一种间歇寿命试验系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种间歇寿命试验系统，属于试验设备技术领域，包括柜体，其特征在于：柜体表面设置独立通道，独立通道左侧下部设置独立开关按钮，独立开关按钮与独立通道电性连接，柜体表面上部设置工业控制计算机，独立通道与工业控制计算机电性连接，工业控制计算机上方水平并排设置开始按钮、停止按钮，工业控制计算机下方设置操作台，独立通道的数量为16个，16个独立通道关于工业控制计算机对称设置，16个独立通道通过485通讯线并联连接，并最终与工业控制计算机电性连接，本实用新型专利技术既实现了对独立通道的独立控制，又可根据需要将闲置的独立通道关闭，很好地解决了现有试验系统无法单独控制试验通道且费电的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种间歇寿命试验系统
本技术涉及试验设备
，具体是一种间歇寿命试验系统。
技术介绍
间歇寿命试验是对电路间断地施加电应力，使微电子器件受到“开”“关”之间的电应力周期变化，以加速电路内部的物理、化学反应的过程，这种周期变化的电应力又导致微电子器件和外壳温度的周期变化，由此最终得到微电子器件的典型失效率，证实微电子器件的质量或可靠性，间歇寿命试验及试验系统的设计，对试验的安全性、准确性和可操作性起着关键作用，但现有的试验系统存在一些问题，比如试验通道之间不能相互独立，无法对其进行单独控制，同时，当不需要使用全部的通道时，未使用的通道处于闲置状态，但仍然在耗能，导致对电能的浪费，比如试验系统中未设置K系数(即温度系数)测试装置，客户如需测试K系数，需要另外购买其他设备，导致成本明显增加，这显然是用户不希望看到的，因此，对于用户来说，急需提供一种既能方便对试验通道进行单独控制，又能经济地测量K系数的间歇寿命试验系统。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术提供一种间歇寿命试验系统。一种间歇寿命试验系统，包括柜体，其特本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种间歇寿命试验系统，包括柜体(1)，其特征在于：所述柜体(1)表面设置独立通道(2)，所述独立通道(2)左侧下部设置独立开关按钮(4)，所述独立开关按钮(4)与所述独立通道(2)电性连接，所述柜体(1)表面上部设置工业控制计算机(9)，所述独立通道(2)与所述工业控制计算机(9)电性连接，所述工业控制计算机(9)上方水平并排设置开始按钮(15)、停止按钮(14)，所述工业控制计算机(9)下方设置操作台(8)。/n

【技术特征摘要】
1.一种间歇寿命试验系统，包括柜体(1)，其特征在于：所述柜体(1)表面设置独立通道(2)，所述独立通道(2)左侧下部设置独立开关按钮(4)，所述独立开关按钮(4)与所述独立通道(2)电性连接，所述柜体(1)表面上部设置工业控制计算机(9)，所述独立通道(2)与所述工业控制计算机(9)电性连接，所述工业控制计算机(9)上方水平并排设置开始按钮(15)、停止按钮(14)，所述工业控制计算机(9)下方设置操作台(8)。


2.根据权利要求1所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，所述独立通道(2)的数量为16个，16个所述独立通道(2)关于所述工业控制计算机(9)对称设置。


3.根据权利要求2所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，16个所述独立通道(2)通过485通讯线并联连接，并最终与所述工业控制计算机(9)电性连接。


4.根据权利要求1所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，所述操作...

【专利技术属性】
技术研发人员：安浙文，
申请(专利权)人：杭州高坤电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33