一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，括壳体，所述壳体的内部为中空结构，所述壳体的顶部设置有顶盖，所述壳体后表面底部的靠一侧位置固定安装有SMA接口，所述SMA接口的后端电性连接有欧姆抗组，所述欧姆抗组的后端电性连接有连接线，所述连接线的后端电性连接有滤波器。该用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，通过采用壳体、卡扣和转接头的设计，壳体全身采用全金属制造，形成法拉第笼，再搭配特殊的卡扣和转接头，能够保证电磁屏蔽效能，可以有效防止外界电磁环境对测试结果的影响，确保数据的可靠性，矢量网络分析仪接口、频谱分析仪接口、BNC接口、SMA接口和PCB测试版供电电源接口的设计。

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台
本技术涉及集成电路
，具体为一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台。
技术介绍
集成电路(integratedcircuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路专利技术者为杰克·基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特·诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，主要是针对集成电路测试。在集成电路EMC测试中，被测品包含PCB板级产品，需要测量PCB板走线之间产生的共模干扰，并提供电磁屏蔽的测试环境。现有的用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，无法保证在电磁屏蔽的环境下进行测试，由于受到外界的环境变化干扰较大，从而无法保证测试数据的准确性，且无法在多个方向的测试点进行测试，需要人为变换位置，这样不仅大大的增加了测试的时间和人力，还有可能无法找到最大的干扰点，PCB供电没有经过处理，直接由市电供电，易受到电网波动带来的影响，不能满足使用者的使用需求。因此，我们提出一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台。
技术实现思路
>本技术的目的在于提供一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，以解决上述
技术介绍
中提出现有的测试设备，无法保证在电磁屏蔽的环境下进行测试，由于受到外界的环境变化干扰较大，从而无法保证测试数据的准确性，且无法在多个方向的测试点进行测试，需要人为变换位置，这样不仅大大的增加了测试的时间和人力，还有可能无法找到最大的干扰点，PCB供电没有经过处理，直接由市电供电，易受到电网波动带来的影响，不能满足使用者使用需求的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，包括壳体，所述壳体的内部为中空结构，所述壳体的顶部设置有顶盖，所述壳体后表面底部的靠一侧位置固定安装有SMA接口，所述SMA接口的后端电性连接有欧姆抗组，所述欧姆抗组的后端电性连接有连接线，所述连接线的后端电性连接有滤波器，所述壳体后表面底部的靠另一侧位置固定安装有PCB测试版供电电源接口，所述壳体前表面顶部的靠中心位置设置有滤波器输入输出口。优选的，所述壳体前表面与后表面顶部的靠两侧位置均固定安装有转接头，所述顶盖前表面与后表面底部的靠两侧位置均固定安装有卡扣，四个卡扣的底部均贯穿四个转接头且延伸至转接头的外部。优选的，所述壳体的前表面固定安装有矢量网络分析仪接口，所述矢量网络分析仪接口位于壳体底部的靠中心位置。优选的，所述壳体的前表面固定安装有频谱分析仪接口，所述频谱分析仪接口位于壳体前表面底部的靠一侧位置。优选的，所述壳体前表面固定安装有BNC接口，所述BNC接口位于壳体底部的靠另一侧位置。优选的，所述壳体顶部表面的四边和顶盖底部表面的四边均固定连接有导电衬垫，两个导电衬垫之间接触。与现有技术相比，本技术的有益效果是：该用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，通过采用壳体、卡扣和转接头的设计，壳体全身采用全金属制造，形成法拉第笼，再搭配特殊的卡扣和转接头，能够保证电磁屏蔽效能，可以有效防止外界电磁环境对测试结果的影响，确保数据的可靠性，矢量网络分析仪接口、频谱分析仪接口、BNC接口、SMA接口和PCB测试版供电电源接口的设计，壳体的前后表面都设置接口，使用者可以在多个方向同时进行测试，能够有效的一次性找到最大的干扰点，从而节约了测试时间和成本，在PCB测试版供电电源接口连接滤波器，市电先通过隔离电源，再经过滤波器，双重保障，确保供电的稳定、纯净，进一步增加测试数据的可靠性。附图说明图1为本技术结构注视图；图2为本技术结构俯视图；图3为本技术结构后视图；图4为本技术壳体的内部阻抗匹配网络示意。图中：1、壳体；2、转接头；3、卡扣；4、矢量网络分析仪接口；5、频谱分析仪接口；6、BNC接口；7、SMA接口；8、PCB测试版供电电源接口；9、顶盖；10、导电衬垫；11、滤波器输入输出口；12、欧姆抗组；13、连接线。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-4，本技术提供一种技术方案：一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，包括壳体1，壳体1的内部为中空结构，壳体1的顶部设置有顶盖9，壳体1后表面底部的靠一侧位置固定安装有SMA接口7，SMA接口7的后端电性连接有欧姆抗组12，欧姆抗组12的后端电性连接有连接线13，连接线13的后端电性连接有滤波器，壳体1后表面底部的靠另一侧位置固定安装有PCB测试版供电电源接口8，壳体1前表面顶部的靠中心位置设置有滤波器输入输出口11。本技术中：壳体1前表面与后表面顶部的靠两侧位置均固定安装有转接头2，顶盖9前表面与后表面底部的靠两侧位置均固定安装有卡扣3，四个卡扣3的底部均贯穿四个转接头2且延伸至转接头2的外部；转接头2和卡扣3的设计，能够保证电磁屏蔽效能，可以有效的防止外界电磁环境对测试结果的影响，确保数据的可靠性。本技术中：壳体1的前表面固定安装有矢量网络分析仪接口4，矢量网络分析仪接口4位于壳体1底部的靠中心位置；矢量网络分析仪接口4的设计，可用来连接矢量网络分析仪来测量无源和有源网络的S参量。本技术中：壳体1的前表面固定安装有频谱分析仪接口5，频谱分析仪接口5位于壳体1前表面底部的靠一侧位置；频谱分析仪接口5的设计；可以用来连接频谱分析仪来测量信号失真度、调制度、谱纯度、频率稳定度和交调失真等信号参数。本技术中：壳体1前表面固定安装有BNC接口6，BNC接口6位于壳体1底部的靠另一侧位置；BNC接口6的设计，可用于连接同轴电缆，且轴电缆是一种屏蔽电缆，有传送距离长、信号稳定的优点。本技术中：壳体1顶部表面的四边和顶盖9底部表面的四边均固定连接有导电衬垫10，两个导电衬垫10之间接触；导电衬垫10的设计，可有效的保证在测试时屏蔽的性能。工作原理：壳体1由厚度三毫米以上的不锈钢制成，全身采用全金属壳体，形成法拉第笼，首先，使用者将顶盖9前表面与后表面的四个卡扣3分别插入四个转接头2中，在测试的时候，能够有效的保证本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，包括壳体(1)，其特征在于：所述壳体(1)的内部为中空结构，所述壳体(1)的顶部设置有顶盖(9)，所述壳体(1)后表面底部的靠一侧位置固定安装有SMA接口(7)，所述SMA接口(7)的后端电性连接有欧姆抗组(12)，所述欧姆抗组(12)的后端电性连接有连接线(13)，所述连接线(13)的后端电性连接有滤波器，所述壳体(1)后表面底部的靠另一侧位置固定安装有PCB测试版供电电源接口(8)，所述壳体(1)前表面顶部的靠中心位置设置有滤波器输入输出口(11)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，包括壳体(1)，其特征在于：所述壳体(1)的内部为中空结构，所述壳体(1)的顶部设置有顶盖(9)，所述壳体(1)后表面底部的靠一侧位置固定安装有SMA接口(7)，所述SMA接口(7)的后端电性连接有欧姆抗组(12)，所述欧姆抗组(12)的后端电性连接有连接线(13)，所述连接线(13)的后端电性连接有滤波器，所述壳体(1)后表面底部的靠另一侧位置固定安装有PCB测试版供电电源接口(8)，所述壳体(1)前表面顶部的靠中心位置设置有滤波器输入输出口(11)。


2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路共模传导骚扰测试的法拉第笼工作台，其特征在于：所述壳体(1)前表面与后表面顶部的靠两侧位置均固定安装有转接头(2)，所述顶盖(9)前表面与后表面底部的靠两侧位置均固定安装有卡扣(3)，四个卡扣(3)的底部均贯穿四个转接头(2)且延伸至转接头(2)的外部。


3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑益民，王逸晨，方旭，
申请(专利权)人：浙江诺益科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33