ↓［２］）组成，其中： １、接线柱（１）和接线柱（２）接在继电器（Ｊ）的常闭开关上；２、继电器（Ｊ）的控制线圈直接由单片ＭＰＵ芯片（８０Ｃ３１）控制；３、电极电位测量信号由接线柱（３）和接线柱（４）输入至运算放大器，再经Ａ／Ｄ转换后送单片ＭＰＵ芯片（８０Ｃ ３１）处理；４、只读存储器（ＲＯＭ）、数据存储器（ＲＡＭ）、控制开关（Ｋ↓［１］、Ｋ↓［２］）和显示模块直接...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：熊信勇，郑斌，杨立辉，许川壁，林连进，姚植忠，
申请(专利权)人：中国科学院福建物质结构研究所二部，
类型：实用新型
国别省市：92[中国|厦门]