透光式布料偏移检测装置制造方法及图纸

一种透光式布料偏移检测装置，其构成是，检测受光器处于作试缝动作的被缝制布料的多个点的受光量，利用来自ＣＰＵ的反馈信号自动调整与受光器连接的可变电阻器的感度，以使该多个检测值中最大的检测值与布料偏移检测用基准值相一致。采用该结构，不需要手动操作所带来的麻烦的感度调整作业，从而在以透光量变化厉害的带有图案的布料为缝制对象的情况下也能可靠而正确地进行原来的布料偏移检测，防止拷边机在拷边时产生缝制不良的现象。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及透光式布料偏移检测装置，它主要用于在用拷边机将多块布料重合进行缝制、拷边时，对重合后的布料是否产生相互偏移进行检测，当产生布料偏移时可通过报告给操作者等来防止缝制不良。这种透光式布料偏移检测装置具有配置在被缝制布料的一面侧的照光器，被缝制布料在重合的状态下被送入缝纫机的落针部而移动通过该落针部；以及与该照光器相对配置在被缝制布料的另一面侧的受光器，根据来自照光器的光透过被缝制布料而由受光器受光时的光量变化来检测布料偏移。详细地说，当将被缝制布料的重合部的透光量和非重合部的透光量进行比较时，非重合部的透光量较大。这样，通过在对透光量有差值的两部分的透光量之间设定基准值，就可在实际缝制时判定由受光器受光的透光量是否超过该基准值，从而检测、输出有无布料偏移。然而，当缝制对象的布料的厚度不相同时，其重合部的透光量和非重合部的透光量都产生变化，在以特定厚度的布料为对象而设定成上述那样的基准值中，当布料厚度变化时，就产生不能按规定检测布料偏移的情况。例如，以厚度较大的布料为对象而仍是已设定的基准值的情况下，欲检测布料厚度较薄的布料偏移，布料的重合部的透光量有时会超过基准值，这样，尽管不太会产生布料偏移，但若产生布料偏移，就有可能产生误检动作。因此，在透光式布料偏移检测装置中，需要与缝制对象的布料厚度相对应而设定变更基准值。作为该基准值的设定变更装置，以往一般采用的装置是，将缝制对象的布料试缝，分别检测该试缝布料的重合部的透光量和非重合部的透光量，用手动操作可变电阻器来调整受光器的感度以使检测它们后的两透光量之间成为基准值。但是，在上述那样的、现有的透光式布料偏移检测装置中，缝制对象的布料厚度每次变化，不仅要进行麻烦的感度调整作业，而且当缝制对象的布料是带图案的布料时，透光量因光透过位置的图案的状况而变化并有可能产生误检动作。也就是说，若将受光器的感度设定成以在试缝布料的重合部当中难以透过光的图案位置的透光量和在非重合部当中难以透过光的图案位置的透光量之间的量成为基准值，那么重合部的容易透过光的图案位置的透光量就超过基准值，尽管不太会产生布料偏移，但若产生布料偏移则有可能产生误检动作，就会损害以带图案的布料为缝制对象的布料偏移检测装置的检测功能。鉴于上述的情况，本专利技术的主要目的在于，提供一种透光式布料偏移检测装置，不仅不需要手动操作所带来的麻烦的感度调整作业，而且当以透光量的变化较厉害的带图案的布料为缝制对象时也能可靠而正确地进行原来的布料偏移检测。本专利技术的另一目的是，当因附着尘埃之类而使受光器的受光量和照光器的照光量产生时效性的减少时，经对受光面和照光面进行清扫等而促使它们复原到原来的受光量和照光量，即使长时期使用也可确保规定的布料偏移检测性能。本专利技术的其他目的可在下面的说明中得知。为实现上述的主要目的，本第1专利技术的透光式布料偏移检测装置是，照光器配置在重合的被缝制布料的一面侧，受光器配置在被缝制布料的另一面侧，通过判定来自照光器的光由受光器受光的透光量是否超过基准值来检测有无布料偏移，其特点是，具有随着被缝制布料的缝制动作而检测受光器处于该被缝制布料多个点的受光量、从而自动调整所述受光器的感度或/及照光器的照光量以使其多个检测值中最大的检测值与所述基准值相一致的运算装置。采用上述那样结构的本第1专利技术，在实际缝制动作之前无需所有的手动操作所带来的麻烦的感度调整作业，只要试缝重合的缝制对象布料，就可在试缝时检测出的受光器处于缝制对象布料多个点的受光量的检测值中自动调整受光器的感度或/及照光器的照光量使最大的受光量的检测值与基准值相一致。由此，无论缝制对象布料的厚度怎样，都可自动调整成能可靠而正确地发挥规定的布料偏移检测功能的适合的受光感度或/及适合的照光量。而且，即使以分散着容易透光的部位和难以透光的部位的带图案的布料为缝制对象，只要进行试缝，也可将布料重合部中最易透光的图案位置的最大透光量设定成基准值，因此，即使以有任何图案的布料为缝制对象，也可获得能可靠而正确地发挥规定的布料偏移检测功能的效果。在上述第1专利技术的透光式布料偏移检测装置中，当以根据受光器的感度或/及照光器的照光量调整也未使受光器的多个受光量检测值中最大的检测值达到所述基准值的布料为缝制对象时，如权利要求3所述的第2专利技术那样，最好将相当于受光器具有的最高感度或/及照光器的最大照光量的值定为基准值。采用该第2专利技术，在试缝时不能设定基准值的情况下，可避免产生因该原因而不能进行以后缝制动作的这种缝纫机使用上的不良情况。另外，在上述那样的透光式布料偏移检测装置中，当自动调整受光器的感度或/及照光器的照光量时，如权利要求4及5所述的第3专利技术那样，通过使用每一次的缝制(试缝)动作的平均值或修正成积分值的数值作为多个受光量检测值，即使以具有任何透光特性的布料为缝制对象，也可提高基准值设定用的受光器的感度或/及照光器的照光量调整精度，从而可进一步提高规定的布料偏移检测性能。此外，在这种透光式布料偏移检测装置中，因反复进行缝制动作中受光器的受光面和照光器的照光面上附着尘埃等会使受光器的受光量时效性地减少，或使照光器的照光量时效性地减少，从而存在着因该原因而使规定的布料偏移检测性能下降的不良情况。考虑到这一点，如权利要求6所述的第4专利技术那样，除了上述透光式布料偏移检测装置外，还具有检测受光器的受光量有无变化并自己诊断该受光器或/及照光器是否正常的装置，根据受光器的受光量减少时和照光器的照光量减少时的自己诊断结果来进行清扫受光面和照光面等而促使它们复原到原来的受光量和照光量，即使长时期使用，也可始终在可靠而正确地发挥与规定的布料偏移检测性能及布料的变更相对应的受光量或/及照光量的自动调整性能的状态下来使用。附图的简单说明图1是具有本专利技术透光式布料偏移检测装置的拷边机主要部分的立体图；图2是图1的拷边机主要部分的右视图；图3是说明布料偏移状态的主要部分的俯视图；图4是表示本专利技术透光式布料偏移检测装置的电路结构的方框图；图5是说明用于设定布料偏移检测用基准值的受光感度调整动作的程序图；图6是受光器处于缝制对象布料的多个点的受光量的检测波形图；图7是将图6检测波形修正后的波形图；图8是说明受光器受光量的自己诊断动作程序图。下面，结合附图说明本专利技术的实施形态。图1是具有本专利技术透光式布料偏移检测装置的拷边机M主要部分的立体图，图2是图1拷边机的主要部分的右视图。在该拷边机M的横板1上固定有针板2，其上面与横板1的上面成为同一平面。在该针板2的下部且在将上下往复运动地支承在拷边机头部3上的缝纫针4的落针部5予以夹持的前后位置，配设有将上下互相重合的2块被缝制布料6、7向缝制前进方向Y输送的前送齿8及后送齿8，并在针板2的上部设有将被缝制布料6、7按压到该针板2上面的压脚10，一边利用所述前后送齿8、9将被缝制布料6、7依次向缝制前进方向Y输送，一边利用缝纫针4和未图示的弯针(ル-パ)的协同作用而象图3所示那样进行在与缝制前进方向Y正交的布料宽度方向X形成某种宽度的针脚11的拷边。在所述针板2的比落针部5还向缝制前进方向Y的后部位置，设有由照光器12和受光器14所构成的透光式的布料偏移检测传感器15，照光器12被固定在针板2的上方部而即将透过光线照在被本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种透光式布料偏移检测装置，照光器配置在重合的被缝制布料的一面侧，受光器配置在被缝制布料的另一面侧，通过判定来自照光器的光由受光器受光的透光量是否超过基准值来检测有无布料偏移，其特征在于， 具有随着被缝制布料的缝制动作而检测受光器处于该被缝制布料多个点的受光量、从而自动调整所述受光器的感度或／及照光器的照光量以使其多个检测值中最大的检测值与所述基准值相一致的运算装置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：仓田博道，正冈贵义，
申请(专利权)人：大和缝纫机制造株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]