【技术实现步骤摘要】
一种可调通用多引脚电容测试座
本技术涉及一种电容测试座，尤其是涉及一种可调通用多引脚电容测试座。
技术介绍
目前直插电容的封装规格越来越多样化，多电容并联后封装到一起的组合电容越来越多，出现了四个引脚、六个引脚甚至八个引脚的电容，这些多引脚电容无法使用传统的两脚电容测试座进行测试，铜片直接接触的可靠性又差，导致现有的测试准确率和效率低下。
技术实现思路
本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可测试多引脚电容的可调通用多引脚电容测试座。本技术的目的可以通过以下技术方案来实现：一种可调通用多引脚电容测试座，包括基座和两个相互平行的簧片，所述的基座上设有至少两个相互平行的凹槽，所述的簧片与凹槽连接，并可沿凹槽滑动，所述的簧片一端与电容测试仪的测试线连接，使用时，调节两簧片的间距，将被测电容的引脚插入簧片进行测试。所述的簧片上设有滑块，所述的滑块嵌入凹槽中。所述的簧片一端有焊线孔，用于焊接电容测试仪的测试线。所述的簧片一端安装有紧固件，用于将簧片固定在基座上。所述的紧固件为紧固螺丝。所述的基座为玻璃纤维材质。所述的簧片为纯铜材质。所述的基座上沿凹槽方向设有刻度。与现有技术相比，本技术具有以下优点：(1)通过簧片夹持被测多引脚电容引脚的方式提高了连接可靠性和测试结果的准确性，并通过调节簧片距离适用于多种电容的测试，且兼容两引脚标准电容，减少了测试座或工装夹具的采购数量与损耗，也节约了不同测试座或工装夹具的更...
【技术保护点】
1.一种可调通用多引脚电容测试座，其特征在于，包括基座(1)和两个相互平行的簧片(3)，所述的基座(1)上设有至少两个相互平行的凹槽(2)，所述的簧片(3)与凹槽(2)连接，并可沿凹槽(2)滑动，所述的簧片(3)一端与电容测试仪的测试线(7)连接，使用时，调节两簧片(3)的间距，将被测电容(8)的引脚插入簧片(3)进行测试。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种可调通用多引脚电容测试座，其特征在于，包括基座(1)和两个相互平行的簧片(3)，所述的基座(1)上设有至少两个相互平行的凹槽(2)，所述的簧片(3)与凹槽(2)连接，并可沿凹槽(2)滑动，所述的簧片(3)一端与电容测试仪的测试线(7)连接，使用时，调节两簧片(3)的间距，将被测电容(8)的引脚插入簧片(3)进行测试。
2.根据权利要求1所述的一种可调通用多引脚电容测试座，其特征在于，所述的簧片(3)上设有滑块(4)，所述的滑块(4)嵌入凹槽(2)中。
3.根据权利要求1所述的一种可调通用多引脚电容测试座，其特征在于，所述的簧片(3)一端有焊线孔(6)，用于焊接电容测试仪的测试线(7)。
技术研发人员：朱思敏，陈小英，
申请(专利权)人：上海铁路通信有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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