一种沉降天平制造技术

一种沉降天平，是在光学分析天平加码架处改设为沉降加码架，并在横梁左端阻尼盒下方，设置一个由沉降筒和沉降盘构成的沉降承受器而成，该天平专用于测试粉体粒度大小及其分布状况。这种沉降天平结构简单，精确度高，操作方便，每人每天可测试１２～１８个试样，省电省试样，安全可靠，无粉尘污染，适用于工业常规测试５～１２００μｍ粒度粉体和科学研究。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是一种天平，适用于以沉降重量法测定粉体粒度及其分布。现有的沉降天平，如Gallenkamp沉降天平、Shimaelzu沉降天平等，都是用电磁起动，自动加码平衡颗粒沉降的原理，每次加码的间隔量不变，造成在细粒级部分误差较大，分散相颗粒浓度大(1～5%)，操作复杂，易出故障。这些沉降天平仅适合测定100μm以下颗粒范围和实验室研究之用，不适合工业常规例行测试工作。对大于100μm以上的多分散体都用筛析法。而筛析法存在筛孔尺寸易变，测定精度低，劳动强度大，耗电耗试样多，静电粘附，技术不安全因素及粉尘损害操作人员身体健康等多种弊端，使其使用受到很大限制。目前有相当一部分工业粉体粒度上限在500微米以上，现有的沉降天平和筛析法都无法精确测定。本专利技术的目的是提供一种沉降天平，能测定5～1200μm粉体粒度大小及其分布情况，并具有操作方便，精确度高，适于工业常规和科研中应用。本专利技术是采取以下措施达到上述目的的在双盘光学分析天平的外壳上，原加码架处改设成一个由主凸轮组和副凸轮组组成的沉降加码架。其主凸轮组是由5片齿缘齿谷相位相异的凸轮构成，它与12个齿的外定轴齿轮固定在外定轴上;副凸轮组是由3片齿缘齿谷相位相异的凸轮构成，它与6个齿的内定轴齿轮固定在内定轴上;在横梁A端阻尼盒下面设置了一个由沉降筒，和置于沉降筒内的沉降盘组成的沉降承受器，沉降盘挂在与横梁A端相连的挂钩上。本专利技术具有结构简单，操作方便，节电省试样，测量范围广，精确度高，相对误差小于±1.5%，适于工业常规和科研中测试粉体各粒度大小及其分布情况。以下结合附图对本专利技术作进一步说明。附图说明图1是本专利技术的结构示意图;图2是图1的C-C视图;图3是主凸轮组的5片凸轮图;图4是副凸轮组的3片凸轮图。实施例将双盘光学分析天平加码架改为沉降加码架5，其主凸轮组14是由5片齿缘齿谷所占相位相异的凸轮18、19、20、21、22组成。主凸轮组14与具有12个齿的外定轴齿轮12固定在外定轴13上，如图2、图3所示。外定轴齿轮12将主凸轮组14均分为12个档次(相位)进行控制，这12个档次又分为第一段是1～5档次，每档次加圈码200mg;第二段是6～11档次，每档次加圈码100mg;第12档次是0档。主凸轮组14调码数值及程序列表如下 注“+”-加入该圈码;“-”-未加该圈码。沉降加码架5的副凸轮组16是由3片齿缘齿谷所占相位相异的凸轮23、24、25组成。副凸轮组16与具有6个齿的内定轴齿轮17固定在内定轴15上，如图2、图4所示。内定轴齿轮17将副凸轮组16均分为6个档次(相位)进行控制，第1～5档次为第三段，是试加圈码段，承担调动10mg级的圈码，即先试加圈码值和高档次的重圈码，如沉降时间过长，再改试加圈码值和低档次的轻圈码，例如每档次圈码值是80mg、50mg、30mg、20mg、10mg。副凸轮组16调码数值及程序列表如下 注“+”-加入该圈码;“-”-未加该圈码。在双盘光学分析天平的横梁7的B端为加圈码端。在A端阻尼盒9的下面设置了一个沉降承受器，它是由透明或半透明的沉降筒10和置于其内的沉降盘11构成。沉降筒10是耐油性聚酯制成，沉降盘11是由黄铜杆的一头固定在黄铜盘中心而成。黄铜杆的另一头可通过尼龙线与横梁7A端相连的挂钩相连接。沉降承受器设置在外壳1下面，即阻尼盒9正下方的底板上有一个孔，由尼龙线通过该孔进行连接。沉降承受器也可以设置在外壳1内，这可根据需要而定。在横梁7B端阻尼盒9下面可以设置一个挂在横梁7B端的配重体4，使其起平衡作用。在支柱8上可以设置一个指针2的限摆器3，用作限制指针2的摆动范围。测试操作过程向沉降筒10内注入沉降介质，放正沉降承受器，挂上沉降盘11，使沉降天平的指针2达到零点平衡，然后关闭天平，预加200mg圈码6。称取5克试样，加入沉降筒10内，用沉降盘11进行搅拌到均匀时，立即挂上沉降盘11，并同时打开天平和开动计时表，当颗粒沉降量刚好平衡200mg圈码6，即指针2指到零点时，记下时间，再加第二次圈码6，重复前面操作，直到达到所需的总沉降时间为止。根据每次累计的加圈码值和沉降时间作出曲线图，并进行数据处理，就可确定粉体粒度及各粒级的重量百分含量。这样一台沉降天平，每人每天可测试12～18个试样。权利要求1.一种沉降天平，包括外壳、支柱、横梁、阻尼盒、指针、圈码、加码架，本专利技术的特征在于所述加码架是沉降加码架，其主凸轮组是由5片凸轮构成，它与12个齿的外定轴齿轮固定在外定轴上，副凸轮组是由3片凸轮构成，它与6个齿的内定轴齿轮固定在内定轴上；在所述横梁A端阻尼盒下面，设置了一个由沉降筒和置于其内的沉降盘组成的沉降承受器，沉降盘挂在与横梁A端相连的挂钩上。2.根据权利要求1所述的沉降天平，其特征在于所述横梁〔7〕B端阻尼盒〔9〕下面，可以设置一个配重体〔4〕。3.根据权利要求1或2所述的沉降天平，其特征在于所述支柱〔8〕上可以设置一个指针〔2〕的限摆器〔3〕。4.根据权利要求1或2所述的沉降天平，其特征在于所述沉降承受器也可以设置在外壳〔1〕内。5.根据权利要求3所述的沉降天平，其特征在于所述沉降承受器也可以设置在外壳〔1〕内。全文摘要一种沉降天平，是在光学分析天平加码架处改设为沉降加码架，并在横梁左端阻尼盒下方，设置一个由沉降筒和沉降盘构成的沉降承受器而成，该天平专用于测试粉体粒度大小及其分布状况。这种沉降天平结构简单，精确度高，操作方便，每人每天可测试12～18个试样，省电省试样，安全可靠，无粉尘污染，适用于工业常规测试5～1200μm粒度粉体和科学研究。文档编号G01G1/18GK1086013SQ9310313公开日1994年4月27日 申请日期1993年3月16日 优先权日1993年3月16日专利技术者连嗣南 申请人:连嗣南本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种沉降天平，包括外壳［１］、支柱［８］、横梁［７］、阻尼盒［９］、指针［２］、圈码［６］、加码架，本专利技术的特征在于所述加码架是沉降加码架［５］，其主凸轮组［１４］是由５片凸轮［１８、１９、２０、２１、２２］构成，它与１２个齿的外定轴齿轮［１２］固定在外定轴［１３］上，副凸轮组［１６］是由３片凸轮［２３、２４、２５］构成，它与６个齿的内定轴齿轮［１７］固定在内定轴［１５］上；在所述横梁［７］Ａ端阻尼盒［９］下面，设置了一个由沉降筒［１０］和置于其内的沉降盘［１１］组成的沉降承受器，沉降盘［１１］挂在与横梁［７］Ａ端相连的挂钩上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：连嗣南，
申请(专利权)人：连嗣南，
类型：发明
国别省市：33[中国|浙江]