一种基于多传感器融合的冠层分层孔隙率测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种基于多传感器融合的冠层分层孔隙率测量装置，包括机架、上层调整机构、下层调整机构、测距机构、切割机构、行走机构和控制系统组成。上层调整机构和测距机构用于在测量区域提供精确的平面运动，并测量冠层枝叶的距离和图像信息；下层调整机构和切割机构用于在测量区域切割上层冠层枝叶；行走机构用于测量装置的行走；控制系统用于控制传感器信息采集与运动控制。本发明专利技术能够实现植株冠层分层孔隙率的多种传感信息的高效测量，具有同时采集多重信息，测量时间短，自动化作业程度高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种基于多传感器融合的冠层分层孔隙率测量装置
本技术属于植保
，涉及一种基于多传感器融合的冠层分层孔隙率测量装置，实现植株冠层分层孔隙率的多种传感信息的高效测量，具有同时采集多重信息，测量时间短，自动化作业程度高的优点。
技术介绍
植株冠层生长到中后期，容易形成高郁闭度冠层，这会造成喷雾时的雾滴沉积衰减现象，严重影响防效，药液通过植株冠层内部枝叶间的孔隙，从上而下层层穿透，沉积到各层叶片上，所以植株内部药液沉积的前提是药液穿透。研究植株冠层内部孔隙的分布、大小对研究药液在枝叶上的沉积状况具有重要意义。经对现有技术的文献检索发现，中国专利技术专利“一种植株群体冠层孔隙率测量装置及测量方法”专利申请号201710478499.0，采用激光测量孔隙率的方式，这种测量方式存在以下几个方面需要改进：①一种植株群体冠层孔隙率测量装置所采用的激光每次测量的点数少，测量耗费的时间长；②需要多层的孔隙率数据，需要人工剪枝，自动化程度低；③仅有一种基于激光点的距离信息，缺乏小范围面反射的距离信息和图像信息。针对现有分层孔隙率测量装置的弊端，迫本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于多传感器融合的冠层分层孔隙率测量装置，其特征在于：包括机架、上层调整机构、下层调整机构、测距机构、切割机构、行走机构和控制系统；/n所述的上层调整机构包括上层X-方向直线导轨模组、上层Y-方向直线导轨模组；所述的上层X-方向直线导轨模组通过螺栓固定在机架X方向上两横梁的上表面；所述的上层Y-方向直线导轨模组通过螺栓固定在上层X-方向直线导轨模组滑块的上表面，并与上层X-方向直线导轨模组保持垂直；上层调整机构带动测距机构实现二维平面的移动；/n所述的下层调整机构包括下层X-方向直线导轨模组、下层Y-方向直线导轨模组、Z-方向直线导轨模组；所述的下层X-方向直线导轨模组通过螺栓固定在机...

【技术特征摘要】
1.一种基于多传感器融合的冠层分层孔隙率测量装置，其特征在于：包括机架、上层调整机构、下层调整机构、测距机构、切割机构、行走机构和控制系统；
所述的上层调整机构包括上层X-方向直线导轨模组、上层Y-方向直线导轨模组；所述的上层X-方向直线导轨模组通过螺栓固定在机架X方向上两横梁的上表面；所述的上层Y-方向直线导轨模组通过螺栓固定在上层X-方向直线导轨模组滑块的上表面，并与上层X-方向直线导轨模组保持垂直；上层调整机构带动测距机构实现二维平面的移动；
所述的下层调整机构包括下层X-方向直线导轨模组、下层Y-方向直线导轨模组、Z-方向直线导轨模组；所述的下层X-方向直线导轨模组通过螺栓固定在机架X方向上两横梁的上表面，两横粱通过螺栓固定在前后两个滑杆上，随Z-方向直线导轨模组滑块实现上下移动；所述的下层Y-方向直线导轨模组通过螺栓固定在下层X-方向直线导轨模组滑块的上表面，并与下层X-方向直线导轨模组保持垂直；所述的Z-方向直线导轨模组通过螺栓固定在机架的前半部分的长方体孔内，并与下层X-方向直线导轨模组和下层Y-方向直线导轨模组垂直；下层调整机构带动切割机构实现刀具在三维方向移动；
所述的测距机构包括固定支架、激光雷达、相机、超声波；所述的固定支架为一工字型结构，通过螺栓与上层Y-方向直线导轨模组滑块的侧面固定；所述的激光雷达选用满足工作条件的固态激光雷达，激光雷达、相机、超声波三者分别通过螺栓与固定支架的表面固定，并垂直于XY水平面；
所述的切割机构包括刀具和刀套...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘雪美，蔡本广，苑进，贠莹莹，刘兴华，李扬，
申请(专利权)人：山东农业大学，
类型：新型
国别省市：山东;37