一种晶片分选机制造技术

技术编号:26074133 阅读:26 留言:0更新日期:2020-10-28 16:48
本实用新型专利技术涉及一种晶片分选机,包括:工作台,转盘,所述转盘转动的设置在工作台上,用于带动晶片旋转;上料机构,所述上料机构设置在工作台上,用于将晶片倒入所述转盘上;吸料机构,所述吸料机构设置在工作台上,用于吸取转盘上的晶片;检测机构,所述检测机构设置在工作台上,用于检测所述吸料机构吸取的晶片是否合格;所述吸料机构根据所述检测机构的检测结果将合格晶片与不合格晶片分开放置。通过上料机构将晶片倒入转盘上,然后转盘带动晶片旋转,使晶片散开,便于吸料机构吸取;吸料机构吸取转盘上的晶片,并根据检测机构的检测结果,将合格晶片与不合格晶片分开放置,实现晶片的自动化分选,避免人工分选,大大提高晶片的分选效率。

【技术实现步骤摘要】
一种晶片分选机
本技术涉及晶片加工
,特别是一种晶片分选机。
技术介绍
随着石英晶体行业的飞速发展,产品类型也越来越趋于小型化。目前对石英晶片的外观检测处于人工用肉眼进行直接观测或用放大镜进行观测。由于存在主观因素,每个人的检验标准会有所不同,分选晶片会出现误差。且随着产品的小型化,人工肉眼观测难度越来越大,因此人工检测和分选已经不能满足市场及工艺加工的要求。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于,提供一种能够自动检测并分选的晶片分选机。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种晶片分选机,包括:工作台,转盘,所述转盘转动的设置在所述工作台上,用于带动晶片旋转;上料机构,所述上料机构设置在所述工作台上,用于将晶片倒入所述转盘上;吸料机构,所述吸料机构设置在所述工作台上,用于吸取所述转盘上的晶片;检测机构,所述检测机构设置在所述工作台上,用于检测所述吸料机构吸取的晶片是否合格;所述吸料机构根据所述检测机构的检测结果将合格晶片与不合格晶片分开放置。进一步地,所述上料机构包括第一支架、用于放置晶片的储料筒以及第一动力部,所述第一支架安装在所述工作台上,所述储料筒活动设置在所述第一支架上,所述第一动力部驱动所述储料筒自转。进一步地,所述储料筒的中心轴与所述转盘的旋转平面之间呈一仰角;所述储料筒内壁设有便于晶体倒出的螺纹。进一步地,所述仰角为15°至25°。进一步地,所述上料机构还包括漏斗,所述漏斗设置在所述第一支架上,并位于所述储料筒的下方;从所述储料筒倒出的晶片经过所述漏斗逐个掉落到所述转盘上。进一步地,所述检测机构包括第一CCD相机和第一光源,所述第一CCD相机和第一光源均设置在所述工作台上。进一步地,所述晶片分选机还包括用于定位晶片的定位机构,所述定位机构包括第二支架以及安装在所述第二支架上的第二CCD相机和第二光源,所述第二支架安装在所述工作台上,所述第二光源位于所述第二CCD相机的下方,并位于所述转盘的上方;所述第一光源和第二光源均为环形光源。进一步地,所述吸料机构包括真空吸嘴和第二动力部,所述第二动力部驱动所述真空吸嘴沿直线往复运动,分别经过第一CCD相机上方、第二CCD相机下方。进一步地,所述第二动力部包括伺服电机、丝杆、导轨以及设置在导轨上的滑块,在所述滑块上设置微调组件,所述真空吸嘴设置在所述微调组件上,通过调节所述微调组件能够使真空吸嘴升降;所述滑块与丝杆螺纹连接,所述伺服电机驱动丝杆旋转,驱动所述滑块沿导轨移动,带动所述真空吸嘴沿导轨往复移动。进一步地,所述晶片分选机还包括用于储存合格晶片的良品盒和用于储存不合格晶片的废品盒,所述良品盒和废品盒均设置在所述工作台上;所述真空吸嘴从所述转盘上吸取晶片后,根据所述检测机构的检测结果,将吸取的晶片放置在所述良品盒或废品盒内。相对于现有技术,本技术提供的一种晶片分选机,通过上料机构将晶片倒入转盘上,然后转盘带动晶片旋转,使晶片散开,便于吸料机构吸取;吸料机构吸取转盘上的晶片,并根据检测机构的检测结果,将合格晶片与不合格晶片分开放置,实现晶片的自动化分选,避免人工分选,大大提高晶片的分选效率。附图说明下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明,附图中:图1是本技术提供的晶片分选机的立体示意图;图2是图1中晶片分选机的局部放大示意图;图3是图1中晶片分选机的侧视示意图;图4是图1中晶片分选机的局部放大示意图。具体实施方式现结合附图,对本技术的较佳实施例作详细说明。如图1所示,本技术提供一种晶片分选机,包括:工作台10,其中工作台水平设置。转盘20,转盘20转动的设置在工作台10上,用于带动晶片旋转;具体通过电机驱动转盘20旋转。上料机构30,上料机构30设置在工作台10上,用于将晶片倒入转盘20上。吸料机构40,吸料机构40设置在工作台10上,用于吸取转盘20上的晶片。检测机构50,检测机构50设置在工作台10上,用于检测吸料机构40吸取的晶片是否合格;吸料机构40根据所述检测机构50的检测结果将合格晶片与不合格晶片分开放置。工作时,先通过上料机构30将晶片倒入转盘20上,然后转盘20带动晶片旋转,使晶片散开避免堆叠,便于吸料机构40吸取。吸料机构40吸取转盘20上的晶片,并根据检测机构50的检测结果,将合格晶片与不合格晶片分开放置,实现晶片的自动化分选,避免人工分选,大大提高晶片的分选效率。如图2所示,上料机构30包括第一支架31、用于放置晶片的储料筒32以及第一动力部33。第一支架31安装在工作台10上,储料筒32活动设置在第一支架31上,第一动力部33驱动储料筒32自转,使储料筒32内的晶片倒入转盘20上。其中,第一动力部33优选为伺服电机,该伺服电机亦安装在第一支架31上。在本实施例中,储料筒32的中心轴与转盘20的旋转平面之间呈一仰角Q,储料筒32内壁设有便于晶体倒出的螺纹37。在储料筒32自转的过程中,晶片会沿着螺纹37运动,慢慢的从储料筒32中导出。这种具有仰角的出料方式能够控制出料速度,设计非常巧妙。具体的,该仰角为15°至25°,优选为20°(请参考图3)。如果该仰角太大则不利于晶片的导出。上料机构30还包括漏斗34,漏斗34设置在第一支架31上,并位于储料筒32的下方。从储料筒32倒出的晶片经过漏斗34逐个掉落到转盘20上,使晶片能够均匀散落,有利于吸料机构40取料。为了方便调节漏斗34的位置,漏斗34通过连接杆35安装在第一支架31上,漏斗34上开设有第一条形孔36,并通过锁紧件穿过第一条形孔36固定在连接杆35上。其中,锁紧件可以为螺钉或螺栓。参考图4,检测机构50包括第一CCD相机51和第一光源52,第一CCD相机51和第一光源52均设置在工作台10上。当吸料机构40吸取晶片经过第一CCD相机51时,第一CCD相机51从下往上对晶片进行飞行拍摄,即吸料机构40中途不用停留,在运动的过程中实现拍摄。这样能够大大提高检测效率。在本实施例中,第一光源52为环形光源,环形光源光照均匀。第一光源52安装在第一CCD相机51上,第一CCD相机51透过环形光源对晶片进行拍摄,拍摄效果好。由于晶片是随转盘20旋转的,为了使吸料机构40能够精确的吸取晶片。晶片分选机还包括用于定位晶片的定位机构60,定位机构60包括第二支架61以及安装在第二支架61上的第二CCD相机62和第二光源63,第二支架61安装在工作台10上,第二光源63位于第二CCD相机62的下方,并位于转盘20的上方。具体地,吸料机构40吸料的位置为吸料区,第二CCD相机62刚好位于该吸料区的上方,能够提前拍摄到将要转动到吸料区的晶片,系统根据转盘20的旋转角速度,能够计算出晶片到吸料区的时间,到时间后,控制吸料机构40产生吸取动作,刚好可以吸取到转动到吸料区的晶片。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶片分选机,其特征在于,包括:工作台,/n转盘,所述转盘转动的设置在所述工作台上,用于带动晶片旋转;/n上料机构,所述上料机构设置在所述工作台上,用于将晶片倒入所述转盘上;/n吸料机构,所述吸料机构设置在所述工作台上,用于吸取所述转盘上的晶片;/n检测机构,所述检测机构设置在所述工作台上,用于检测所述吸料机构吸取的晶片是否合格;所述吸料机构根据所述检测机构的检测结果将合格晶片与不合格晶片分开放置。/n

【技术特征摘要】
1.一种晶片分选机,其特征在于,包括:工作台,
转盘,所述转盘转动的设置在所述工作台上,用于带动晶片旋转;
上料机构,所述上料机构设置在所述工作台上,用于将晶片倒入所述转盘上;
吸料机构,所述吸料机构设置在所述工作台上,用于吸取所述转盘上的晶片;
检测机构,所述检测机构设置在所述工作台上,用于检测所述吸料机构吸取的晶片是否合格;所述吸料机构根据所述检测机构的检测结果将合格晶片与不合格晶片分开放置。


2.根据权利要求1所述的晶片分选机,其特征在于,所述上料机构包括第一支架、用于放置晶片的储料筒以及第一动力部,所述第一支架安装在所述工作台上,所述储料筒活动设置在所述第一支架上,所述第一动力部驱动所述储料筒自转。


3.根据权利要求2所述的晶片分选机,其特征在于,所述储料筒的中心轴与所述转盘的旋转平面之间呈一仰角;所述储料筒内壁设有便于晶体倒出的螺纹。


4.根据权利要求3所述的晶片分选机,其特征在于,所述仰角为15°至25°。


5.根据权利要求3所述的晶片分选机,其特征在于,所述上料机构还包括漏斗,所述漏斗设置在所述第一支架上,并位于所述储料筒的下方;从所述储料筒倒出的晶片经过所述漏斗逐个掉落到所述转盘上。


6.根据权利要求1至5中任意一项所述的晶片分选机,其特征在于,所述检测机构包括第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:常德李进阳
申请(专利权)人:深圳市科锐尔自动化设备有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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